КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Порядок выполнения работы. Схема исследования статических характеристик: полевого транзистора с управляющим p-n-переходом представлена на рис
Схемы исследования Схема исследования статических характеристик: полевого транзистора с управляющим p-n-переходом представлена на рис. 1.8, а МДП–транзистора с индуцированным каналом - на рис. 1.9.
Рис. 1.8. Схема исследования статических характеристик полевого транзистора 2П103Б с управляющим p-n-переходом и каналом p-типа
Рис. 1.9. Схема исследования статических характеристик МДП-транзистора 2П301А с индуцированным (обогащенным) каналом p-типа
Напряжения питания подаются с гнезд источников стабилизированных напряжений: Е-1 и Е-2, имеющих собственную цифровую индикацию и плавные регулировки R9 и R10 выходных напряжений соответственно. Измерения постоянных напряжений и токов в схемах осуществляются с помощью цифровых тестеров серии MY6x. При этом тестер, используемый для измерения тока, всегда включается последовательно с исследуемым объектом; а тестер, используемый для измерения напряжения, всегда включается параллельно с исследуемым объектом.
3.1. На тестере ММ-1 установить переключатель РРП в положение (0С). Включить тестер ММ-1 нажатием красной кнопки on/off. Определить температуру окружающей среды Токр. ср., считав показания тестера, и полученный результат занести во все ниже следующие таблицы. Выключить тестер ММ-1 нажатием красной кнопки on/off. 3.2. Собрать схему, изображенную на рис. 1.8, используя тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3, а в качестве исследуемого объекта полевой транзистор 2П103Б. Убедиться, что регулировки R9 и R10 источников питания Е-1 и Е-2 находятся в крайних левых положениях. Переключатель РРП тестера ММ-1 установить в секторе V= на предел измерения 20 В. Переключатель РРП тестера ММ-2 установить в секторе A= на предел измерения 20 mA, а его красный щуп установить в красное гнездо mА. Переключатель РРП тестера ММ-3 установить в секторе V= на предел измерения 20 B. Убедиться, что расположенные на монтажном шасси переключатель П3 находится в положение «Полевой транзистор 2П103Б», а регулировки R12 и R13 находятся в крайних левых положениях. Предъявить собранную схему преподавателю для проверки. После проверки схемы преподавателем включить тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3 нажатием красных кнопок (on/off) и включить источники питания Е-1 и Е-2 нажатием кнопки POWER. Исследовать статические характеристики полевого транзистора с управляющим p-n-переходом и каналом p-типа при комнатной температуре, т.е. исследовать зависимость Iс = ƒ(Uзи, Uси). Вращая регулятор R9 источника питания Е-1 по часовой стрелке, установить на его цифровом табло величину напряжения Uист 1 = 2,2 В. С помощью регулятора R12, расположенного на монтажном шасси, и тестера ММ-1 установить значение Uзи = 0. Вращая регулятор R10 источника питания Е-2 по часовой стрелке, изменять напряжение Uси от 0 до –8 В с шагом –1 В, фиксируя его значения с помощью тестера ММ-3. При каждом значении Uси с помощью тестера ММ-2 фиксировать величину Iс и полученные результаты занести в табл. 1.1. Закончив измерения, установить регулятор R10 в крайнее левое положение. Данную процедуру измерения Iс повторить для различных напряжений Uзи, которые, с помощью регулятора R12, расположенного на монтажном шасси, и тестера ММ-1, устанавливать в пределах от 0 до 1,2 В с шагом 0,2 В. Полученные результаты занести в табл. 1.1. Напряжение Uзи, при котором Iс = 0, называется напряжением отсечки - Uзи отс. Закончив измерения, установить регулировки R9, R10 и R12 в крайнее левое положение, выключить источники питания Е-1, Е-2 и тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3.
Таблица 1.1
3.3. Собрать схему, изображенную на рис. 1.9, используя тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3, а в качестве исследуемого объекта МДП-транзистор 2П301А. Для этого достаточно: · заменить полевой транзистор 2П103Б на МДП–транзистор 2П301А; · убедиться, что регулировки R9 и R10 источников питания Е-1 и Е-2 находятся в крайних левых положениях; · установить переключатель П3, расположенный на монтажном шасси, в положение «Полевой МДП–транзистор 2П301А», при этом произойдет коммутация полярности подключенного источника питания Е-1; · убедиться, что регулировки R12 и R13, расположенные на монтажном шасси, находятся в крайнем левом положении. Предъявить собранную схему преподавателю для проверки. После проверки схемы преподавателем включить тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3 нажатием красных кнопок on/off и включить источники питания Е-1 и Е-2 нажатием кнопки POWER. 3.4. Вращая регулятор R9 источника питания Е-1 по часовой стрелке, установить на его цифровом табло величину напряжения Uист 1 = 12,5 В. 3.5. Определить пороговое напряжение Uзи пор. Пороговое напряжение МДП–транзистора – это такое напряжение на затворе транзистора, при котором появляется ток стока Iс. Для определения Uзи пор необходимо с помощью регулятора R10 источника питания Е-2 и тестера ММ-3 установить напряжение Uси = -7 В. Далее, вращая регулятор R13 по часовой стрелке, установить на цифровом табло тестера ММ-2 величину Iс = 0,02 mA. После этого снять показание тестера ММ-1, которое представляет собой величину Uзи пор исследуемого МДП–транзистора. Полученный результат занести в табл. 1.2, а регулятор R10 источника питания Е-2 установить в крайнее левое положение. 3.6. Исследовать статические характеристики МДП-транзистора с индуцированным каналом p-типа при комнатной температуре, т.е. исследовать зависимость Iс = ƒ(Uзи, Uси). С помощью регулятора R13 и тестера ММ-1 установить напряжение на затворе исследуемого МДП–транзистора Uзи = Uзи пор. Вращая регулятор R10 источника питания Е-2 по часовой стрелке, изменять напряжение Uси от 0 до –8 В с шагом –1 В, фиксируя его значения с помощью тестера ММ-3. При каждом значении Uси с помощью тестера ММ-2 фиксировать величину Iс и полученные результаты занести в табл. 1.2. Закончив измерения, установить регулятор R10 в крайнее левое положение. Данную процедуру измерения Iс повторить для различных напряжений Uзи, которые, с помощью регулятора R13, расположенного на монтажном шасси, и тестера ММ-1, устанавливать в пределах: · от Uзи пор до (| Uзи пор | + 3,0 В) с шагом 0,5 В. Полученные результаты занести в табл. 1.2.
Таблица 1.2
Закончив измерения, установить регуляторы R9, R10, R12 и R13 в крайнее левое положение, выключить источники питания Е-1, Е-2 и тестеры ММ-1, ММ-2 и ММ-3.
Дата добавления: 2015-05-06; Просмотров: 1361; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |