Критерий Рэлея

Разрешающая способность оптических приборов

Практические применения

1. Метод рентгеноструктурного анализа: по заданным значениям j и m можно найти межплоскостное расстояние d, т.е. определить структуру металла. При дифракции электронов - электронография; при дифракции нейтронов - нейтронография.

2. Метод рентгеновской спектроскопии: по известным значениям d, j, и m находят длину волны l падающего неизвестного излучения.

Рис. 2. Дифракционное изображение точечного источника (дифракция на круглом отверстии). В центральное пятно попадает приблизительно 85 % энергии света.

Даже для идеальных приборов (отсутствуют дефекты и аберрации) невозможно получить стигматическое изображение точечного источника из-за дифракции.

Размер дифракционных изображений очень мал. Например, радиус центрального светлого пятна в фокальной плоскости линзы диаметром D = 5 см с фокусным расстоянием F = 50 см в монохроматическом свете с длиной волны λ = 500 нм приблизительно равен 0,006 мм. Но в высокоточных астро­но­ми­ческих приборах реализуется дифракци­он­ный предел качества изо­бра­же­ний. Вслед­ствие дифракционного размытия изобра­жения двух близких точек объекта могут оказаться неотличимыми от изо­бра­же­ния одной точки.

Изображения двух одинаковых близ­лежащих точечных источ­ни­ков разрешимы (разделены для вос­приятия), если центральный мак­симум дифракционной кар­ти­ны от одного источника совпадает с первым минимумом дифра­кци­он­ной картины от другого.

По критерию Рэлея интен­сив­ность «провала» между макси­му­мами составляет 80% интен­сив­но­сти в максимуме.

Дата добавления: 2013-12-13