Многолучевая интерференция

Пределы измерения на интерферометре будут более широким.

При работе с интерферометром нет контакта между эталоном и проверяемой деталью.

Проверяемая деталь

Компенсационная пластинка

Источник света

2- полупрозрачная плоскопараллельная пластинка. От неё лучи отражённые отправляются на зеркало 3, преломленный участок лучей направился вверх

Пучки лучей когерентные, отражённые от проверяемой детали и отражённые от эталонного зеркала встречаются на верхней границе пластины- 2, эту картину рассмотрим через окуляр- 6.

r = 0,8 ¸ 0,9

Многолучевая интерференция возникает в том случае, если идеальная плоскопараллельная пластинка стеклянная или воздушная имеет высокий коэффициент отражения. Происходит множество отражений интенсивность отражённых лучей и преломлённых одинакова. Мы получаем интерференцию, как в отражённом, так и в проходящем. Они отличаются в проходящем свете будет чередование узких max и широких min В отражённом наоборот. Для эталона Фабри Перо пластины изготавливают в виде клина, а материалом является кварц. Допуск на плоскостность

Дата добавления: 2015-06-04