КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Зависимость концентрации носителей заряда от температуры
Элементы статистики электронов. Из выражения для собственной концентрации носителей заряда Находим зависимость логарифма ni от T: Рассмотрим примесный полупроводник. В широком диапазоне температур и для различного содержания примесей имеют место температурные зависимости концентрации носителей заряда в полупроводнике n-типа, показанные на 16.11 (рис.42.)
Рис. 16.11.
Область собстственной Рис.16.12.Области собственной и примесной электропроводности в.зависимости от температуры в полупроводнике
Проанализируем случаи: а) NД1 - малая концентрация доноров. В области низких температур увеличение концентрации электронов при нагревании полупроводника обусловлено возрастанием степени ионизации доноров (участок 1-4). Каждый ионизированный донор можно рассматривать как центр, захвативший дырку. Наклон прямой на участке 1-4 характеризует энергию ионизации примесей. При дальнейшем повышении температуры при некоторой температуре (точка 4) все электроны с примесных уровней будут переброшены в зону проводимости. При этом вероятность ионизации собственных атомов полупроводника еще очень мала. Поэтому в достаточно широком температурном диапазоне (участок 4-6) концентрация носителей заряда остается постоянной и практически равной концентрации доноров. Этот участок называется областью истощения примесей. При относительно высоких температурах (участок кривой за точкой 6) происходит переход в область собственной проводимости (перебросы электронов из валентной зоны через запрещенную в зону проводимости). Крутизна кривой определяется DЭ - шириной запрещенной зоны. Тi - температура перехода к собственной электропроводности. Тi для большинства полупроводников много больше Ткомнатн. При повышении NД (NД2>NД1) кривые температурной зависимости смещаются вверх. Это следует из выражения (а). С повышением концентрации примесей уменьшается расстояние между атомами примесей. Это приводит к более сильному взаимодействию электронных оболочек примесных атомов и к расщеплению дискретных энергетических уровней в примесные зоны. При достаточно большой концентрации NД3 их энергия ионизации DЭД3=0, т.к. образовавшаяся примесная зона перекрывается зоной проводимости, т.е. такой полупроводник является вырожденным и способен проводить электрический ток при очень низких температурах. Вырожденные полупроводники иногда называют полуметаллами.
При невысоких температурах полупроводника, в зависимости от валентности атомов примеси, в нем.можно ожидать примесную электропроводность — электронную или дырочную Рис. 16.12. При нагревании же полупроводника в нем будет значительно увеличиваться собственная электропроводность, при которой количества собственных свободных электронов и дырок равны. Поэтому при высоких температурах преобладающей будет собственная электропроводность, при которой действительны оба ее типа: п- и р-электропроводности. При этом исчезает различие в электропроводности. Это означает, что если благодаря примесям германий при низких температурах имел преимущественно дырочную электропроводность, то при высоких температурах ее преобладание исчезает. График изменения величины удельной проводимости γ полупроводника в зависимости от температуры показан на рис.16.12.
R,I Рис.16.13. Зависимость сопротивления и тока в полупроводнике от напряжения.
Электрическое сопротивление полупроводниковых материалов не является величиной постоянной (как в металлических проводниках), а зависит от величины прилагаемого к нему напряжения. Электрическое сопротивление полупроводников уменьшается с увеличением приложенного к ним напряжения, а ток увеличивается. На рис. 16.13 показаны кривые зависимости сопротивления и тока в полупроводнике от приложенного к нему напряжения. Из рисунка видно, что падает, а ток резко возрастает. Полупроводник с несимметричной вольтамперной характеристикой в течение одной полуволны переменного напряжения будет пропускать ток, а в течение другой полуволны ток пропускать не будет. Такие полупроводниковые материалы могут быть использованы для изготовления из них полупроводниковых выпрямителей.
Фотопроводимость
Весьма важным для использования полупроводниковых материалов является тот факт, что некоторые полупроводники резко повышают свою проводимость под действием световых излучений. Это вызывается тем, что световые излучения передают электронам, слабо закрепленным в атомах, определенные количества энергии, достаточные для того, чтобы освободить их из атома. Это свойство полупроводников называется фотопроводимостью. Если такие полупроводники приключить к внешнему
источнику напряжения, то в темноте они будут иметь меньшую проводимость, а на свету или при специальном освещении — значительно большую. Это свойство используется в фотосопротивлениях, чувствительных не только к видимому участку спектра, но и к инфракрасным излучениям.
