Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Дифракционная решётка


Эмпириокритицизм

Основное содержание эмпириокритицизма (философии "критического опыта") составили идеи, высказанные немецким философом Эрнстом Лаосом (1837-1885), швейцарским философом Рихардом Авенариусом (1843-1896), австрийским физиком Эрнстом Махом (1838-1916).

Они разработали главные принципы, которые должны быть положены в основание научного исследования:

1.Принцип «корреляции» или "координации" то есть соотносительной связи субъекта и объекта в процессе познания. Согласно ему, научное знание зависит в своем содержании, от субъекта познания, ибо он реально имеет дело в опыте только со своими ощущениями.

2.Принцип критики опыта с целью очищения его содержания от ненужных иллюзий, выдумок, теоретических фантазий.

3.Принцип экономии мышления, выступающий логическим продолжением принципа критики опыта, требует от ученого "экономии сообщения и понимания".

 

1. Интенсивность света за дифракционной решёткой.

2. Дифракционные максимумы и минимумы и сотношение их интенсивностей.

1. Дифракционная решётка является одним из важнейших спектральных устройств, она выполняется в виде прозрачного материала на котором делительной машиной из тонкого резца наносятся штрихи.

Решётка состоит из областей, пропускающих свет , и не прозрачных для света. Размеры этих областей можно считать примерно одинаковыми. Причём ширина = a, а не прозрачной = b.

Тогда период решётки d = a+b.

Число штрихов на решётке, размером порядка 1 см. достигает 1000 на 1 мм. Это выполняется с помощью особых лазерных технологий.

Дополним решение волнового уравнения для плоской волны более обшей формулой, используя комплексное число если и формулу Эйлера.

Решение волнового уравнения из лекции 1 запишем в виде

Рассмотрим дифракцию Фраунгофера в паралельных лучах света на дифракционной решётке.

 

Схема имеет вид:

 


 

 

Напряжённость поля Ep от элемента dx с учётом того, что имеется N щелей, выражаются очевидным соотношением:



где A= const

Проинтегрируем выражение (1) в пределах от – а/2 до +а/2.

Тогда получим напряжённость поля в точке P, даваемую N щелями:

При

 

Тогда напряжённость поля в точке P равна:

 

Ряд стоящий в [ ] является степенным и легко суммируется с учётом формулы для N членов геометрической прогрессии.

Тогда приходим к соотношению:

 

Используя формулу Эйлера для последней формулы получаем окончательное выражение для напряжённости поля в точке P:

 

Умножая выражение 2 на комплексно-сопряжённое

 

Интенсивность света в точке P даётся соотношением:

С учётом выражений для и формулу 3 запишем в окончательном виде:

 

2.Из формулы (4) найдём направление на главные дифракционные максимумы. Они получаются из условия ,что:

 

 

1. дифракционные максимумы ; m`=0,,,

 

Найдём направление на дифракционные минимумы, даваемые решёткой. Они находятся из двух условий:

 

2. дифракционные минимумы разделим на N

; P=1,2,3….N-1

 

3. Побочные дифракционные максимумы располагаются между побочными дифракционными минимумами. Поэтому направление на них можно определить как среднее значение для направлений на побочные минимумы.

; P=1,2,3….N-1

 

График зависимости интенсивности света точке P от угла дифракции П в соответствии с приведёнными выше расчётами имеет вид:

 

 


N=5

N-1 - min

 

Iгл=N2I1

 

j-1 j+1

 

 

При формула для интенсивности с учётом первого замечательного предела даёт:

 

 

Интенсивности света в побочных дифракционных максимумах, ближайших к основному, как показывает расчёт по формуле для интенсивности света в точке P (3, 4 формула (смотри выше)) даёт

Ip: 1: 0,045; 0,016; 0,008.

 

Поможем в написании учебной работы
Поможем с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой
<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Основные исторические формы позитивистской философии | Види інвестиційних проектів та вимоги до їх розробки

Дата добавления: 2014-01-03; Просмотров: 340; Нарушение авторских прав?;


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



ПОИСК ПО САЙТУ:


Читайте также:
studopedia.su - Студопедия (2013 - 2022) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.033 сек.