КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Распределение рассеянного в среде излучения
Если рассеянное в защите излучение не попадает в точку детектирования, то для любой характеристики Gнр нерассеянного поля излучения, определяемой частицами, не претерпевшими взаимодействия - мощности дозы, плотности потока энергии или частиц, флюенса и др. - можно записать простое соотношение: , (5.12) где G0 - характеристика поля в отсутствие защиты; Gнр - то же при наличии защиты; d - толщина защиты; m - линейный коэффициент ослабления. Если детектор регистрирует только нерассеянное излучение, говорят о «хорошей геометрии» измерений, или об измерениях в геометрии узкого пучка. В реальных задачах всегда наряду с нерассеянным излучением регистрируется и многократно рассеянное в защите излучение. Геометрию, при которой детектор регистрирует нерассеянные и рассеянные частицы, называют геометрией широкого пучка (рис. 5.4). Бывает, что вклад в мощность дозы от рассеянного излучения может многократно (иногда в несколько тысяч раз) превосходить вклад от нерассеянного. Обычно этот вклад учитывается введением в соотношение (5.12) множителя В: , (5.13) где В(Еg, md, z) - фактор накопления, зависящий от характеристик источника излучения, материала защиты и ее толщины, а также от компоновки защиты. Таким образом, фактор накопления равен кратности превышения характеристик поля нерассеянного (Gнр) и рассеянного (Gр) излучения над характеристиками поля нерассеянного g-излучения: . (5.14) Для различных регистрируемых характеристик поля излучения различают фактор накопления: числовой (для плотности потока g-квантов), энергетический (для плотности потока энергии g-квантов), дозовый (для экспозиционной дозы), поглощенной энергии (для поглощенной в среде энергии). Различные виды геометрий защит приведены на рис. 5.5: бесконечная, полубесконечная, барьерная и ограниченная. Если добавление дополнительных слоев снаружи защиты не изменяет показаний детектора, то тогда защита может считаться бесконечной. Как правило, это означает не менее 4 - 6 длин свободного пробега3 за детектором или источником по линии, их соединяющей, и 2 - 3 длины свободного пробега перпендикулярно к этой линии. В дальнейшем расстояние будем измерять в безразмерных единицах md (d - толщина защиты), поскольку так удобнее сравнивать легкие и тяжелые материалы. Значение md = 1 соответствует толщине защиты, равной длине свободного пробега . Очевидно наибольший фактор накопления будет для бесконечной геометрии, он уменьшается по мере ограничения защиты, поскольку становится меньше возможностей для рассеяния и попадания рассеянного излучения в детектор. В различных справочниках по защите от ионизирующих излучений приводятся численные значения факторов накопления для различных характеристик поля излучения и материалов в бесконечной геометрии. Фрагмент такой таблицы, содержащей значения, необходимые для данной работы, приведен в табл. 5.2. Таблица 5.2 Дозовые факторы накопления g-излучения с энергией 0,661 МэВ (137Cs) для точечного изотропного источника в бесконечной среде
Значения факторов накопления получают из решения кинетического уравнения переноса излучения численными методами. Существует множество эмпирических формул, аппроксимирующих значения фактора накопления в различных средах при различных энергиях. Наиболее удобная форма аналитического представления факторов накопления для бесконечной геометрии была предложена Тейлором: , (5.15) где коэффициенты А1, a1, a2 зависят только от Еg и z материала и не зависят от толщины защиты md. Значения А1, a1, a2 для точечного изотропного источника и бесконечной геометрии приведены в табл. 5.3. Погрешность формулы Тейлора не превышает 5 – 8 %. Наиболее часто для защиты от изотопных источников применяется барьерная защита. Для такой защиты обычно вводится поправка на барьерность в виде множителя к фактору накопления в бесконечной среде. Для энергии Еg = 0,661 МэВ поправка на барьерность d составляет: для алюминия - 0,814, для железа – 0,88. Энергетическая зависимость факторов накопления для точечного изотропного источника в различных материалах приведена на рис. 5.6. Для легких и средних элементов в данном диапазоне энергий преобладает комптоновское рассеяние и отношение средней энергии рассеянного излучения к энергии первичного растет с уменьшением энергии. Это приводит к накоплению излучения малых энергий и только за счет фотоэффекта при очень малых энергиях не происходит накопления до бесконечности. Конку-ренцией этих процессов обусловлен пик в области малых энергий. Несколько иначе протекают процессы в тяжелых веществах, например, в свинце. В указанном диапазоне энергий у свинца фактор накопления невелик, т.к. в тяжелых веществах преобладает фотоэлектрическое поглощение. С рос-том энергии влияние фотопоглощения уменьшается и фактор накопления растет. При небольшой толщине среды значение фактора накопления проходит через максимум в области ~ 1 - 2 МэВ, а затем уменьшается с ростом Еg (происходит поглощение g-квантов за счет образования пар). Таблица 5.3 Коэффициенты А1, a1, a2 для представления фактора накопления g-излучения по формуле Тейлора