Полупроводники с фотопроводимостыо можно использовать для создания фотоэлементов, преобразующих энергию светового излучения в электрическую. Если осветить часть полупроводника, то в освещенном и неосвещенном участке возникнет различная концентрация электронов, т. е. создается разность потенциалов-— фотоэлектродвижущая сила. На этом принципе работают различные фотоэлементы и преобразователи солнечной энергии в электрическую — солнечные батареи. Далее см. с.60-66 Электронно-дырочный переход
Рис. 16.13. При легировании одной области полупроводника акцепторной примесью, а другой области - донорной, возникает тонкий переходный слой, обладающий особыми свойствами. В этом слое, в результате диффузии носители заряда перемещаются оттуда, где их концентрация больше, туда, где их концентрация меньше. Таким образом, из полупроводника p-типа в полупроводник n-типа диффундируют дырки, а из полупроводника n-типа в полупроводник p-типа диффундируют электроны. При этом, они объединяются с имеющимися в соседних областях основными носителями противоположного знака - рекомбинируют. В этом случае, у границы переходного слоя возникает область обедненная подвижными основными носителями заряда и обладающая высоким сопротивлением - p-n переход. Неподвижные ионы, остающиеся по обе стороны граничного слоя создают одинаковые по значению, но разные по знаку пространственные объемные заряды: в p-слое - отрицательный, а в n-слое - положительный. Этот двойной электрический слой создает электрическое поле, которое препятствует дальнейшему проникновению носителей заряда и возникает состояние равновесия рис. 16.13, (рис. 1.2). При подключении источника тока так, что к области p-проводимости присоединен отрицательный полюс источника, а к области n-проводимости - положительный полюс возникает поле, под влиянием которого электроны и дырки будут в большом количестве соответственно отталкиваться в глубь полупроводников, рис.16.14.(рис. 1.3).
Рис. 16.14. Принцип работы перехода – а) обратное напряжение; б) – прямое напряжение. P-n переход увеличится, его сопротивление возрастет и в цепи полупроводникового диода электрического тока практически не будет. Однако незначительному количеству неосновных носителей зарядов (положительных) из n-области и (отрицательных) из p-области, имеющих большие скорости, удастся проскочить p-n-переход, и в цепи будет протекать весьма небольшой ток, называемый обратным током. Двойной электрический слой аналогичен конденсатору, в котором роль диэлектрика играет запирающий слой, имеющий значительное сопротивление. Емкость p-n-перехода, возникающая в этом случае носит название барьерной. Эта емкость оказывается нелинейно зависящей от обратного запирающего напряжения. С ростом обратного напряжения толщина запирающего слоя увеличивается, а емкость - уменьшается (рис.16.15) (1.4). Рис. 16.15. Зависимость барьерной ёмкости от обратного напряжения. При изменении полярности источника, подключенного к диоду, электроны n-области и дырки p-области будут взаимно притягиваться и перемещаться к границе этих полупроводников. P-n переход сужается, его сопротивление резко уменьшается, и создаются условия для перехода большого количества электронов из n-области в p-область, а следовательно, для перехода дырок в противоположном направлении. При таком включении полупроводникового диода в цепи появится значительный электрический ток, носящий название прямого тока. Сила прямого тока в полупроводниках нелинейно зависит от величины приложенного к ним напряжения. Из описания процесса, происходящего на границе двух полупроводников с различной по знаку проводимостью, следует, что они обладают, как и электронная лампа- диод, односторонней проводимостью. Это значит, что при направлении электрического поля, создаваемого приложенным к полупроводникам прямым напряжением, диод пропускает ток и сопротивление его мало, а при обратном направлении этого поля, создаваемого приложенным к полупроводникам обратным напряжением, сопротивление диода велико, а ток в его цепи весьма мал.
Рис. 16.16. Характеристика германиевого диода. На риc.16.16 (1.5) показана типичная нелинейная характеристика диода. Вольтамперная характеристика диода описывается соотношением , где I0 - обратный ток p-n перехода, U приложенное напряжение, j - температурный потенциал, при 300К j =26мВ. Для большей наглядности кривая прямого тока (правая часть графика) и кривая обратного тока (левая часть графика) построены в различных масштабах. Похожими свойствами обладает и контакт полупроводника с металлом, использующийся в диодах Шотки.
Дата добавления: 2014-01-04; Просмотров: 5039; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |