Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Правила принятия решений

Основное правило принятия решений заключается в построении на КУСУМ-карте V-маски и определении значимых изменений при выходе точек кривой КУСУМ за линии V-маски. Существуют три различных формы масок, они идентичны по принципу построения и действию:

-полная V-маска,

-усеченная V-маска

- параллельная маска.

Наиболее распространенная из них - усеченная V-маска.

Схематическое изображение усеченной V-маски или шаблона V-маски приведено на рисунке 1. Отрезки АВ и АС называют интервалами решений и обозначают Н, а линии BD, СЕ - разрешающими линиями.

Рисунок 1 - Шаблон усеченной V-маски

 

Обозначения:

σˆ - оценка стандартного отклонения.

Н = АВ = АС = 5σˆ - интервалы решений;

2 H = DF = FE = 10;

d = 10 - число выборочных интервалов;

СЕ и BD - разрешающие линии

Для удобства работы на местах с КУСУМ -картой применяют шаблон V-маски, который можно сделать из прозрачного пластика, плотной бумаги или пленки. На практике для построения шаблона от оси AF, проходящей параллельно горизонтальной оси КУСУМ - карты, откладывают отрезки Н = АБ = АС = 5σˆ, перпендикулярно AF. На расстоянии d = 10 выборочных интервалов влево от точки А перпендикулярно оси AF откладывают отрезки FD = FE = 10σˆ. Значения 5σˆ и 10 σˆ могут быть вычислены на основе значений и масштабного множителя.

 

Рисунок 2 -V-образная маска (шаблон):

Приведенный на рис.1 и 2 V-образный шаблон применим для обработки двусторонних контрольных карт кумулятивных сумм. При обработке односторонних карт кумулятивных сумм достаточно использовать только верхнюю или нижнюю половину шаблона с углом раскрыва, равным θ.

Рис. 3. Контрольная карта кумулятивных сумм с использованием V-маски

На карту накладывается шаблон в виде повернутой буквы V. От последней из нанесенных на карту точек откладывается величина d (рис.3), угол раствора маски 2Θ.

Шаблон применяют, помещая опорную точку А на любую нанесенную точку на контрольной карте. Рекомендуется выбирать последнюю нанесенную на карту точку, но это может быть и точка в любом предыдущем интервале. Если какая-либо из предшествовавших точек окажется вне наклонных разрешающих линий BD и СЕ (или их продолжений), то это сигнал о значимом отклонении процесса от целевого значения. Если вся кривая КУСУМ находится между лучами, то существенного сдвига нет. (рисунок 4).

Рисунок 4 –Пример использования КУСУМ карты с V-маской

Для проверки налаженности процесса сразу же после нанесения на контрольную карту кумулятивных сумм очередной точки (i Ci); на контрольную карту накладывают V-образный шаблон таким образом, чтобы точка О шаблона совпала с точкой (i Ci) на контрольной карте, линия ОР шаблона была параллельна оси абсцисс, и вырез на шаблоне был бы обращен влево (рис. 5). Если при этом все ранее нанесенные на контрольную карту точки оказываются в-образном вырезе шаблона, то процесс считается налаженным. Если хотя бы одна из предыдущих точек окажется вне выреза шаблона или же на линии выреза, то это означает разладку процесса и необходимость проведения его корректировки

Если точка на карте оказывается вне раствора маски, процесс считается статистически неуправляемым: наклон слишком велик.5

При этом, если точка оказалась ниже нижней линии маски, имеет место смещение на -Δ, выше верхней — на +Δ. По существу линии V-маски представляют собой верхнюю и нижнюю границы контрольной карты накопленных сумм.

 

Рисунок 5- Шаблон усеченной V-маски, наложенный на КУСУМ-карту (имеется указание на значимый сдвиг при Т = 15, = 2)

Процесс стабилен, если изменение накопленной суммы между двумя соседними мгновенными выборками не слишком велико.

В качестве примера рассмотрим, как осуществляется статистическое регулирование процесса с помощью контрольной карты кумулятивных сумм числа несоответствующих единиц продукции с-образным шаблоном.

.

Рисунок 6 Пример контрольной карты кумулятивных сумм числа несоответствующих единиц продукции с V-образным шаблоном

Как следует из рис..6, процесс находился в налаженном состоянии до взятия 19-й выборки, но после взятия 19-й выборки точка на карте, соответствующая 9-й выборке, оказалась за вырезом шаблона, и принимается решение о необходимости корректировки процесса.

Интерпретация карты кумулятивных сумм с применением маски не является единственно возможной. Другой вариант обработки данных — использование интервалов принятия решений (схема Пейджа). В этом случае вводятся две новые величины:

(*)

где kc - параметр карты.

На контрольные карты кумулятивных сумм с границами регулирования наносят, как и на контрольные карты Шухарта, контрольные и предупреждающие границы. В зависимости от характера изменения контролируемого параметра карта кумулятивных сумм может быть с одно- и двусторонними границами регулирования. Расстояние от ЦЛ карты, обычно совпадающей с осью абсцисс, до предупреждающей и контрольной границы определяется соответственно предупредительным интерваломи регулировочным интервалом h

Статистическое управление процессом с помощью контрольных карт кумулятивных сумм с границами регулирования заключается в следующем. Через определенные интервалы времени отбирают выборки заданного объема и вычисляют значение контролируемого параметра.До тех пор, пока значениянаходятся в пределах предупреждающих границ, процесс считается налаженным, и кумулятивные суммы не образуются. Вычисление кумулятивных сумм начинается с первого значения, которое больше, чемили меньше, чем. Вычисленные значения кумулятивных сумм наносят на контрольную карту, и точки, соответствующие последовательным выборкам, для наглядности соединяют прямыми линиями. Вычисление кумулятивной суммы прекращается, если ее значение:достигает или выходит за пределы контрольных границ. В этом случае процесс считается разлаженным и необходимо провести его корректировку;

Если x I меняет знак или оказывается равным нулю. В этом случае процесс считается налаженным, и образование кумулятивных сумм возобновляется, как тольковновь окажется большимили меньше.

Максимальные по модулю значения величин не должны превышать некоторого критического значения, поэтому, если суммы, определяемые формулами (*) начинают по модулю убывать, т.е проводить контроль не имеет смысла.

Рисунок 7-Контрольная карта кумулятивных сумм при использовании схемы интервалов принятия решений

Несомненным достоинством контрольных карт кумулятивных сумм является то обстоятельство, что их чувствительность к изменениям хода процесса (за исключением случаев очень малых и очень больших отклонений процесса) в несколько раз выше чувствительности контрольных карт Шухарта. Однако повышенная чувствительность таит опасность необоснованного вмешательства в ход процесса, подвергающегося влиянию только случайных воздействий. Действительно, если в какой-то момент времени появляется, например, постоянная погрешность измерения, приводящая к смещению значения контролируемого параметра, то контрольная карта Шухарта не отреагирует на это смещение, но зато на него моментально может отреагировать контрольная карта кумулятивных сумм. Следовательно, контрольные карты Шухарта менее чувствительны к малым возмущениям, но более устойчивы в отношении погрешностей измерения контролируемого параметра.

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Вычисление значений кумулятивных сумм | Пример. При анализе процентного содержания кремния в стальных образцах были получены следующие показатели
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-20; Просмотров: 516; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.016 сек.