Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Инженерный метод

Этот метод построения алгоритмов диагностирования основан на вычислении функции предпочтения. При этом исходными данными являются функциональная модель ОД и таблица неисправностей.

Функция предпочтения выбирается в соответствии с решаемой задачей диагностики и исходными данными. При этом рассматриваются три случая определения перечня параметров:

а) для оценки работоспособности;

б) для поиска неисправностей;

в) для оценки работоспособности и поиска неисправностей.

Функция предпочтения при оценке работоспособности

 

N

W1= max Wi (Zi) = S0 (i j), (37)

i N j=1

где S0 (i j) = 1, если состояние i j–го матричного элемента описывается нулем, и S0 (i j) = 0, если состояние i j–го матричного элемента описывается единицей.

Первым для контроля берут параметр Zi, у которого функция W1 (Zi) имеет максимальное значение. В результате контроля данного параметра матрица состояний делится на две части. В одну часть входят состояния, для которых результаты контроля выбранного параметра имеют положительные, а в другую отрицательные решения. В дальнейшем надо контролировать только первую часть, так как нужно фиксировать только факт исправности или отказа. Для нее аналогичным образом нужно вычислить значения Wi (Zi) и выбрать для контроля параметр по максимуму Wi (Zi).

 

Пример 3.5.2

 

Рис. 8 Функциональная модель ОД

 

Табл. 8

Zi Si Wi
  S1 S2 S3 S4 S5 S6  
Z1              
Z2              
Z3              
Z4              
Z5              
Z6              

 

Первым для контроля выбираем Z5 по максимуму W1 (Z5). В результате контроля в строке Z5 положительное решение имеет только Z3, следовательно следующим для контроля следует выбрать Z3.

Если для ОД известны вероятности состояний Р (S i), то функция предпочтения

 

W2 = max W2 (Z i), (38)

i N

 

N

W2 (Z i) = P (S i) S 0 (i j), (39)

i =1

 

Если для ОД известны и стоимости контроля параметров С(Zi), то функция предпочтения

 

(40)

 

Рассмотрим составление алгоритма поиска неисправностей. Максимальное количество информации дает контроль параметра, который делит все возможные состояния на две равные части. Тогда функция предпочтения

N N

W4 (Zi) = min | S0 (i j) - S1 (i j)| (41)

j =1 j =1

где S1(i j) = 1, если состояние матричного элемента описывается единицей, и S1 (i j) = 0, если состояние матричного элемента описывается нулем, S0 (i j) = 1, если состояние матричного элемента описывается нулем, S0 (i j) = 0, если состояние матричного элемента описывается единицей.

 

 

Первым для контроля выбирается параметр, для контроля которого функция предпочтения W4 минимальна. Результаты контроля Z i разделяют матрицу состояний на две части. В первую часть входят состояния, для которых результат контроля отрицателен (на пересечении Z i – SJ стоит нуль), во вторую часть входят состояния, для которых результат контроля положителен. Для полученных частей вновь вычисляют функции предпочтения. По их минимальным значениям выбирают второй контролируемый параметр (при положительном исходе контроля первого выбранного параметра) или третий контролируемый параметр (при отрицательном результате контроля первого выбранного параметра). Совокупность параметров и последовательность их контроля выбирается до тех пор, пока множество N возможных состояний ОД не будет разделено на отдельные различимые состояния с требуемой глубиной поиска.

В случае, когда заданы вероятности состояний P(Si) диагностируемой аппаратуры и стоимости контроля параметров С(Z i) функциональных элементов, функции предпочтения примут вид

 

N N

W5 (Zi) = min | P(Si)S0 (i j) - P(Si)S1 (i j)| (42)

j =1 j =1

 

N N

W6 (Zi) = min С(Z i) | P(Si)S0 (i j) - P(Si)S1 (i j)| (43)

j =1 j =1

 

 

Пример 3.5.3

 
 

 


Рис. 9 Функциональная модель ОД

 

 

Табл. 9

Z i Si
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Z 1                
Z 2                
Z 3                
Z 4                
Z 5                
Z 6                
Z 7                
Z 8                

 

Для каждого параметра Z i табл. 9 по формуле (41) определяется значение W4. Полученные значения записывают в табл. 10 и по минимальному значению выбирают для контроля параметр Z 3.

Табл. 10

Z i Si W4
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Z 1                  
 
 
Z 2

                 
Z 3                  
Z 4                  
Z 5                  
Z 6                  
Z 7                  
Z 8                  

 

В результате контроля параметра Z 3 табл. 10 делится на две части: в первую часть входят функциональные элементы 4, 5, 6 и 7, для которых результат контроля Z 3 положителен, в другую часть входят функциональные элементы 1, 2, 3 и 8, для которых результат контроля отрицателен, что означает неисправность одного из этих элементов. При поиске неисправностей контролю подлежат обе части матрицы, поэтому каждую часть из них представляем в виде табл. 11, а другую табл. 12. Для каждой из полученных таблиц определяем значения функций предпочтения W4. По минимуму W4 в табл. 11 выбираем для контроля параметр Z 1, в табл. 12 выбираем для контроля параметр Z 5. Аналогичные деления показаны в табл. 13 – 15. Схема поиска неисправностей показана на рис. 10.

 

 

Табл. 11

 

 
 

Si W4  
S4 S5 S6 S7
Z 4          
Z 5          
Z 6          
Z 7          

 

Табл. 12

 

Z i Si W4  
S1 S2 S3 S8
Z 1         2
Z 2          
Z 3          
Z 8          

 

               
 
 
 
 
 
 
     

 

 


Табл. 13

Z i Si W4
S1 S2 S8
Z 2        
Z 3        
Z 8        

 

           
   
 
 
 
   
 

 

 


 

Табл. 14

 
Z i

Si W4
S6 S7
Z 6      
Z 7      

 

       
   
 
 

 

 


Табл. 15

 
Z i

Si W4
S4 S5
Z 6      
Z 7      

 

 
 
 

 


 

           
 
 
 
 
 
   

 


Рис. 10 Схема поиска неисправностей в диагностируемом устройстве

 

 

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Метод на основе информационного критерия | Метод на основе иерархического принципа
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-05; Просмотров: 669; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.04 сек.