Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Вимірювання індуктивності

Для вимірювання індуктивності Lх використовують схему, зображену на рис. 15. Зміною частоти генератора ВЧ домагаються резонансу в контурі і обчислюють значення вимірюваної індуктивності за формулою:

,

де, fгр - резонансна частота контуру, МГц; Lх - вимірювана індуктивність, мкГн, С - повна ємність контуру, пФ;

Так як в загальну ємність контура С входить і власна ємність вимірюваної котушки індуктивності, то вимірювання слід проводити на робочій частоті (на якій буде працювати котушка в проектованій схемі).

З формули випливає, що якщо зафіксувати значення частоти генератора, то шкалу зразкового конденсатора контуру можна переписати в діючих значеннях вимірюваних індуктивностей Lхд.

Резонансним методом можна виміряти і власну ємність котушки індуктивності. Аналітичний метод визначення власної ємності котушки Ск полягає у визначенні двох резонансних частот контура, які відповідають двом значенням зразкового конденсатора цього контуру:

.

Розділивши вирази отримаємо:

,

звідси:

.

З формули випливає, що для підвищення точності вимірювання власної ємності котушки індуктивності необхідно брати граничні значення зразковї ємності, тобто: С01 = С0.макс та С02 = С0.мін.

4. Основні параметри діодів. Вимірювання основних параметрів діодів

Діоди - це напівпровідникові прилади, що мають електронно-дірковий перехід (р-n - перехід) у вигляді границі між шарами електронної та діркової провідності, створеними в єдиній пластині напівпровідника. Такий перехід має вентильні властивості, тобто створює малий опір прямому струму і великий - зворотному.

При найпростішій перевірці діодів будь-яким омметром вимірюють прямий і зворотний опір, які у справних діодів відповідно становлять десятки Ом і сотні - тисяч килоом. Відношення зворотного і прямого опорів, яке характеризує випрямні властивості діодів, називають коефіцієнтом випрямлення .

Вимірюють параметри і знімають характеристику діодів за схемою, показаною на рис. 16. Низьковольтну напругу від 0 до 1,5 В для вимірювання прямого струму nf високовольтну від 0 до 250 В для вимірювання зворотного регулюють потенціометрами R. Для одночасного перемикання напруг і полярності підклю-чення діода VD, який випробовується, служить перемикач П, а для обмеження струму в ланцюзі при можливому пробої діода - резистори. Прямий струм вимірюють багатомежевим миліампермет-ром, а зворотний - мікроамперметрами і відповідно з межами 100 і 20 мкА. Знімати шунтуючі перемички і включати мікроамперметри (спочатку перший, а потім другий) можна тільки тоді, коли покази міліамперметра на першій межі близькі до нуля. Після відліку перемички включають.

 
 

Випробувачаем діодів і транзисторів Л2-23 рис. 17, вимірюють зворотний струм і пряме падіння напруги . Схема, рис. 18, а, живиться від перетворювача напруги ПН У положенні перемикача «U» встановлюють паспортне значення зворотної напруги діода на шкалі вольтметра, що складається з вимірювача В та додаткового резистора Rд, потім переводять перемикач в положення «І» та опосередковано визначають зворотний струм діода VD по падінню напруги на шунтовому резисторі Rш, до виводів якого підключений вимірювач В. Схема, рис. 18, б, живиться від внутрішнього або зовнішнього джерела струму ДС. У положенні перемикача «І» встановлюють на шкалі вимірювача В, підключеного паралельно одному з шунтових резисторів Rш, паспортне значення прямого струму діода, потім переводять перемикач в положення «U» і вимірюють пряме падіння напруги на діоді VD вольтметром, що складається з вимірювача В та додаткового резистора Rд.

Стабілітрони - кремнієві діоди, призначені для стабілізації постійної напруги при значних змінах струму, який проходить через них. Робочою є ділянка пробою зворотної гілки вольтамперной характеристики стабілітрона (рис. 19). При наявності зовнішнього резистора, огранічівающего струм і запобігає перегрів, електричний пробій стабілітрона не небезпечний. Основний параметр стабілітронів - напруга стабілізації майже не змінюється призначній зміні струму стабілізації від , при якому виникає стійкий пробій, до , яка обмежена допусгшиим перегрівом. Ефективність стабілізації напруги тим вище, чим менше динамічний опір стабілітронів .

Напруги і струми стабілізації вимірюють за схемою, показаною на рис. 16. При цьому стабілітрон включають в зворотному напрямку і збільшують зворотну напругу до настання електричного пробою. Навантажувальний резистор з обраним для даного стабілітрона опором підключають до входу електронного вольтметра, сталість показів якого свідчить про роботу стабілітрона в режимі стабілізації напруги.

