Отклонение от плоскостности и методы его измерения

Рельефа поверхности полупроводниковых пластин и структур

Измерение отклонения от плоскостности и контроль

Отклонение от плоскостности Δ является одним из важнейших геометрических параметров, значение которого определяет качество воспроизведения топологического рисунка фотошаблона при проведении операции фотолитографии. По определению отклонение от плоскостности есть наибольшее расстояние от точек реальной поверхности до прилегающей плоскости в пределах нормируемого участка (рис. 7.7, а). Частными видами отклонения от плоскости являются выпуклость и вогнутость поверхности. Эти виды дефектов пластин возникают из-за механических напряжений, завалов края пластин при полировке, из-за брака при наклейке пластин и других причин. В микроэлектронике практический интерес представляет контроль формы поверхности в случаях, когда пластина находится в прижатом и свободном состояниях. Величина Δ, измеренная на пластине в свободном состоянии, включает в себя составляющие, характеризующие как механическую деформацию пластины, так и качество обработки контролируемой

поверхности, и поэтому может достигать больших значений. Для четкого воспроизведения топологического рисунка на поверхности пластины параметр Δ должен быть по возможности минимальным, не превышающим глубину резкости оптической системы проекционной аппаратуры. Поэтому при проведении операций экспонирования для устранения механических деформаций пластина прижимается нерабочей стороной к специальному столу с помощью вакуумного прижима. В этом случае параметр Δ определяет качество обработки поверхности пластины, которое может характеризоваться очень малыми значениями Δ.

Рис. 7.8. Интерференционные линий равной высоты зазора

Для контроля отклонения от плоскостности широко используются две группы методов, отличающихся по своему физическому принципу — интерфе методы и методы, использущие щуповые датчики пневматиские, индные, емкостные, акустические). рецоные (

Рис. 7.9. Схема призменного интерферометра с вакуумным присосом:

1 — образец; 2 — эталонная призма; 3 — экран (матовое стекло); 4 — лазер ЛГ-56; 5, 6 — коллиматоры; 7 — котировочный винт; 8 — столик с вакуумным присосом

Рис. 7.10. Схема лазерного телевизионного интерферометра УКП-2:

1 — лазер ЛГ-56; 2, 3 — коллиматор; 4 — светоделительное зеркало; 5 — эталонный клин; 6 — образец; 7, 8 — фоторегистрация; 9 — отклоняющее зеркало; 10 — объектив; 11 — передающая телевизионная камера; 12 — видеоконтрольное устройство

В некоторых зарубежных технических изданиях используют другое определение отклонения от плоскостности. При проведении измерений с помощью щуповых датчиков путем регулировки рабочего стола с прижатой к нему контролируемой пластиной предварительно выставляется некоторая базовая плоскость, часто называемая фокальной (рис. 7.7, б). При сканировании датчика вдоль поверхности пластины регистрируются отклонения рельефа поверхности со знаками «+» и «—» относительно этой фокальной плоскости. За отклонение от плоскостности принимают максимальное из измеренных отклонений Δ _F с соответствующим знаком, обозначаемое FPD (Focal Plane Deviation). В некоторых случаях отклонение от плоскостности характеризуют величиной Δ _T, равной максимальному размаху колебаний на регистрируемом датчиком профиле реальной поверхности и обозначаемой TIR (Total Indicator Reading). Параметры Δ и Δ _T по своему определению близки друг к другу.

Принцип метода панорамной интерференции основан на интерференции монохроматического света в воздушном зазоре, образованном контролируемой поверхностью пластины и эталонной гранью оптического элемента сравнения (стеклянного клина рис. 7.10 или призмы рис. 7.9). Получаемая интерференционная картина представляет семейство чередующихся линий равной высоты зазора (рис. 7.8). Регулировкой стола, на котором установлена пластина, добиваются наименьшего числа полос на экране, что эквивалентно прилегающей плоскости параллельно эталонной грани. На интерференционной топограмме идентифицируются выступы и впадины и выбирается из них пара экстремальных точек, разделенных наибольшим числом интерференционных полос. Это число полос определяет значение неплоскостности Δ. При использовании шуповых датчиков снимаемый с них полезный сигнал пропорционален расстоянию между торцевой поверхностью датчика и поверхностью контролируемой пластины. При сканировании датчика вдоль поверхности пластины определяются Δ _F и Δ _T.

Дата добавления: 2015-05-29