Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Вольтамперная характеристика p-n перехода

Для вывода уравнения ВАХ воспользуемся законом сохранения количества электричества, которое в общем виде записывается следующим образом:

(1)

Левая часть (1)-изменение объёмной плотности заряда во времени.

Правая соответствует числу элементарных электрических зарядов, втекающих в рассмотренный объём или вытекающих из него.

Закон сохранения электричества для полупроводникового перехода с учётом процессов генерации и рекомбинации записывается в следующем виде:

(2)

jp-ток дырок

- для электронов (3)

G-гене рационный член

(2) и (3) – уравнение непрерывности для дырок и электронной составляющих плотности тока.

Левые части характеризуют рекомбинационные процессы.

Величины Gn и Gp характеризуют скорости генерации e и дырок.

Плотности e и дырок включают в себя и диффузионную, и дрейфовую составляющие, и имеют вид:

(4)

D-коэффициент диффузии

(5)

Подставим (4) и (5) в соотношение (2) и (3).

Будем рассматривать одновременно случай, т.е. относительно координаты x. После подстановки получаем:

(6)

D – ккоэффициент диффузии

τpрекомбинационный член

(7)

ε-напряжонность электрического поля

 

Сделаем ряд допущений:

 

1) процессы генерации и в n и в p области в рассмотренных отсутствуют: Gn,Gp=0

2) будем рассматривать только стандартный случай (величины не зависят от t).

3) имеем дело с низким уровнем инжекции, напряженность электрического поля и её производная малы

С учётом 1-3 уравнение непрерывности можно записать в след:

 

(8)

где ΔPn - дырки в n области ΔPn=p-p0

(9)

где p0,n0 – термодинамический равновесный концентрации

Δpn, Δnp – избыточная концентрация электронов и дырок соответственно в n и p области Δpn, Δnp возникают в результате действия напряжения, приложенного к p-n переходу.

Чтобы установить зависимость тока от напряжения нужно найти решение упрощённых уравнений напряженности упрощенных уравнений напряженности 6 и 7.

 

Dpτp=Lp2 – диффузионная длина дырок

 

(10)

Уравнение непрерывности

 

При решении уравнения (10) будем считать, что ширина области простого заряда достаточно мала, генерацией принебрегаем, низкий уровень инжекции.

n-область заключена между металлическими границами p-n перехода x=0 и внешним оммическим контактом

 
 


оммический контакт

x=0

Граничные условия

Δpn=0 при x=wn

Зависимость ΔPn от приложенного напряжения будет иметь вид

(11)

U- Внешнее напряжение

С учётом условий (8) и (9) решение уравнения непрерывности будет иметь вид

(12)

где С1 и С2 – константы, которые имеют следующий вид.

(13)

 

(14)

 

В окончательном виде решение уравнения непрерывности примет следующий вид:

(15)

Градиент концентрации дырок в n – области;

(16)

Оценим градиент при x=0 и подставим полученное выражение для плотности диффузионного тока:

(17)

Аналогично можно определить плотность диффузионной составляющей для электронов в p – области:

(18)

 

(17) и (18), то получим (площадь n-p перехода) общий полный ток через p-n переход равен сумме электрон дырка состовляющих:

(19)

 

Для достаточно больших U, тогда пренебрегаем eqU/KT.

 

ВАХ: (20)

J0-обратный ток определяется через (19)

Когда Wn>>Lp Диффузионная длина инжекторных дырок

 
 

 


S – площадь p-n перехода и выражение для обратного тока:

Pn0-концентрация дырок в n области в термодинамическом равновесии

 

Когда выполняется обратные соотношения между L и шириной запретной зоны Wn<<Lp, Wp<<Ln.

 

Обратный ток равен:

 

В зависимости от протяженности областей p и n типа обратный ток определяется либо геометрическими размерами n и p областей (Wn и Wp) либо диффузионными длинами не основных носителей заряда.

