Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Тема 5. Основы теории спроса и предложения




Модуль 2. ТЕОРИЯ ЦЕНЫ И ВЫБОРА ПОТРЕБИТЕЛЯ

Сравнительные характеристики методов определения толщины тонких слоев в полупроводниковых структурах

Метод Тип структур Диапазон толщин Погреш-ность, % Спектр. диапазон, мкм Достоинства, ограничения метода
ИК Интерферометрия p - n+, p - p + n - p+, n - n + 1 – 80 мкм 5 – 8 2 – 40 Неразрушаю-щий. ρ слоя>0.1 Ом·см, ρ подложки<0.01 Ом·см
ИК Фурье спектроскопия p - n+, p - p + n - p+, n - n + 1 – 100 мкм 1 – 7 2 – 40 Неразрушаю-щий. ρ слоя>0.1 Ом·см, ρ подложки<0.01 Ом·см
Интерферометрия в видимой области Гетероструктуры (КНС; Si* - диэлектрик - Si; феррит-гранаты) 0,2 – 3 мкм   0,4 – 0,7 Неразрушаю-щий
Интерферометрия в ИК- и видимой областях для контроля рельефа Структуры со ступеньками, канавками на поверхности полупроводника, диэлектрика, 0,2 – 10 мкм 5 – 10 0,4 – 20 Неразрушаю-щий
Профилометрия для контроля рельефа Структуры со ступеньками, канавками на поверхности полупроводника, диэлектрика, металла, фоторезиста 0.5 нм – 10 мкм   - Практически неразрушаю-щий
Декорирование шлифа Любые комбинации гетеро- и гомо-эпитаксиальных структур (уровни легирования должны отличаться порядок и более) 0,1 – 25 мкм   0,4 – 0,7 Разрушаю-щий
ИК-эллипсометрия p - n+, p - p+ n - p+, n - n+ 0,1 – 2 мкм 3 – 5 λ=10,6 мкм СО2-лазер Неразрушаю-щий
Метод Тип структур Диапазон толщин Погреш-ность, % Спектр. диапазон, мкм Достоинства, ограничения метода
Сопоставление цветов Тонкие слои Si* на SiO2 0,3 – 0,7 мкм 2 – 7 0,4 – 0,7 Неразрушаю-щий
Сопоставление цветов Прозрачные диэлектрические слои на полупроводниковых подложках (SiO2, Si3N4 на Si) 0,05 – 0,7 мкм 10 – 20 0,4 – 0,7 Неразрушаю-щий
Эллипсометрия в видимой области Диэлектрические пленки 1 – 1000 нм 3 – 5 0,4 – 0,7 λ=623,8 нм He-Ne-лазер Неразрушаю-щий
Монослои полупроводников 1 – 100 нм 0,5 – 2  

 

(ОПТИМУМ ПОТРЕБИТЕЛЯ)

 

Лекция 05

Учебная цель лекции:

Студент

должен знать: чем понятия «спрос» и «предложение» отличаются от терминов «величина спроса» и «величина предложения»; как неценовые факторы воздействуют на спрос и предложение; как действуют законы спроса и предложения и как устанавливается рыночное равновесие.

уметь: строить графики спроса и предложения; определить равновесные цену и объем; объяснять, почему рыночные цены стремятся равновесию, различать понятия «спрос» и «величина спроса», «предложение» и «величина предложения»; прогнозировать изменение равновесных цены и количества благ на рынке под воздействием различных комбинаций изменения спроса и предложения.

 

Учебные вопросы лекции:

  Анализ спроса. Спрос: понятие, величина, закон и неценовые факторы влияния на спрос и перемещения кривой спроса D. Эффект замены и эффект дохода.
  Анализ предложения. Предложение: понятие, величина, закон и неценовые факторы, влияющие на предложение и сдвиги кривой предложения S.
  Равновесие на рынке отдельного блага. Цена и равновесие. Сдвиги равновесия.
  Рынки покупателя и продавца.
  Базовые модели рыночного равновесия: Вальраса, Маршалла и паутинообразная модель.



Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-07; Просмотров: 295; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.008 сек.