КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Материалы проекта ISO 9000. Законодательные основы управления качеством
Законодательные основы управления качеством Контрольные карты по качественным признакам Контрольные карты по количественным признакам Контрольные карты по количественным признакам - это как правило сдвоенные карты, одна из которых изображает изменение среднего значения процесса, а 2-я - разброса процесса. Разброс может вычисляться или на основе размаха процесса R (разницы между наибольшим и наименьшим значением), или на основе среднеквадратического отклонения процесса S. В настоящее время обычно используются x- S карты, x - R карты используются реже. Карта для доли дефектных изделий (p - карта) В p - карте подсчитывается доля дефектных изделий в выборке. Она применяется, когда объем выборки - переменный. Карта для числа дефектных изделий (np - карта) В np - карте подсчитывается число дефектных изделий в выборке. Она применяется, когда объем выборки - постоянный. Карта для числа дефектов в выборке (с - карта) В с - карте подсчитывается число дефектов в выборке. Карта для числа дефектов на одно изделие (u - карта) В u - карте подсчитывается число дефектов на одно изделие в выборке. Бланк контрольной карты
Концепция взаимного признания
Дата добавления: 2015-04-29; Просмотров: 331; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |