Теоретическая часть. Обработка результатов многократных измерений

Обработка результатов многократных измерений

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 5

Требования к отчету

Отчет должен содержать:

- титульный лист;

- название и цель работы;

- краткое изложение основных теоретических вопросов;

- краткое описание приборов;

- таблица результатов выполнения задания.

Цель и задачи работы

Цель работы состоит визучении методики статической обработки результатов многократных измерений; получении практических навыков измерения и оценки точности изготовления партии резисторов по их омическому сопротивлению.

Задачи работы

- изучить методику измерения омического сопротивления партии резисторов;

- изучить алгоритм обработки результатов многократных измерений;

- измерить омического сопротивления резисторов;

- научиться оценивать точность изготовления партии резисторов и делать заключение о годности;

- выполнить отчет о работе (прил. 5).

Задача обработки результатов многократных измерений заключается в нахождении оценки измеряемой величины и доверительного интервала, в пределах которого находится ее истинное значение в соответствии с ГОСТ 8.207-76 «ГСИ. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений. Общие положения» [2].

В процессе обработки результатов наблюдений необходимо последовательно решить сле­дующие основные задачи:

- определить точечные и интегральные оценки закона распре­деления результатов измерений (по формулам 1 и 2);

- исключить «промахи» (по одному из критериев);

- устранить систематические погрешности измерений;

- оценить закон распределения по статистическим критери­ям;

- определить доверительные границы случайной погрешности результата измерения;

- записать результат измерения.

Колебание измеренных величин омического сопротивления R партии резисторов ∆= R _max– R _min, определяется погрешностью их изготовления ∆ ₁ и погрешностью их самого процесса измерения ∆ ₂, включающей в себя погрешности самого прибора, метода измерения, снятия показаний со шкалы и т.д. В этом случае [6].

Поскольку погрешность ∆ может быть оценена дисперсией σ², ∆ ₁ – дисперсией S ², ∆ ₂ – дисперсией δ², то можно записать σ²= S ²+δ².

Дисперсию ошибки самого процесса измерения δ² можно получить при многократном измерении омического сопротивления одного и того же резистора. Чувствительность данных современных приборов такова, что показания прибора при многократном измерении одного резистора не изменяются. Принимаем погрешность процесса измерения ∆ ₂=0.

Дисперсию совокупной ошибки σ²получим при измерении омического сопротивления партии резисторов. После этого можно оценить точность изготовления резисторов по омическому сопротивлению [17].

Дата добавления: 2015-04-30