Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Поверхность отклика




 

Уравнение функции отклика (13.2) описывает некоторую гиперповерхность в «к + 1» - мерном пространстве (к – число факторов). Следовательно, изучение многофакторной системы можно представить как исследование формы этой поверхности, называемой поверхностью отклика. Пространство в котором строится поверхность отклика (или совокупность уровней факторов, используемых в планировании, эксперимента) называется факторным пространством.

Если проводится однофакторный эксперимент у = f(x1), то поверхность отклика сжимается в линию на плоскости (рис. 13.3.)

Рис. 13.3. Зависимость отклика от одного фактора

 

При двухфакторном эксперименте у = f (x1, x2) поверхность отклика будет располагаться в трёхмерном факторном пространстве (рис.13.4).

Если произвести сечение поверхности отклика плоскостями, параллельными X1ОX2, и полученные в сечениях линии (у1 = const, y2 = const и т. д.) спроектировать на плоскость X1ОX2, то поверхность отклика для двухфакторного процесса будет изображена на плоскости (рис. 13.5). Каждая линия соответствует определённому значению параметра оптимизации у и называется линией равного отклика. Точка М – оптимальная точка.

 

 

       
 
Рис. 13.5. Проекция сечения поверхности отклика на плоскость X1OX2
 
Рис. 13.4. Поверхность отклика при двухфакторном эксперименте

 


При трёхфакторном эксперимете зависимость у = f (x1, x2, x3) должна изображаться в четырёхмерном пространстве, что зрительно представить уже невозможно. Однако одному из факторов можно дать какое-то фиксированное значение и представить изменение формы поверхности отклика в трёхмерном пространстве в зависимости от уровня зафиксированного фактора.

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-05-26; Просмотров: 4069; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.01 сек.