Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Выбор длины участка измерения




Ra, мкм Базовая длина l, мкм Длина участка измерения L, мм, не менее
От 0,006 до 0,02 0,08 0,4
" 0,02 " 0,32 0,25 1,6
" 0,32 " 2,5 0,8 4,0
" 2,5 " 10,0 2,5 10,0
" 10,0 " 80,0 8,0 32,0

 

 

При измерении по профилограмме параметра Ra дискретным способом в тех случаях, когда другими сос­тавляющими погрешности измерения по сравнению с погрешностью от ограниченности длины измерения мож­но пренебречь, длину участка измерения выбирают в зависимости от заданной допустимой относительной по­грешности следующим образом.

Используя значение Х1 (п. 1.4), по табл. 5 определяют коэффициент A0.

22. Выбор значений коэффициента А0

А0 0,0067 0,0069 0,0074 0,0078 0,0067 0,0069 0,0071
^1 0,1 0,3 0,6 0,85 1,2 1,6 1,8
 

 

Для заданной допустимой относительной погрешности измерения е, доверительной вероятности в и най­денных, значений величий Хк (п. 1.4) и А0 определяют необходимую длину участка измерения на поверхности по формуле

где tp - квантиль порядка в, определяемый по табл. 6.

23.

 
 

Значения кванители tp

в 0,680 0,870 0,950 0,988 0,997
Ч 1,0 1,5 2,0 2,5 3,0

Число базовых длин q определяют по формуле

 

 

Если q - не целое число, то его округляют до ближайшего большего целого.

Длина участка измерения на профилограмме определяется по формуле

Ln = LU.

6. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ Rz, Rmax, S ПРИ ПОМОЩИ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРОВ И РАСТРОВЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МИКРОСКОПОВ С ВИЗУАЛЬНЫМИ ОКУЛЯРАМИ ВИНТОВЫМИ МИКРОМЕТРАМИ

При измерении параметров Rz, Rmax, S в поле изображения прибора одна из нитей перекрестия должна быть установлена параллельно направлению полос (интерференционных, муаровых), другая - параллельно направ­лению неровностей. Параметры шероховатости определяются в пределах базовой длины.

6. Для нахождения значения параметра Rz при измерении растровым микроскопом и микроинтерферо­метрами МИИ-4, МИИ-5, МИИ-10 (с преобладанием интерференции равного наклона) измеряют ординаты пя­ти наибольших максимумов профиля himax и пяти наибольших минимумов h,mm в делениях барабана микромет­ра.

Измеряют ширину полосы (интерференционной, муаровой) е в делениях барабана микрометра.

 
 

Значение параметра Rz находят по формуле

где с1 - цена интерференционной, муаровой полосы прибора, мкм.

6. При измерении микроинтерферометрами МИИ-9, МИИ-12 (с преобладанием интерференции в клине) значение параметра Rz находят по формуле


 

- цена интерференционной полосы; X - длина волны источника света, мкм; U0 - апертурный

угол; sin U0 - апертура освещающего пучка.

6. Для нахождения значения параметра Rmax при измерении растровым микроскопом и микроинтерферометром МИИ-4, МИИ-5, МИИ-10 измеряют ординаты наивысшей точки профиля hmax и наинизшей точки профиля hmin в делениях барабана микрометра.

Измеряют ширину полосы (интерференционной, муаровой) е в делениях барабана.

 
 

Значении параметра Rmax находят по формуле

6.

 
 

Значение параметра Rmax при измерении микроинтерферометрами МИИ-9, МИИ-12 находят по фор­муле

6. Значение параметра S при измерении растровым микроскопом и любым микроинтерферометром нахо­дят следующими способами:

а) нить перекрестия последовательно совмещают с соседними максимумами профиля.

Измеряют абсциссы максимумов профиля S. в делениях барабана микрометра.

 
 

Значение параметра S находят по формуле

где п - число шагов неровностей профиля по вершинам;

измерении абсцисс, мм; Гоб - увеличение объектива прибора; б) значение параметра S находят в соответствии с п. 5.5.6.

7. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРА Rz, Rmax, S ПРИ ПОМОЩИ ПРИБОРОВ СВЕТОВОГО




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-04-25; Просмотров: 491; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.013 сек.