Принципы диагностирования устройств и узлов

Показатели систем технического диагностирования

Классификация видов контроля

Расчет основных параметров АК

а) Средняя продолжительность стандартной процедуры проверки технического состояния ОК.

Т_СП = n* h _k, (3)

где n – число проверок;

h _k – среднее значение оперативной трудоёмкости одной проверки, чел. – ч;

б) Коэффициент трудоемкости контроля

К_ТРК= t_О / (t_О + t_В), (4)

где t_О – среднее время на выполнение основных операций при контроле, т. е. время на получение и переработку информации, время на принятие решения.

t_В – время на выполнение вспомогательных операций при контроле (обеспечение доступа к контрольным точкам (КТ), подсоединение контрольно-измерительной аппаратуры (КИА), демонтаж составных частей при контроле);

в) Коэффициент унификации устройств сопряжения системы и её основных частей

К_У.С. = N_У/ (N_У + N_Н), (5)

где N_У - количество унифицированных УС;

N_Н – количество неунифицированных УС.

г) Коэффициент демонтажа при контроле

К_Д = М_Д / (М_Д + М_Н), (6)

где М_Д – количество составных частей, которые необходимо демонтировать при контроле;

М_Н – количество составных частей, которые не требуется демонтировать при контроле.

д) Коэффициент унификации используемых сигналов

К_УИС = δ_В / (δ_В + δ), (7)

где δ_В – количество вновь вводимых типономиналов сигналов;

δ – количество типономиналов сигналов, используемых в АК, заимствованных из аналогичных образцов.

а) По способу физического воздействия на РЭС:

1) визуальный;

2) электрический;

3) механический;

4) термический.

б) По использованию технических средств

1) внешний;

2) внутренний.

в) По применению на этапах жизненного цикла:

1) входной;

2) производственный;

3) эксплуатационный.

г) По информации о состоянии ОК:

1)проверочный;

2) диагностический.

д) По способу организации:

1) тестовый;

2) функциональный.

с) Информация о «годности» ОК:

1) параметрический;

2) допусковый.

Параметры радиоэлектронной аппаратуры (РАЭ) как объекта диагностирования можно условно разделить на группы, которые характеризуют:

а) потребности блока в диагностировании:

б) диагностируемость блока;

в) конструктивную приспособленность блока к диагностированию и контролю.

Показателями объектов диагностирования (ОД) первой группы являются:

а) Т_Д – периодичность проведения диагностирования;

б) τ_Д – среднее время проведения диагностирования.

Под диагностируемостью РЭА понимается совокупность параметров, допусков на параметры, определяющих техническое состояние изделия.

Важнейшим показателем диагностируемости изделия является коэффициент полноты проверки работоспособности

К_ПП = n_К / n₀, (8)

где n_К – число диагностических параметров;

n₀ – число параметров технического состояния изделия, использование которых обеспечивает методическую достоверность проверки.

Второй показатель диагностируемости – поиск места отказа характеризуется глубиной поиска дефекта.

Операции диагностирования по определению работоспособности изделия и поиску места отказа характеризуются глубиной поиска дефекта.

Операции диагностирования по определению работоспособности изделия и поиску места отказа характеризуются следующими показателями:

L - длина теста диагностирования, определяется числом элементарных воздействий;

Р_Д – вероятность ошибки диагностирования, т.е. вероятность того, что работоспособный объект признается неработоспособным.

Конструктивная приспособленность РЭА к проведению диагностирования и контроля характеризуется следующими показателями:

С_Д – средняя оперативная стоимость диагностирования;

К_УУС – коэффициент унификации устройств сопряжения со средствами диагностирования:

К_УУС = N_У / N₀ , (9)

где N_У – число унифицированных устройств сопряжения;

N₀ – общее число устройств сопряжения.

К_ТД – коэффициент трудоемкости подготовки изделия к диагностированию:

К_ТД = W₀ / W_В, (10)

где W₀ – основная трудоёмкость диагностирования;

W_В – трудоёмкость подготовки к диагностированию.

К_ИС – коэффициент использования специальных средств диагностики

К_ИС = (С_СД – С_ССД) / С_СД, (11)

где С_СД – объём серийных средств диагностики;

С_ССД – объём специальных средств диагностики.

Главной характеристикой совокупности диагностируемых параметров должна быть чувствительность к изменению объектов диагностики (ОД).

Процесс выбора совокупности диагностических параметров можно разделить на следующие этапы:

а) определение множества состояний ОД - S;

б) выбор совокупности диагностируемых параметров U(S) по заданному максимальному коэффициенту полноты проверки К_{ПП MAX} и чувствительности к изменению состояния под действием i-го параметра (dU(S_I) / dS) _MAX;

в) минимизация совокупности диагностируемых параметров U(S);

г) синтез рациональных алгоритмов проверки работоспособности и поиска места дефекта (отказа);

д) установление рациональных допусков на нормы технических параметров.

Известные методы диагностирования можно разделить на три группы:

а) структурное диагностирование (функциональный контроль);

б) поэлементное диагностирование (внутрисхемное диагностирование);

в) комбинированное диагностирование (поэлементно – структурное).

При структурном диагностировании осуществляется тестирование ОД в целом. При этом на входы ОД подаются тестовые воздействия, а также на выходах ОД или в специальных внутрисхемных контрольных точках проверяется правильность выполнения функции, реализуемой контролируемой схемой. О годности ОД судят по разности между эталонными реакциями и выходными сигналами.

Достоинства структурного диагностирования:

а) простота подключения к ОД;

б) малое число каналов устройства связи;

в) быстрота проверки по принципу «годен – негоден».

Недостатки структурного диагностирования:

а) большая трудоёмкость поиска дефектов;

б) невозможность определения скрытых дефектов;

в) сложность и большая трудоёмкость разработки тестов.

При поэлементном диагностировании проверяется выход параметров за допустимые пределы.

При создании систем поэлементного диагностирования (СПД) решаются следующие задачи:

а) обеспечение доступа к внутренним контрольным точкам (КТ) ОД;

б) исключение влияния схемы при проверке пассивных электро -, радиоэлементов – режим разделения;

в) защита активных электро -, радиоэлементов (транзисторов, ИМС) от повреждений при тестировании;

г) автоматизация получения тестовых воздействий и измерений.

Дата добавления: 2014-01-05