§ Емкость p-n перехода (в методе)

p-n переход при обратном смещении

При обратном смещении на р-п переходе существует обратный ток пробой р-п перехода проявляется в резком увеличении обратного тока, которое возникает при достижении определённого критического значения напряженности. Существует 3 вида пробоя р-п перехода.

1) лавинный пробой

2) тунельный

3) тепловой

Лавинный пробой характерен для широких р-п переходов, имеет большую область пространства заряда, которая формируется при контакте 2-х низколегированных полу-проводников. Если концентрация примеси мала, то имеем широкую область пространства заряда.

 
 

 


 

В основе механизма 1) лежит явление лавинного размножения подвижных носителей заряда в сильном электрическом поле р-п перехода. Если к р-п переходу приложено высокое обратное напряжение, то напряженность элек. поля в ОПЗ может оказаться настолько большой, что ННЗ, ускоряемые этим полем приобретают энергию, достаточную для ионизации атомов полупроводника. В результате ударной ионизации в ОПЗ (область прост. Заряда) развивается лавина ПНЗ, это приводит к резкому увеличению обратного тока. Уравнение ВАХ в пред пробойной области описывается следующим соотношением:

 

где Um-напряжение пробоя

m-коэффициент ударной ионизации (коэф-т умножения)

n-Всл-на, каторая лежит в пределах 3/5, который зависит от типа полупроводникового материала

U-абсолютное значение приложенного напряжения

 

Туннельный пробой появляется в р-п переходах, образованных низкоомными полупроводниковыми материалами (сильнолегированные) т.е. ОПЗ очень меленький. В основе пробоя лежит тунелирование электронов сквозь тонкий потенциальный барьер (электрон осуществляет переход без изменения энергии). В сильных электромагнитных полях границы энергетических зон смещаются, и вблизи р-п перехода возникает достаточно тонкий потенциальный барьер, который является прозрачным для электронов Вер-ть туннельного прохождения электронов через потенциальный барьер определяется соотношением:

 

ε- напряженность электромагнитного поля

mn-эффект тока электрона

ΔE- ширина запретной зоны полупроводника

 

В Ge пробой при ε=2*105в\см; в Si- ε=4*105в\см

 

Тепловой пробой возникает в следствии разогрева р-п перехода при проходе через него достаточно большого обратного тока. С повышением температуры обратный ток резко возрастает, это приводит к увеличению мощности, рассеиваемой в р-п переходе. Если количество Джоуле вой теплоты, выделенной в р-п переходе теплоты, отводимой от р-п перехода, то температура р-п перехода резко возрастёт. Это приводит к увеличению концентрации ПНЗ в ОПЗ и дополнительному увеличению обратного тока. Это вызывает в свою очередь ещё больший разогрев р-п перехода.

Напряжение пробоя зависит от обратного тока, от удельного сопротивления полупроводника, качества теплоотвода и температуры окружающей среды. Наиболее характерная особенность ВАХ при пробое связана с появлением участка с отрицательным дифференциальным сопротивлением, для которого характерно: dU/dJ<0

Напряжение пробоя определяется соотношением

 

ΔE-ширина запретной зоны полупроводника

J0- обратный ток

Rt – тепловое сопротивление р-п перехода, которое определяется как коэффициент пропорциональности в следующем соотношении:

 

 

P-мощность, выделяемая в р-п переходе

Величина Rt зависит от теплопроводности и геометрической конфигурации кристалла. Тепловой пробой является необратимым (p-n переход разрушается при пробое). Пробой начинается когда обратный ток достигает достаточно большого значения.

Лавинный и туннельный пробой используется в специальных приборах- стабилитронах, которые используются для стабилизации напряжения. (ток меняется, а напряжение стабильно).

Обратно смещенный р-п переход в основе работы транзистора с управляющим р-п переходом.

 

 
 

 


Ток течёт по каналу с определённой шириной. - сопротивление

s-сечение канала

 

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
 | 
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-11; Просмотров: 572; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.008 сек.