Клиновый микрометр

Оптический микрометр с поступательно перемещающимися клиньями основан на свойстве оптического клина отклонять луч света к своему основанию.

Из рис. видно, что если отодвинуть клин 2 на некоторую величину l от его начального положения, то нижний клин отклонит луч вправо на угол δ=θ (n—1), а верхний 1 — влево на такой же угол, в итоге луч сместится параллельно на величину . Действие системы двух таких клиньев соответствует плоскопараллельной пластине (воздушной) с изменяющейся толщиной d.

В большинстве точных оптических теодолитов с двусторонней системой отсчитывания используется двойной клиновой микрометр (Т2, 2Т2, Theo-О10 и т. п.). На рис. показана схема микрометра теодолитов типа Т2. Микрометр состоит из двух пар оптических клиньев. Одна, нижняя пара, неподвижная, а вторая— верхняя пара — подвижная, вращением маховичка ее можно перемещать поступательно в вертикальном направлении. Шкала микрометра жестко скреплена с подвижными клиньями. Точность нанесения деления любого штриха относительно начального составляет 2 мкм, что соответствует ошибке отсчета в 0,03".

Рис. Схема одностороннего клинового микрометра и Принцип действия двустороннего клинового оптического микрометра.

Достоинство клинового микрометра в том, что у них можно допускать большую линейную величину делений шкал, т.к. в них смещение луча пропорционально перемещению клина пр сколь угодно большом его пути. В микрометра с ППП – смещение луча пропорционально углу поворота пластинок только при малых углах.

Микрометр с вращающимися клиньями основан на вращении преломленного клином луча и выделении вторым вращающимся клином одной составляющей перемещения. Механизм вращения клиньев несложный, так как углы поворота их будут пропорциональны углам поворота диска или барабана с делениями.

В микрометре с подвижными полулинзами, помещенными перед объективом, при смещении одной полулинзы относительно другой меняется направление лучей и изображение предмета раздваивается. Линзовые микрометры применяются в дальномерах двойного изображения с переменным параллактическим углом.

Дата добавления: 2014-01-20