КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Рефлектометрический метод измерения потерь в волокне (метод обратного релеевского рассеяния)
Лекция №3. Измерение параметров оптических волокон. Сущность рефлектометрического метода измерения характеристик оптических волокон и кабелей заключается в подаче в оптическое волокно импульса оптического излучения и в последующем анализе той малой части световой мощности, которая возвращается на фотоприемник в результате обратного рассеяния и отражения распространяющейся в волокне световой волны. Регистрируемый фотоприемником сигнал обрабатывается, и из него формируется кривая, которая называется рефлектограммой и представляет собой зависимость уровня мощности этого сигнала от времени распространения импульса Главным достоинством этого метода являются возможность проведения измерений при доступности оператора только к одному из концов волоконной линии и получение распределения оптических потерь мощности в зависимости от коэффициента затухания Как уже упоминалось выше, релеевское рассеяние света представляет собой рассеяние на микронеоднородностях, имеющих место в оптическом волокне. Схема релеевского рассеяния показана на рис. 4.1.
Рис. 4.1. Схема релеевского рассеяния Свет рассеивается на микронеоднородностях (релеевских центрах) во всех направлениях, в том числе и назад. При этом часть света уходит в оболочку и затухает в ней, а часть света попадает в моду волокна и распространяется в обратном направлении, образуя сигнал обратного релеевского рассеяния в волокне. Именно сигнал обратного релеевского рассеяния и используется в современной рефлектометрии для измерения потерь и других характеристик ВОЛС. Принцип действия волоконно-оптического рефлекторметра показан на рис. 4.2.
Рис.4.2. Принцип действия оптического рефлектометра
В волоконную линию посылаются мощные импульсы оптического излучения (зондирующие импульсы) и по мере их прохождения по волокну записывается мощность и время запаздывания возвращающихся обратно в рефлектометр импульсов. Релеевские центры распределены вдоль волокна однородно и в рассеянных на них волнах содержится вся информация о параметрах линии, влияющих на затухание света. Путем детектирования сигналов обратного релеевского рассеяния можно обнаруживать как отражающие так и не отражающие (поглощающие) неоднородности в волокне, например, потери, распределение потерь в длинных линиях и потери в сростках (сплавных соединениях волокон). Такие измерения нельзя выполнить регистрируя только отражение, а не рассеянное излучение. Величина мощности света рассеиваемого обратно в моду волокна пропорциональна мощности импульса на входе волокна, но вследствие малости коэффициента обратного релеевского рассеяния Волоконно-оптический рефлектометр состоит из 2 основных блоков: оптического блока и блока обработки сигналов. Блок схема рефлектометра показана на рис.4.3.
Оптический блок (или оптическая часть рефлектометра) показан на рис. 4.4.
Рис. 4.4. Волоконно-оптический рефлектометр (оптическая часть) Он состоит из набора источников излучения (импульсные лазеры на рис. 8), мультиплексора, волоконно-оптического разветвителя, фотоприемного устройства (фотодиод с усилителем). Излучение от источника (того или иного лазера в зависимости от нужной длины волны) вводится в тестируемый кабель через модовый фильтр (катушка с волокном) с помощью волоконно-оптического разъема. В качестве источников в рефлектометре применяются лазерные диоды, генерирующие импульсы мощности от 10 мВт до 1 Вт и длительностью от 2 нс до 20 мкс с частотой повторения в несколько килогерц.. Эти импульсы через оптический разветвитель и оптический разъем попадают в исследуемое волокно или кабель. Импульсы обратно рассеянного в волокне излучения возвращаются оптический модуль и через разветвитель подаются на фотоприемник, где они и преобразуются в электрический сигнал. Электрический сигнал усиливается и обрабатывается в блоке обработки сигнала (базовом электронном блоке) и отражается на дисплее в виде рефлектограммы. Такое представление информации позволяет анализировать ее как визуально по рефлектограмме, так и с помощью встроенных программных алгоритмов. Так как мощность обратно рассеянных импульсов мала, то для повышения отношения сигнал/шум на рефлектограмме применяется многократное усреднение результатов измерений. Следует отметить, что, так как время прохождения импульсов по линии мало (ВОЛС длиной 100 км свет проходит за 1 мсек), то для усреднения достаточно всего нескольких секунд. Обычно типичная рефлектограмма содержит около 32000 точек, и при вычислении каждой точки усредняется несколько тысяч импульсов. Весь этот массив данных современный рефлектометр способен обрабатывать за доли секунды. Первая измеренная рефлектограмма сразу же выводится на дисплей рефлектометра и далее по мере усреднения рефлектограммы, шумы в которых уменьшаются по мере роста времени усреднения. Блок обработки сигнала рефлектометра содержит два быстродействующих микропроцессора. Первый, быстродействующий процессор RISC) обеспечивает возможность усреднения до 50 миллионов точек в секунду, а второй микропроцессор Intel, обеспечивает работу интерфейсной части программы, вывод данных на дисплей, автопоиск дефектов в линии. Этот микропроцессор (Intel) обеспечивает также совместимость с персональными компьютерами, что позволяет применять не только стандартное программное обеспечение, но и стандартное компьютерное оборудование (клавиатура, мышь, принтер, факс/модем, жесткий диск в стандарте PCMCIA). Такой рефлектометр может использоваться и как измерительный прибор и как персональный компьютер, представляющий достаточно широкие возможности для обработки информации, в частности, для выделения в увеличенном виде частей рефлектограмм, создания полного списка неоднородностей и погонного затухания в линии, оформления отчетов о результатах измерений и т.д. На рис. 4.5 приведена типичная рефлектограмма волоконно-оптической линии длиной 20 км.
