Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Особенности полевых транзисторов




Статические характеристики полевых транзисторов.

Выходные передаточные хар-ки пол транз-ра хар-ся след

pавис-тью.

С приложением к стоку(С) + отн-но истока(И) напряж, по каналу проходит I и Uобр на переходе изменяется вдоль оси Х, по направлению к С. Поэтому толщина обедненного слоя будет , а толщина канала

по направл к С, и при достаточно больших напряж-ях произойдет пробой (объединение обедненных областей). В общем сл отсечка канала происходит при: UЗ = |- UЗО т| =| -| UЗИ | + UСИ (12) В результате отсечки канала происходит насыщение тока C. U, при кот I насыщается:

UСН = UСИ = |- UЗО т |- |- UЗН | (13)

Передаточные характеристики отличаются от статических тем, что у пол транз-ров вых I проходит при одной полярности U.

Отличаются малым уровнем собственных шумов, стабильностью во времени. Это объясняется тем, что вых I в пол транз-ре протекает в монокристалле, в кот отсутствуют поверхностные дефекты структуры. Дефекты структуры явл-ся основн источниками шумов, а => снижения стабильности. Пол транз-ры защищены от перегрузок знач лучше, чем МДП транзисторы. Явл-ся неполярными приборами, нечувствительны к дефектам наполнения неосновных нз.

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-06-04; Просмотров: 348; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.01 сек.