ВОПРОСЫ к экзамену по дисциплине «Оптические измерения» -2014 г

1. Способы регистрации интерференционных картин, полученных при контроле формы оптических поверхностей. Амплитудный метод обработки интерферограмм, его достоинства и недостатки.

2. Деформация волнового фронта при взаимодействии с поверхностью, имеющей погрешность. Типовые погрешности формы оптических поверхностей и соответствующие им типовые интерферограммы.

3. Измерение показателей преломления оптических стекол на рефрактометре. Требования к измеряемому образцу. Конструктивные особенности рефрактометра Аббе. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

4. Измерение формы плоских поверхностей малого и среднего диаметров на интерферометрах, построенных по схеме Физо. Конструктивные особенности интерферометров. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

5. Измерение оптической передаточной функции методом непосредственного сканирования. Конструктивные особенности измерительного устройства. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

6 Измерение формы плоских поверхностей большого диаметра методом Коммона. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

7. Измерение фокусных расстояний объективов, положительных и отрицательных линз методом увеличений на оптической скамье. Конструктивные особенности измерительного устройства. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

8. Измерение формы плоских поверхностей большого диаметра на интерферометрах, построенных по схеме Физо. Конструктивные особенности интерферометров. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

9. Измерение формы вогнутых сферических поверхностей на интерферометре с квазиапланатическим мениском. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

10.Измерение формы вогнутых сферических поверхностей на интерферометре с куб-призмой. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений, способы устранения некоторых факторов.

11. Измерение формы эллиптических поверхностей методом анаберрационных точек. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

12. Измерение формы параболических поверхностей методом анаберрационных точек. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

13. Измерение формы вогнутых и выпуклых сферических поверхностей малого и среднего диаметров на интерферометре Коломийцова - Духопела. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

14. Измерение оптической неоднородности заготовок оптического стекла по разрешающей способности. Конструктивные особенности измерительного устройства. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

15. Измерение формы выпуклых сферических поверхностей большого диаметра на интерферометре ДВИН-600. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

16. Измерение углов и пирамидальности призм автоколлимационным способом на гониометре-спектрометре. Конструктивные особенности гониометра-спектрометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

17 Измерение формы выпуклых поверхностей крупногабаритных линз на интерферометре ИКАП с использованием крупногабаритного эталонного зеркала. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

18. Измерение формы гиперболических поверхностей методом анаберрационных точек. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

19. Измерение формы вогнутых сферических и асферических поверхностей на сдвиг-интерферометре ИНТЕРС. Конструктивные особенности интерферометра. Проблемы, возникающие при обработке сдвиг-интерферограмм и пути их решения. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

20. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью контактного сферометра. Конструктивные особенности двух модификаций прибора. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

21. Измерение формы эллиптических поверхностей компенсационным методом. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

22. Измерение формы вогнутых сферических и асферических поверхностей на интерферометре ФЭИ. Конструктивные особенности интерферометра. Работа прибора в двух режимах: двухлучевого интерферометра и сдвиг-интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

23. Измерение формы вогнутого параболоида диаметром 6 м компенсационным методом. Конструктивные особенности интерферометра типа ИКАП и двух вариантов компенсаторов аберраций нормалей. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

24. Измерение показателей преломления оптических стекол методом Фраунгофера на гониометре-спектрометре. Требования к измеряемому образцу. Конструктивные особенности гониометра-спектрометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

25. Измерение фокусных расстояний и дисторсии объективов с помощью гониометра. Конструктивные особенности измерительного устройства. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

26. Контроль качества изображения объективов малого и большого диаметров по изображению точки (функции рассеяния точки). Конструктивные особенности измерительных устройств. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

27 Измерение поперечной и продольной аберраций объективов. Конструктивные особенности измерительных устройств. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

28. Контроль рабочих расстояний объективов интерферометрическим методом. Конструктивные особенности интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

29. Измерение волновых аберраций объективов малого и большого диаметров. Конструктивные особенности измерительной ветви интерферометра. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

30. Контроль фокальных отрезков и рабочих расстояний объективов визуальным методом. Конструктивные особенности измерительных устройств.Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

31. Измерение фокусных расстояний объективов методом Аббе. Конструктивные особенности измерительных устройств. Анализ факторов, влияющих на точность измерений.

32. Контроль качества объективов по разрешающей способности. Особенности используемых тест-объектов. Методика исследования разрешающей способности по центру и краю поля.

Дата добавления: 2015-05-08