Рис. 4.5. Типичная рефлектограмма волоконно-оптической линии. По вертикальной оси в логарифмическом масштабе откладывается мощность вернувшихся в рефлектометр импульсов, а по горизонтальной оси расстояние до места отражения.
Величина потерь вычисляется в этом случае по формуле: a(z) = 5 lg (P0/Pz) – 5 lg(S0/Sz) (4.1), где P0 и Pz – мощности импульса в начале и в конце волокна длиной (z), S0 и Sz – коэффициенты рассеяния в начале и в конце волокна. Коэффициент перед логарифмами равен 5, а не 10 (как в уравнении 1.4) поскольку импульс проходит двойное расстояние: от начала к концу и затем возвращается назад к началу волокна. Если коэффициент рассеяния постоянен вдоль всего волокна (линии), т.е. Sz=S0, то второе слагаемое обращается в ноль, и показания рефлектометра будут прямо пропорциональны величине потерь в волокне (линии). Вариации коэффициента рассеяния возникают, в основном, из-за вариаций диаметра модового пятна, что приводит к появлению систематической погрешности, пропорциональной величине изменения диаметра модового пятна (Dw/w). Эту систематическую погрешность можно устранить, если измерить рефлектограммы с обеих сторон волокна (линии), тогда полусумма рефлектограмм будет показывать изменение коэффициента рассеяния, а полуразность рефлектограмм – изменение величины потерь. Следует отметить, что рефлектометры используются не только для измерения потерь в волокнах, оптических кабелях и линиях связи, но и для измерения расстояний до неоднородностей волокне (дефектов сварки, трещины в волокне и т.д.), которые после обнаружения можно устранять. Погрешность измерений возникает за счет: - инструментальных ошибок, связанных с неточность измерения начала и конца волокна, с ошибками в калибровке горизонтальной шкалы; - методических ошибок, возникающих из-за того, что неоднородности на рефлектограмме получаются разными для отражающей и не отражающей неоднородности; - ошибок оператора и т.д.
4.2. Измерение потерь с помощью мультиметров.
Схема измерения потерь в волокне с помощью мультиметров показана на рис. 4.6.
В начале, оператор, соединив вход и выход мультиметра оптическим шнуром, измеряет величину опорного сигнала. Затем он отсоединяет разъем шнура от розетки фотоприемного блока и подсоединяет через розетку к началу волокна (линии), а выходной конец волокна подсоединяет к фотоприемному блоку второго мультиметра. Величина потерь (с учетом разности показаний фотоприемных блоков, полученных в процессе их сверки) рассчитывается по формуле: a (дБ) = опорный сигнал в дБм – сигнал в дБм (4.2), где дБм – мощность оптического излучения (Р), соотнесенная с 1 мВт, т.е. a = 10 lg (P/1 мВт) (4.3). При такой системе измерений погрешность возникает в основном по следующим причинам: · нестабильность источника излучения, · нелинейность шкалы мультиметра, · разная чувствительность фотоприемных блоков на разных концах волокна (линии), · отклонение величины потерь в разъемах от их номинального значения.
Дата добавления: 2014-01-20; Просмотров: 3984; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! |