5. Розкид параметрів транзисторів. Основні параметри транзисторів

Висока якість і надійність радіоелектронної апаратури багато в чому залежать від параметрів і експлуатаційної надійності використовуваних в ній напівпровідникових приладів. Тому вимірювання параметрів транзисторів має велике практичне значення як при їх виготовленні, так і при експлуатації.

Виготовлення напівпровідникових приладів це складний технологічний процес. Великі технологічні труднощі викликає необхідність очищення від будь-яких домішок вихідних напівпровідникових матеріалів (германій, кремній, арсенід галію і т.д.), які визначають майбутні параметри та характеристики приладів. Складність отримання матеріалів з точно заданими властивостями зумовлює можливість появи розкиду параметрів в виготовлених напівпровідникових приладах. Однак значно більше зумовлює цей розкид процес виробництва. Мікроскопічні розміри виробів ускладнюють контроль геометрії р-n - переходів приладів. Незначні концентрації домішок на поверхні кристалу значно змінюють основні параметри приладу Тому значення основних параметрів напівпровідникових приладів одного і того ж типу неоднакові І знаходяться в деякому допустимому інтервалі значень. Цей інтервал, що характеризує допустимий розкид параметрів, обмежується мінімальним і максимальним значеннями, що вказуються в довіднику; окремі параметри мають одностороннє обмеження.

В залежності від галузі використання, умов експлуатації, схеми включення і т.д. транзистори характеризуються великим числом параметрів. Правильний вибір необхідних параметрів дозволяє забезпечити оптимальний режим роботи транзистора в кожному конкретному випадку. Ці параметри ділять на наступні групи.

Класифікаційні параметри транзисторів. Ці параметри виділяють в технічних умовах або довідниках на транзистори. Так, наприклад, малопотужні низько- і середньочастотні транзистори класифікують за коефіцієнтом підсилення по струму і граничній частоті посилення або генерації.

Параметри постійного струму. Вони визначають значення некерованих струмів транзисторів і залежать від температури і прикладених напруг. До цих параметрів відносяться:

зворотний струм колектора Ікб0 - струм через перехід колектор - база при відключеному емітері і заданій напрузі на колекторі. Метод вимірювання цього струму пояснюється схемою рис. 20;

зворотний струм емітера Іеб0 - струм через перехід емітер - база при відключеному колекторі і заданій напрузі на емітері. Метод вимірювання цього струму пояснюється схемою рис. 21;

зворотний струм колектор - емітер Ікбк - струм в ланцюзі колектора при короткозамкнутих виводах емітера і бази, тобто при нульовій напрузі між базою і емітером, та заданій зворотній напрузі колектор - емітер. Метод вимірювання цього струму пояснюється схемою рис. 22.

Параметри малого сигналу (диференціальні параметри). Вони характеризують роботу транзисторів в підсилювальних схемах. Вимірювання цих параметрів проводиться при значеннях змінних струмів і напруг, малих в порівнянні з постійними струмами і напругами. Сигнал прийнято вважати малим, якщо при збільшенні змінного струму або напруги в два рази значення вимірюваного параметра залишається постійним в межах основної похибки вимірювання. Параметри малого сигналу сильно залежать від режиму вимірювань, тобто від вибору початкового зсуву, що пояснюється нелінійністю характеристик транзисторів.

Параметри малого сигналу зазвичай вимірюють в лінійних режимах, що відповідає схемі заміщення транзистора у вигляді лінійного чотириполюсника, і тому вони є параметрами лінійного чотириполюсника.

Для такого чотириполюсника можна скласти три системи рівнянь параметрів, з яких найбільш широко використовуваною є система h – параметрів. Параметри цієї системи виражаються для схеми СЕ таким чином: h 11е - вхідний опір; h 12е. – коефіцієнт зворотного зв’язку по напрузі; h 21е. – коефіцієнт підсилення за струмом; h 22е. – вихідна провідність.

Параметри великого сигналу. Ці параметри характеризують роботу транзистора в нелінійних режимах, при яких струми та напруги між його виводами змінюються в широких межах.

Основні параметри граничних режимів роботи транзисторів. До цих параметрів відносяться:

максимальна потужність, що розсіюється транзистором, Рк mах;

максимальний струм колектора Ік mах та ін.

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Вимірювання ємності | Загальні вказівки
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2013-12-13; Просмотров: 4076; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.015 сек.