Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Профилометры alpha-step фирмы kla-tencor, США

Стилусный профилометр Alpha-Step ® D-120

Стилусный профилометр Alpha-Step ® D-120 предоставляет широкий спектр применений для научно-исследовательской деятельности благодаря своим выдающимся характеристикам: диапазон перемещения по вертикали составляет 1.2 мм, суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в 6 ангстрем (или 0,1 % от номинальной высоты), предметный столик радиусом 200 мм с двухкоординатным сервоприводом, а так же многое другое.

Благодаря сервоприводам предметного столика профилометр Alpha-Step ® D-120 позволяет проводить автоматические измерения в различных координатах образца. В качестве дополнительного оборудования для Alpha-Step ® D-120 предлагается камера с зум-объективом и 4-х кратным увеличением для абсолютно точной визуализации образца. Профилометр Alpha-Step ® D-120 является чрезвычайно полезным, как для исследовательских, так и для производственных применений, сочетая в себе выдающиеся характеристики и разумную цену.

Графический интерфейс Alpha-Step ® D-120 является мультидокументным и позволяет отображать данные сканирования одновременно с процессом сканирования, что дает возможность пользователю анализировать данные и одновременно выполнять дополнительные измерения.

Програмное обеспечение Alpha-Step ® D-120 позволяет автоматически расставлять уровни на полученных изображениях, измерять параметры изображений и выводить полученные результаты в удобном виде таблицы пригодной для использования в MS Excel. В интерфейсе Alpha-Step ® D-120 все окна являются независимыми, это означает что и панели управления, и окна вывода данных, и окна сканирования в реальном времени, а так же окна с итоговыми результатами сканирования могут быть размещены в любом месте экрана. Эта особенность делает интерфейс Alpha-Step ® D-120 гибким и мощным инструментом для получения и анализа данных.

Технические характеристики Alpha-Step D-120:

§ Длина получаемого изображения 55 мм;

§ Диапазон перемещения по вертикали до 1,2 мм;

§ Предметный столик радиусом 200 мм с сервоприводами для установки образца (диапазон перемещений 150Х178 мм;

§ Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 10 мг;

§ Программное обеспечение совместимо с ОС WindowsXP, Vista, и Windows 7.

Стилусные профилометры Alpha-Step D-series – разработка компании KLA-Tencor - обеспечивают комплексное решение задач инженерного и исследовательского профиля. Серия профилометров D-series разработана с целью удовлетворить разнообразные запросы клиентов посредством выпуска приборов с широким спектром возможностей, интеграцией в них инновационных технологий и повышенной производительностью. Ниже приводится сравнительная характеристика приборов Alpha-Step D-series.

Основными областями применения для Alpha-Step D-series являются:

§ Исследования текстуры поверхности;

  • Напряжение тонких пленок;
  • Исследование биологических объектов;
  • Микроэлектромеханические системы;
  • Характеристика свойств материалов;
  • Прецизионное измерение вертикальных ступенек на поверхности;
  • Исследование шероховатости и дефектности поверхности.

Эти профилометры широко используются в технологии кремниевых БИС и СБИС для контроля профилей поверхности участков кристаллов микросхем на рабочих пластинах с целью отработки технологических процессов и анализа причин брака.

Профилометр ALPHA-STEP 200

Позволяет измерять профиль поверхности с разрешением по вертикали до 0.5 нм. Применяется для контроля рельефа поверхности и измерения толщины пленок.

Использовался в том числе при измерении профилей удельного сопротивления методом сопротивления растекания для определения глубины.

Описание установки:

Прибор предназначен для измерения профиля «плоской» поверхности посредством механического сканирования иглы-зонда.

Область применения:

· определение толщины различных пленок при напылении на плоскую поверхность;

· определение качества поверхности и толщины фоторезиста при проведении фотолитографии;

· определение качества формирования топологии различными видами травления (жидкостное, ионное др.);

· измерение шероховатости поверхности;

· определение скорости ионного распыления в исследованиях профиля методами ВИМС и Оже-спектроскопии по измерениям кратеров травления.

Профилометр ALPHA-STEP 500

Профилометр предназначен для измерения профиля «плоской» поверхности посредством механического сканирования индентора.

Области применения:

- определение толщины различных пленок при напылении на плоскую поверхность;

- определение качества поверхности и толщины фоторезиста при проведении фотолитографии;

- определение качества формирования топологии различными видами травления (жидкостное, ионное и т.д.);

- измерение шероховатости поверхности;

- определение скорости ионного распыления в исследованиях профилей примеси методами ВИМС и Оже-спектроскопии по измерениям кратеров травления.

Технические характеристики:

- динамический диапазон измерений по глубине составляет 0.5 нм ÷ 320 мкм;

- максимальная длина линии сканирования по поверхности составляет 10 мм;

- максимальное количество точек на один скан - 2000;

- два диапазона измерений:

- ±16 мкм (разрешение по глубине 0.5 нм),

- ±160 мкм (разрешение по глубине 5 нм);

- сменные иглы радиусов: 1.5 ÷ 2.5 мкм, 5 мкм, 12.5 мкм и 25 мкм;

- нагрузка на иглу изменяется от 1 до 25 мГ;

- максимальный диаметр пластин - 150 мм.


<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Профилометрия | Цветовой метод измерения толщины пленок диэлектриков
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-07; Просмотров: 1065; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.015 сек.