Бадиян Е.Е., Тонкопряд А.Г., Шеховцов О.В., Шуринов Р.В., Зетова Т.Р

ОПТИЧЕСКАЯ МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ И ИХ ИЗМЕНЕНИЯ В ПРОЦЕССЕ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ

Харьковский национальный университет имени В. Н. Каразина, Украина

[email protected]

В [1–4] разработан принципиально новый способ определения ориентацион- ных изменений в поликристаллических образцах в процессе пластической дефор- мации. Основой метода служит, обнаруженный авторами, эффект дифракции бело- го света на квазипериодической структуре поверхности образца, возникающей по- сле химического травления. Использование специального освещения, цифровой фотокамеры с высокочувствительной матрицей и компьютера позволяет регистри- ровать, так называемые, цветовые ориентационные карты поверхности поликри- сталлических образцов, где цвет определяется характером квазипериодической структуры и ее ориентацией относительно направления освещения. Таким образом, изображение поверхности отдельных, различным образом ориентированных, зерен, имеющей вследствие анизотропии различный характер квазипериодического рель- ефа, окрашивается в различный цвет. Изменение в процессе пластической дефор- мации ориентации всего зерна или его частей (например, при образовании блочной или переориентированной структуры), приводит к изменению цвета их изображе- ния. Анализ этого изменения в цветовом пространстве RGB позволяет проследить за ориентационными изменениями, происходящими в процессе деформирования образца с периодом 0,03 с.

Результаты, полученные в настоящей работе, показывают, что использование для анализа цветовых ориентационных карт поверхности образца вместо цветового пространства RGB, содержащего 16,7 млн. оттенков, цветовых пространств R, G и B, каждое из которых содержит 255 оттенков, позволяет надежно определить сред- ний размер блоков или переориентированных фрагментов, распределение их по размерам, а также изменение этих характеристик в процессе деформирования об- разца.

1. Патент 93021 Україна, МПК G01N 21/00, G01N 21/17, G01N 33/20. Спосіб визначення кристалографічної орієнтації зерен на поверхні полікристалічного зразка / Бадіян Є.Ю., Тонкопряд А.Г., Шеховцов О.В., ШуріновР.В., ЗєтоваТ.Р.; – № а 2010 02923; заявл. 15.03.10; опубл. 27.12.10, Бюл. №24.

2. Патент 89743 Україна, МПК G01В 11/16. Спосіб контролю орієнтаційних змін у кристалічних матеріалах in situ в процесі зовнішнього впливу / Бадіян Є.Ю., Тонкопряд А.Г., Шеховцов О.В., Шурінов Р.В.; – № а 2009 06455; заявл. 22.06.09; опубл. 25.02.10, Бюл. №4

3. E.E. Badiyan, A.G. Tonkopryad, O.V. Shehovtsov, R.V. Shorinov, T.R. Zetova. Optical Technique for the In Situ Study of Orientation and Structure Changes Accompanied the Plastic Deformation of Polycrystalline Specimens of Aluminum // Inorganic Materials. - 2011. -№15. -p. 1663-1667.

4. Бадиян Е.Е., Тонкопряд А.Г., Шеховцов О.В., Шуринов Р.В., Зетова Т.Р. Оптическая методика исследования in situ ориентационных и структурных изменений, сопровож- дающих пластическую деформацию поликристаллических образцов // Заводская лабо- ратория. Диагностика материалов. – 2010. – Т. 76. – № 8. – С. 34 – 38.

Дата добавления: 2017-01-14