Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Положение уровня Ферми и концентрация свободных носителей заряда в собственных полупроводниках

Положение уровня Ферми в собственных п/п можно найти из условия равенства количества электронов в зоне проводимости ni количеству дырок в валентной зоне pi:

где индекс i – обозначает принадлежность к собственному п/п.

Приравняв n (выр.16) к p (выр.19), и используя EFi – EV = Eg – (Ec – EFi), получим:

Отсюда

или

За счет того, что mp ≠ mn,уровень Ферми несколько сдвинут относительно середины запрещенной зоны. Если бы mp = mn, то уровень Ферми был бы расположен точно посередине запрещенной зоны. Как видно из (21), при T=0 он расположен посередине запрещенной зоны. При T > 0 и mp > mn уровень Ферми сдвигается вверх. Поскольку, как правило, разница между mp и mn небольшая, то этим сдвигом часто пренебрегают. Тогда Ec – EFi = EFi – EV = Eg/2.

 

 

Получим концентрацию свободных носителей в собственном п/п:

Отсюда видно, что концентрация носителей заряда в собственном п/п определяется шириной запрещенной зоны (Eg) и температурой. Причем зависимость ni (или pi) от температуры очень резкая. Так, для Eg = 0,66эВ, увеличение температуры от 100 до 600К приводит к повышению ni на 17 порядков.

Прологарифмируем (22):

Так как зависит от температуры гораздо слабее, чем 1/T, то график зависимотсти ln(ni) от 1/T представляет собой приблизительно прямую линию с угловым коэффициентом – Eg/2k.

 

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Концентрация электронов и дырок в полупроводнике | Донорный полупроводник
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2013-12-13; Просмотров: 747; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.008 сек.