Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Надежность полупроводниковых приборов




Надежность реле.

Из-за относительной сложности и налаживания подвижных частей надежность промышленных реле намного меньше надежности резисторов и конденсаторов. Отказы возникают из-за неисправности в контактной системе прих-ся 50 %, в обмотках 20, 30 отказы механизмов.

Надежность реле ж.д. автоматов намного больше резисторов и конденсаторов

λ = (10-7/ 10-9)

Характерные отказы:

-обгорание

-загрязнение

-сваривание и залипание контактов

-разлегулирвка, поломка и ослабление контактов пружин.

-пробои отрывы обмоток

-уход параметров за пределы поля допуска.

 

Для реле и других коммутирующих устройств вместо показателей, связанных со временем работы, обычно используются показатели, связанные с числом срабатываний циклов.

В этом случае наработка на отказ:

λ = число отказов/число срабатываний (интенсивность)

То = число срабатываний/число отказов (наработка)

Вероятность безотказной работы представляет собой определенное число отказов

Если известна средняя скорость срабатывания, то легко перейти к временным параметрам

Если То = 105 и u Ucp перек = 10 циклов / час, тогда То = 105 / 10 = 104 ч.

На надежность реле оказывает целый ряд факторов, из который важнейший является электрическая нагрузка на контакт.

Кр н = Iф /Iн (2.17)

 

где

Iф – фактический ток проходящий через контакт

Iн – номинальный ток для каждого реле он нормируется

Интенсивность отказов в зависимости Кн и температуры определятся

 

m λр (ν)= (λро ∑ α i + Δ λm) α t i=1   (2.18)

 

где

λо интенсивность для нормальных условий

αi коэффициент учитывающий нагрузку на контакт

αt коэффициент учитывавший влияние температуры на надежность

Δ λ дополнительная интенсивность отказов, зависит от числа срабатываний

реле в час (n) и N – дополнительное число срабатываний по техническим условиям.

Для упрошенного расчета используется формула

λр (ν)= λро α i α t

Рекомендации по повышению надежности.

1) Следует применять облегченный коэффициент нагрузки Кн< 0.7

2) Оеспечить искрогашение на контактах

3) Применять реле герметизируешего типа при работах в условия пониженного давления или повышенной влажности.

4) Реле работающие с малой нагрузкой должны иметь неокисляющие контакты

 

Полупроводниковые приборы чувствительны к перегрузкам как по I так и по U

Для германиевых диодов и транзисторов интенсивность лежит в интервале.

λо= (1.5 …… 3) * 10-6 1/ч

Для кремневых λо = 1*106 1/r

Для микромодулей и микросхем λо = 0.01 *10-6 1/ч

Отказы к полупроводниковых приборов бывают постепенно и внезапно для синелевых диодов характерны постепенные отказы. Для транзисторов чаще всего внезапные отказы, пробой коротким замыканием и реже всегообрыв обрыв, перегорание соединений.

Постепенно отказы в транзисторах характеризуются понижению Кус по току и ростом неуправляемого обратоного тока.

Полупроводниковые приборы чувствительны к перегрузкам, особенно точечные, они выходят из строя за тысячные доли секунд. Причина этих отказов малая тепловая инертность.

Причины перегрузок

-Переходные процессы

-Кратковременное повышения U

-Изменения параметров других приборов

 

КVTн = Рф / Рн (для транзисторов) (2.19)

где

Рф фактическая рассеиваемость на мощности на коллекторе

Рн допустимая мощность, которая может рассеяна на коллекторе

Надежность полупроводниковых приборов также сильно зависит от температуры, так для германиевых диодов при температуре окружающей среды больше 20˚С предельно допустимая мощность, рассеиваемость на коллекторе определяется следующим образом.

Ркmax = 90˚С – t корпуса˚С / 2˚С/Вт (2.20)

 

Кроме того, при повышении температуры растет Iобр он увеличивается в 2 раза на каждые 10˚С, то есть имеет экспоненциальное значение

Повышенная влажность приводит к коррозии. Попадание влажности на полупроводниковые материал, выводит прибор из строя, особенно сильно влияет на надежность радиации.




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-04-30; Просмотров: 1672; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.014 сек.