КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Вольтамперная характеристика p-n перехода
Для вывода уравнения ВАХ воспользуемся законом сохранения количества электричества, которое в общем виде записывается следующим образом: (1) Левая часть (1)-изменение объёмной плотности заряда во времени. Правая соответствует числу элементарных электрических зарядов, втекающих в рассмотренный объём или вытекающих из него. Закон сохранения электричества для полупроводникового перехода с учётом процессов генерации и рекомбинации записывается в следующем виде: (2) jp-ток дырок - для электронов (3) G-гене рационный член (2) и (3) – уравнение непрерывности для дырок и электронной составляющих плотности тока. Левые части характеризуют рекомбинационные процессы. Величины Gn и Gp характеризуют скорости генерации e и дырок. Плотности e и дырок включают в себя и диффузионную, и дрейфовую составляющие, и имеют вид: (4) D-коэффициент диффузии (5) Подставим (4) и (5) в соотношение (2) и (3). Будем рассматривать одновременно случай, т.е. относительно координаты x. После подстановки получаем: (6) D – ккоэффициент диффузии τp – рекомбинационный член (7) ε-напряжонность электрического поля
Сделаем ряд допущений:
1) процессы генерации и в n и в p области в рассмотренных отсутствуют: Gn,Gp=0 2) будем рассматривать только стандартный случай (величины не зависят от t). 3) имеем дело с низким уровнем инжекции, напряженность электрического поля и её производная малы С учётом 1-3 уравнение непрерывности можно записать в след:
(8) где ΔPn - дырки в n области ΔPn=p-p0 (9) где p0,n0 – термодинамический равновесный концентрации Δpn, Δnp – избыточная концентрация электронов и дырок соответственно в n и p области Δpn, Δnp возникают в результате действия напряжения, приложенного к p-n переходу. Чтобы установить зависимость тока от напряжения нужно найти решение упрощённых уравнений напряженности упрощенных уравнений напряженности 6 и 7.
Dpτp=Lp2 – диффузионная длина дырок
(10) Уравнение непрерывности
При решении уравнения (10) будем считать, что ширина области простого заряда достаточно мала, генерацией принебрегаем, низкий уровень инжекции. n-область заключена между металлическими границами p-n перехода x=0 и внешним оммическим контактом оммический контакт x=0 Граничные условия Δpn=0 при x=wn Зависимость ΔPn от приложенного напряжения будет иметь вид (11) U- Внешнее напряжение С учётом условий (8) и (9) решение уравнения непрерывности будет иметь вид (12) где С1 и С2 – константы, которые имеют следующий вид. (13)
(14)
В окончательном виде решение уравнения непрерывности примет следующий вид: (15) Градиент концентрации дырок в n – области; (16) Оценим градиент при x=0 и подставим полученное выражение для плотности диффузионного тока: (17) Аналогично можно определить плотность диффузионной составляющей для электронов в p – области: (18)
(17) и (18), то получим (площадь n-p перехода) общий полный ток через p-n переход равен сумме электрон дырка состовляющих: (19)
Для достаточно больших U, тогда пренебрегаем eqU/KT.
ВАХ: (20) J0-обратный ток определяется через (19) Когда Wn>>Lp Диффузионная длина инжекторных дырок
S – площадь p-n перехода и выражение для обратного тока: Pn0-концентрация дырок в n области в термодинамическом равновесии
Когда выполняется обратные соотношения между L и шириной запретной зоны Wn<<Lp, Wp<<Ln.
Обратный ток равен:
В зависимости от протяженности областей p и n типа обратный ток определяется либо геометрическими размерами n и p областей (Wn и Wp) либо диффузионными длинами не основных носителей заряда. § Емкость p-n перехода (в методе) p-n переход при обратном смещении При обратном смещении на р-п переходе существует обратный ток пробой р-п перехода проявляется в резком увеличении обратного тока, которое возникает при достижении определённого критического значения напряженности. Существует 3 вида пробоя р-п перехода. 1) лавинный пробой 2) тунельный 3) тепловой Лавинный пробой характерен для широких р-п переходов, имеет большую область пространства заряда, которая формируется при контакте 2-х низколегированных полу-проводников. Если концентрация примеси мала, то имеем широкую область пространства заряда.
В основе механизма 1) лежит явление лавинного размножения подвижных носителей заряда в сильном электрическом поле р-п перехода. Если к р-п переходу приложено высокое обратное напряжение, то напряженность элек. поля в ОПЗ может оказаться настолько большой, что ННЗ, ускоряемые этим полем приобретают энергию, достаточную для ионизации атомов полупроводника. В результате ударной ионизации в ОПЗ (область прост. Заряда) развивается лавина ПНЗ, это приводит к резкому увеличению обратного тока. Уравнение ВАХ в пред пробойной области описывается следующим соотношением:
где Um-напряжение пробоя m-коэффициент ударной ионизации (коэф-т умножения) n-Всл-на, каторая лежит в пределах 3/5, который зависит от типа полупроводникового материала U-абсолютное значение приложенного напряжения
Туннельный пробой появляется в р-п переходах, образованных низкоомными полупроводниковыми материалами (сильнолегированные) т.е. ОПЗ очень меленький. В основе пробоя лежит тунелирование электронов сквозь тонкий потенциальный барьер (электрон осуществляет переход без изменения энергии). В сильных электромагнитных полях границы энергетических зон смещаются, и вблизи р-п перехода возникает достаточно тонкий потенциальный барьер, который является прозрачным для электронов Вер-ть туннельного прохождения электронов через потенциальный барьер определяется соотношением:
ε- напряженность электромагнитного поля mn-эффект тока электрона ΔE- ширина запретной зоны полупроводника
В Ge пробой при ε=2*105в\см; в Si- ε=4*105в\см
Тепловой пробой возникает в следствии разогрева р-п перехода при проходе через него достаточно большого обратного тока. С повышением температуры обратный ток резко возрастает, это приводит к увеличению мощности, рассеиваемой в р-п переходе. Если количество Джоуле вой теплоты, выделенной в р-п переходе теплоты, отводимой от р-п перехода, то температура р-п перехода резко возрастёт. Это приводит к увеличению концентрации ПНЗ в ОПЗ и дополнительному увеличению обратного тока. Это вызывает в свою очередь ещё больший разогрев р-п перехода. Напряжение пробоя зависит от обратного тока, от удельного сопротивления полупроводника, качества теплоотвода и температуры окружающей среды. Наиболее характерная особенность ВАХ при пробое связана с появлением участка с отрицательным дифференциальным сопротивлением, для которого характерно: dU/dJ<0 Напряжение пробоя определяется соотношением
ΔE-ширина запретной зоны полупроводника J0- обратный ток Rt – тепловое сопротивление р-п перехода, которое определяется как коэффициент пропорциональности в следующем соотношении:
P-мощность, выделяемая в р-п переходе Величина Rt зависит от теплопроводности и геометрической конфигурации кристалла. Тепловой пробой является необратимым (p-n переход разрушается при пробое). Пробой начинается когда обратный ток достигает достаточно большого значения. Лавинный и туннельный пробой используется в специальных приборах- стабилитронах, которые используются для стабилизации напряжения. (ток меняется, а напряжение стабильно). Обратно смещенный р-п переход в основе работы транзистора с управляющим р-п переходом.
Ток течёт по каналу с определённой шириной. - сопротивление s-сечение канала
Дата добавления: 2014-01-11; Просмотров: 572; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |