Спектроскопия

Рис. 21а. Рис. 21б.

Конечные реплики

Образец с напы- Полимерная

Полимером

Образец Образец, покрытый

ленной пленкой реплика с напы-

ленной пленкой

(См. рис. 21 а). Иногда, при изучении образцов твердых тел (металлов, керамики, стекол) реплику делают сначала из полимера,а затем из металла, углерода.(См. рис.21 б).

Метод реплик позволяет получать точную топографию поверхности образца.

Сканирующая электронная микроскопия, работающая на отражение позволяет получать увеличение от 20 до 100000 раз. Лучше всего результаты получаются при увеличении в 20000-50000 раз. При этом достигается разрешение 6-10 нм (60-100 Ангстрем). Устройство микроскопа показано на Рис.22.

Изучаемая поверхность непроводящих образцов (например, поверхность сколов, получаемых при ломке охлажденных образцов полимеров в жидком азоте) зачастую статически заряжена, что искажает получаемое изображение. Для предотвращения этого, на поверхность наносят тонкий (10-50 нм) полупроводящий слой из золота, серебра. Столик с образцом можно двигать и получать трехмерное пространственное изображение. Сканирующую электронную микроскопию используют для изучения морфологии полимеров, смесей полимеров, микроструктуры двухфазных полимеров, полимерных сеток, шероховатых и разрушенных поверхностей, клеев, клеевых швов, наполненных и армированных пластиков, органических покрытий, определения качества изделий из пластиков, получаемых экструзией или прессованием.

Электронная

пушка (1-30 кВ)

Первая апертура

Первая конденсорная

линза

Вторая апертура

Вторая конденсорная

линза

Третья апертура

Сканирующая

катушка

Конечный конденсор

Конечная апертура диаметр падающего на образец пучка 5-10 нм.

Образец

Коллектор электронов

(В коллекторе детектируются электроны, фотоны или рентгеновские лучи.).

Рис. 22. Схема сканирующего электронного микроскопа (работающего на отражение).

Дата добавления: 2013-12-12