Проверка чувствительности замеров в IV квадранте

Замеры по определению чувствительности с учетом погрешностей должны удовлетворять неравенствам:

Для проверки отстройки в IV квадранте:

k_н1*X > k_н1*R * tg (-15⁰) - Х_устИПФ/8 или

k_н2*X > (k_н2*R - R_{уст ИПФ}) *tgФ_МЧ, где (7-37а)

k_н1 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н1=0,8;

k_н2 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н2=1,2.

Для проверки отстройки в I квадранте:

k_н1*X > (k_н2*R - R_{уст ИПФ}) *tgФ_МЧ, где (7-37б)

k_н1 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н1=0,8;

k_н2 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н2=1,2.

7.17 Вариант 2.

Если выбранная уставка R_{уст ИПФ} не позволяет отстроится от замеров, лежащих во II квадранте, тогда надо уменьшить эту уставку до обеспечения отстройки с учетом погрешности:

R_устИПФ = k_н1*(X_i/ tg Ф_МЧ - R_i), где (7-39)

k_н1 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н1=0,8;

R_i, X _i - координаты замера_, от которого необходимо отстроится.

Затем снова необходимо выполнить п.7.16.1, 7.16.3 и 7.16.5.

При этом может оказаться, что не все замеры удовлетворяют требованиям чувствительности, тогда надо попробоватьуменьшить К_ум, например до К_ум=0,5, в нижней характеристике и снова проверить чувствительность. При этом необходимо учитывать, что соответствующие характеристики находятся в разных комплексных плоскостях. При отстройке верхней характеристики надо учитывать прямые Х=Х_{устИПФ1} и Х=R*tg(115⁰), то есть отстроечные замеры должны находиться ниже этих прямых. А при проверке чувствительности соответственно замеры должны находиться выше этих прямых.

7.18 Вариант 3.

Аналогично выше сказанному для обеспечения чувствительности или отстройки в IV квадранте, если возможно изменить уставку Х_устИПФ, можно двигать вверх или вниз прямую:

Х= R * tg (-15⁰) - Х_устИПФ/8 (7-40)

7.19 Вариант 4.

Если не удовлетворяется по чувствительности неравенство п. 7.16.1, а согласно п. 7.17 уставку R_{уст ИПФ} невозможно изменить так, чтобы обеспечивалась чувствительность, и критическая точка замера лежит ниже 0,4*Х_устИПФ, то можно попробовать выбрать другой К_ум для нижней характеристики и увеличить уставку Х_{устИПФ1} так, чтобы критическая точка оказалась под ней:

Х_{устИПФ1} = k_н2 * Х_кр, где(7-38)

k_н2 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н2=1,2;

Х_кр – критическая точка замера, то есть та «отстроечная» точка, которая попала в первоначальную характеристику.

Те замеры по определению чувствительности, которые не вошли в верхнюю характеристику, должны быть проверены в нижней, построенной в другой комплексной плоскости. Для этого надо в программе АРМ или ТКЗ РЕЛЕ в задании на расчет заменить К_ум на другой (диапазон его уставки от 0 до 1) и произвести расчет для этих замеров.

Проверка чувствительности для верхней характеристики, в случае, если нижняя не находится с ней в одной плоскости, для I квадранта производится по п. 7.16.1. А для II квадранта по формуле:

k_н1*Х_i => k_н2* R_i * tg(115⁰), где(7-39)

k_н1 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н1=0,8;

k_н2 – коэффициент надежности – для учета погрешностей замера – принимается равным k_н2=1,2.

Если при этом если чувствительность снова не обеспечивается, тоследует вновь принять:

Х_{устИПФ1} = 0,1* Х_устИПФ и заменить замеры Z4 на Z5, т.е. посмотреть не будет ли обеспечиваться чувствительность в каскадепо неравенствам п. 7.16.1.

В приведенной методике все возможные случаи не рассматриваются, так как общий подход к выбору уставок ясен из изложенного в п.п.7.16 – 7.19.

Дата добавления: 2015-06-28