КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Методы ослабления их влияния
Нивелирования Лекция 13. Источники ошибок при высокоточном нивелировании и методы ослабления их влияния. Методика высокоточного
13.1. Источники ошибок при высокоточном нивелировании и Ошибки при высокоточном нивелировании бывают случайные и систематические. В свою очередь, все эти ошибки делятся еще на личные, инструментальные и ошибки за счет влияния внешних условий. Проблема ошибок в высокоточном нивелировании довольно сложная. Дело в том, что с помощью высокоточного нивелирования часто решают задачи определения величин, соизмеримых с ошибками измерений (определение вертикальных деформаций земной поверхности, наблюдения за движением оползней, осадками крупных инженерных сооружений и т.д.), которые достаточно квалифицированно можно решить лишь при условии глубокого знания источников ошибок и методов ослабления их влияния. Рассмотрим общепринятые подходы к ослаблению влияния основных ошибок высокоточного нивелирования. 1. Влияние угла i (проекции на отвесную плоскость угла между визирной осью трубы и осью цилиндрического контактного уровня) на результаты нивелирования. Вычертим схему влияния угла i на отсчеты по рейкам (рис.13.1). Рис. 13.1. Влияние угла i на результаты нивелирования: З, П - истинные отсчеты по задней и передней рейкам (i = 0 ); З¢, П¢ - фактические отсчеты по задней и передней рейкам (i ≠ 0); dз, dП - расстояния от нивелира до задней и до передней реек; h - превышение на станции. Согласно обозначениям, данным на рис. 13.1, можно записать: (13.1) Тогда превышение h на станции, свободное от влияния угла i,будет равно (13.2) По аналогии с 13.2 можно записать выражение для превышения ΔН по секции, равное Σ h, т.е. (13.3) Второй член в формулах (13.2 – 13.3) есть поправка в превышение за влияние угла i. При dЗ = dП эта поправка исключается. Поэтому нивелирование выполняется из середины, и методика нивелирования требует, чтобы разности расстояний (dЗ - dП) на каждой станции и накопление их по секции не превышали установленных допусков. Например, при нивелировании I класса требуется, чтобы на каждой станции (dЗ - dП) £ 0,5м, а в секции накопление этих разностей было не более 1м. Кроме того, устанавливается допуск на угол i (i £ 10²). Однако этих мер для защиты результатов нивелирования от влияния угла i недостаточно, так как сам угол i может изменяться в процессенивелирования в зависимости от изменения t° окружающего воздуха. Поэтому методика производства высокоточного нивелирования предусматривает еще следующие дополнительные меры для уменьшения влияния угла i: —применение нивелиров с теплозащитным корпусом, у которых угол i изменяется не более, чем на 0.5² при изменении t° на 1°С; — наблюдения на станциях следует выполнять по строго симметричной во времени программе измерений (ЗППЗ или ПЗЗП); — прямой и обратный ходы прокладывать один утром, другой – вечером, т.е. при разных знаках приращения t° воздуха; — необходимо тщательно защищать нивелир от солнца как во время работы на станции, так и при переходе от одной станции к другой; — перед началом работ нивелир следует выдерживать в тени на штативе не менее 45 минут. 2. Систематическое влияние вертикальных перемещений костылей и штативов на результаты нивелирования. В высокоточном нивелировании рейки, как правило, устанавливаются на костыли, которые в большинстве случаев оседают под воздействием собственной массы, массы реек и неизбежного нажима на рейку. Штатив, на котором расположен нивелир, также испытывает вертикальные перемещения вследствие того, что вокруг него топчется нивелировщик, а так же по ряду других причин. Исследования показали, что в подавляющем большинстве случаев штатив подвергается выпиранию, т.е. в обоих случаях эти влиянии систематические. Меры их ослабления следующие: а) трассы прямого и обратного нивелирных ходов должны совпадать и проходить по возможности на всем протяжении по грунтам средней плотности; б) число станций в прямом и обратном ходах должны быть четным и одинаковым; в) программа наблюдений на станции должна быть строго симметричной во времени; г) порядок наблюдений на смежных станциях следует чередовать: на нечетной станции наблюдения начинать с задней, а на четной - с передней рейки; в обратном ходе наоборот; д) по ходам нивелирования I класса костыли следует закреплять не ближе 0,5м друг от друга; е) штатив следует устанавливать без перекоса и во время работы защищать от солнца; ж) отсчеты по рейке, установленной на костыль, следует брать не ранее, чем через 30 секунд; з) нивелирование выполнять участками 20—30 км по схеме «восьмерка», т.е. одну половину секций участка сначала проходить в прямом направлении, а вторую в обратном. 3. Влияние наклона рейки (рис.13.2). Это влияние носит систематический характер, так как всегда увеличивает отсчет по рейке до величины , где - наклон рейки.
Рис. 13.2. Для уменьшения этого влияния рейка снабжается круглым уровнем. 4. Влияние разностей высот нулей реек исключают путем соблюдения требования четного числа станций в секции.
5. Влияние вертикальной рефракции. Для уменьшения этого влияния необходимо: а) применять строго симметричную по времени программу наблюдений на станции, сократив до минимума время наблюдений; б) прокладывать прямой и обратный ходы в разное время дня; в) строго соблюдать требования инструкции о высоте визирного луча над землей и расстоянии от нивелира до реек:
6. Влияние отличия t° нивелирования от t° компарирования рейки. Как мы знаем шкала деления на высокоточных нивелирных рейках изготавливается из инвара, который, как и любой реальный материал, обладает способностью изменять свои размеры при изменении t°. Компарирование реек, т.е. определение длин метровых интервалов, выполняется при одной температуре (tК), а нивелирование по трассе - при другой - (tН). Разность температур нивелирования и компарирования неизбежно вызовет изменение средней длины метра комплекта реек. Следовательно, в результаты нивелирования нужно ввести поправку за эту температурную разность, которую приближенно можно вычислить по формуле: , (13.4) где - поправка за температуру; - превышение по секции; a - средний коэффициент инварного расширения; tН – средняя температуранивелирования по секции; tК - температура компарирования реек. Строгий учет температурного влияния на результаты высокоточного нивелирования предусматривает измерение температуры каждой рейки на каждой станции и введение поправки в отсчет по каждой рейке согласно формуле: , (13.5) где - температуры нивелирования и компарирования, соответственно, задней и передней реек; — коэффициенты инварного расширения для задней и передней реек; З и П— отсчеты по задней и передней рейкам. Тогда по секции формула для введения поправки за температуры будет иметь вид: , (13.6) где n — число станций в секции.
Дата добавления: 2013-12-13; Просмотров: 1377; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |