Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Идея сигнатурного анализа

Сигнатурные анализаторы

Поиск неисправностей в МПС с помощью ЛА требует высокой квалификации операторов, использование дорогостоящей аппаратуры и значительных затрат времени - как на разработку тестовых процедур, так и на анализ реакции МПС. Но и при таких затратах локализовать место неисправности с точностью до элемента не всегда удается.

Поэтому ЛА, незаменимые при настройке МПС на этапе проектирования и макетирования, мало пригодны для использования на этапе производства и эксплуатационного обслуживания МПС.

Альтернативой ЛА может служить т.н. "сигнатурный анализатор" (СА). Метод сигнатурного анализа не требует высокой квалификации персонала и сложного оборудования. В то же время он позволяет быстро и точно отыскать отказавший элемент цифровой схемы.

ЛА позволяет контролировать схему на работоспособность в режиме сравнения реакции с эталоном. Чаще всего объем эталонной информации весьма велик (103..105 байт).

Для уменьшения размера эталона предпринимаются попытки применения различных методов сжатия информации. Можно, например, подсчитывать число переключений сигнала в контрольной точке (контроль по модулю 2), однако достоверность такого контроля очень низка, ибо любая ошибка четной кратности не обнаруживается, хотя объем эталона при этом - минимальный - 1бит на контрольную точку.

Другим путем сжатия контрольной информации является получение сверток по различным модулям m > 2. Чем больше m, тем выше достоверность контроля, но, с другой стороны, усложняется контрольная аппаратура, причем суммирование сопряжено с организацией цепи переноса, что ведет к снижению быстродействия контрольного оборудования.

Наибольшее распространение при сжатии длинных двоичных последовательностей получил т.н. "сигнатурный метод", сочетающий в себе высокое быстродействие, простоту контрольного оборудования и высокую достоверность контроля.

Процедура сжатия последовательности (получение сигнатуры) описывается следующим выражением:

xk ´ G(x) = Q(x)´P(x) Å R(x),

где:

G(x) - двоичная последовательность, поступающая с проверяемого входа;

(x) - порождающий полином, определяющий схему обратных связей;

Q(x) - частное;

R(x) - остаток;

k - разрядность остатка.

 
 

Технически сигнатурный анализатор реализуется на базе сдвигового регистра и многовходового сумматора по модулю 2 (Рис. 12.7).

 

Рис. 12.7. Сигнатурный анализатор

В общем случае вероятность P обнаружения ошибки в последовательности длиной n при использовании k-разрядного сдвигового регистра выражается формулой:

P = 1 - (2 n-k - 1)/(2n - 1)

для всех n > k. При n <= k вероятность обнаружения ошибки P = 1.

Процедура сигнатурного анализа состоит в следующем:

(1) На заведомо исправную схему подают тестовое воздействие, реакция на которое сворачивается в виде сигнатуры в каждой контрольной точке и фиксируется в технической документации на изделие (например, на принципиальной схеме каждому выходу каждого элемента соответствует шестнадцатеричная константа).

(2) Для отыскания неисправности в процессе эксплуатации системы (наиболее вероятны одиночные отказы) на вход системы подается тестовое воздействие (то же, что и при получении эталонных сигнатур) и определяются сигнатуры во всех контрольных точках - последовательно от выходов схемы ко входам. Полученные сигнатуры сравниваются с эталонными и если на выходе элемента неправильная сигнатура, а на всех его входах - правильные, то этот элемент можно считать неисправным (или его выходную цепь).

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Логические анализаторы | Внутрисхемные эмуляторы
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-14; Просмотров: 277; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.013 сек.