Зависимость фактора накопления от толщины защиты проявляется в том, что при увеличении толщины фактор накопления вообще возрастает, хотя характер возрастания и причины для легких и тяжелых материалов несколько различны. Для высоких энергий у средних и легких элементов скорость возрастания фактора накопления с толщиной близка к линейной (рис. 5.7 а)). У тяжелых элементов, если Е < Еmin, фактор накопления растет медленно с расстоянием, а при Е > Еmin распространение большинства g-квантов будет определяться не m, а mmin, и фактор накопления на чинает быстро расти (рис. 5.7 б)). Зависимость фактора накопления от атомного номера материала проявляется в уменьшении его с ростом Z. Исключение составляют большие энергии (> 3 МэВ) и большие толщины материалов. В этих случаях зависимость фактора накопления от Z вначале растет, проходит через максимум, а затем медленно падает. Зависимость фактора накопления от взаимного расположения источника, детектора и ограниченной защиты представляет особый интерес при расчете защиты рабочего места в помещении с источником излучения. Существенная разница между фактором накопления при расположении источника вблизи защиты и при достаточном удалении от нее видна на рис. 5.8. Чем меньше первичного излучения попадает в защиту, тем меньше будет фактор накопления. Это обстоятельство широко используется при проектировании защит от источников ионизирующего излучения. Факторы накопления гетерогенных защит. Большинство реально сооружаемых защит состоит не из одного материала, а из нескольких, размещаемых слоями. Основная трудность в проектировании таких защит состоит в определении рассеянного компонента излучения. Если на первый слой вещества падает моноэнергетическое излучение, то на второй и последующие - излучение с непрерывным спектром, причем форма спектра зависит от материалов и толщин всех предыдущих слоев. Существует множество полуэмпирических формул для расчета факторов накопления гетерогенных защит. Физический смысл построения этих формул в том, что для n-го слоя рассматривается зависимость от толщины так, как это было бы, если все предыдущие слои состояли из того же материала, а исходной точкой служит «накопленный» до этого слоя фактор накопления. Графическая интерпретация фактора накопления в случае чередующихся слоев воды и алюминия показана на рис. 5.9. Для численных расчетов может быть применена формула Бродера: , (5.16) где номер слоя i отсчитывается от источника, N - число слоев. Следует заметить, что запись вида означает, что фактор накопления берется из таблиц или графиков как функция от аргумента .
Основной недостаток построения этой формулы в том, что в ней не учитываются переходные эффекты вблизи границ раздела слоев. Влияние граничных эффектов на поведение фактора накопления показано на рис. 5.10. Видно, что при переходе из легкого вещества (воды) в тяжелое (свинец) формула Бродера неприменима. Свинец за счет большого сечения фотоэффекта интенсивно поглощает рассеянное в воде излучение. Для более близких по атомному номеру веществ, например, вода - алюминий или алюминий - железо переходные процессы почти незаметны и формулой Бродера вполне можно пользоваться. В конкретном случае, для двух слоев железо-алюминий формула Бродера расписывается так: . (5.17) Если первый слой – алюминий, второй – железо, в выражении (5.17) надо поменять индексы Al «Fe. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА Целью настоящей работы является определение дозовых факторов накопления и получение экспериментальных зависимостей факторов накопления различных материалов от толщины защиты. Исследуется влияние на фактор накопления взаимного расположения источника, детектора и защиты. Определяется фактор накопления гетерогенной защиты. Схема проведения измерений дозового фактора накопления приведена на рис. 5.11. Между источником (1), находящимся в контейнере (2) и детектором (3), устанавливаются алюминиевые или железные пластины (4), рассматриваемые в данном случае как защита. Для измерения мощности экспозиционной дозы используется дозиметр ДРГ-03. В качестве источника g-излучения используется 137Cs, имеющий энергию g-линии 662 кэВ. Толщина алюминиевых пластин d = 0,92 см, железных - 0,74 см, линейный коэффициент ослабления g-излучения в алюминии m = 0,194 см-1, в железе - 0,573 см-1.
Дата добавления: 2014-12-08; Просмотров: 568; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |