КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Кристаллическое строение металлов
Закономерное расположение атомов в кристалле описывается кристаллической решеткой, т.е. трехмерным, периодически повторяющимся расположением атомов во всем объеме кристалла. Наименьший объем, который характеризует особенности строения кристалла данного металла, называется элементарной ячейкой. Последовательные перемещения элементарной ячейки на определенные расстояния, называемые трансляциями решетки, позволяют последовательно пройти все области кристалла. Ячейки, или кристаллические решетки характеризуются следующими основными параметрами: симметрией, периодами решетки, координационными числами и коэффициентами компактности решетки. Большинство металлов кристаллизуется в трех типах решеток: гранецентрированной кубической, объемно-центрированной кубической и гексагональной, которая может быть плотноупакованной и неплотноупакованной. Эти три типа решеток приведены на рис. 2. Периодом кристаллической решетки называется расстояние между центрами двух соседних атомов, расположенных вдоль рационально выбранных осей ячейки (при таком выборе обеспечивается ее минимальный объем). Периоды решетки измеряют в нанометрах – нм (10-9 м), либо в ангстремах - А (1 нм = 10 А, 1 А = 10-10 м). У большинства металлов периоды решеток находятся в пределах от 0,25 до 0,55 нм. Рис. 2. Элементарные ячейки плотноупакованных кристаллических решеток: а - объемно-центрированная кубическая; б - гранецентрированная кубическая; в - гексагональная плотноупакованная; а и с – параметры решеток
Координационным числом (К) называется количество атомов, находящихся на наиболее близком и одинаковом расстоянии от любого произвольно выбранного атома в решетке. Координационное число для объемно-центрированной кубической (ОЦК) решетки равно 8 (атом в центре куба имеет 8 соседей). Для гранецентрированной кубической решетки (ГЦК) координационное число - 12. В гексагональной плотноупакованной решетке (ГПУ) координационное число также равно 12. Базисом решетки называют количество атомов, приходящихся на одну элементарную ячейку. При этом, как уже отмечалось, надо иметь в виду, что атомы в углах ячеек принадлежат одновременно 8 ячейкам, атомы, расположенные в центрах граней - двум ячейкам. Тогда, базис ГЦК решеток равен 4, базис ОЦК составляет 2 и базис ГПУ равен 6. Коэффициент компактности решеткиh определяется отношением объема, занимаемого атомами с условно сферической формой Va, ко всему объему ячейки Vp, т.е. h = Va/Vp. (1)
Для ОЦК решеток коэффициент компактности равен 0,68, для ГЦК и для ГПУ решеток он равен 0,74 (при с/а = 1,633). При решении задач, стоящих перед металлографией, необходимо иметь систему обозначений для записи ориентации граней кристалла и плоскостей, расположенных внутри кристалла. Эти обозначения должны давать лишь ориентацию, но не обязательно определять конкретное положение плоскостей в кристалле. Для этой цели приняты индексы Миллера(h, k, l). В отличие от естественной записи положения плоскости величинами отрезков, отсекаемых ею на осях координат (на трех ребрах элементарной ячейки), эти индексы записывают в обратных величинах, т. е. индексы Миллера соответствуют величинам обратным величинам отрезков, отсекаемых плоскостями на осях координат. Величины же отрезков выражаются числом периодов трансляции. Если плоскость направлена параллельно одной из осей координат, то считается, что она пересекает эту ось в бесконечности и индекс будет равен нулю, если параллельно двум осям - то два индекса равны нулю (рис. 3). Чтобы определить индексы Миллера необходимо выполнить следующие действия: найти отрезки, отсекаемые плоскостью на осях координат, измеренные в осевых единицах (периодах решетки), взять обратные значения этих чисел и привести эти значения к целым числам. Например, рассматриваемая плоскость (рис. 3, б) отсекает на оси Х отрезок равный 1, на оси Y — равный 2/3, на оси Z —1/2 периодов трансляций. Тогда отрезки, обратные указанным, будут равны 1, 3/2 и 2. После приведения этих дробей к общему знаменателю получим числители равные индексам данной плоскости, т.е. h = 2, k = 3, l = 4. Полученные числа записывают в указанном порядке и заключают в круглые скобки: (234). Рис. 3. Кристаллографические индексы направлений (а) и плоскостей (б, в) в кубических решетках
При индицировании направлений, одну точку прямой помещают в начало координат, а другую получают путем последовательного векторного сложения 3-х перемещений, параллельных трем осям координат. Например, точка на прямой, проходящей через начало координат, смещается на Н осевых единиц вдоль оси X, К осевых единиц вдоль оси Y и L единиц вдоль оси Z. Тогда, если Н, К, и L - три взаимно простых числа, то они являются индексами направления. При этом важно отметить, чти при определении индексов направлений не нужно пользоваться обратными значениями длин отрезков, отсекаемых на осях координат. В отличие от индексов плоскостей, индексы направлений принято заключать в квадратные скобки, например, [121] или [130]. Индексы наиболее часто встречающихся плоскостей и направлений для кубических решеток приведены на рис. 3. Одним из наиболее распространенных и прямых методов определения типа кристаллических решеток и размеров элементарных ячеек является метод рентгеноструктурного анализа. Возможно также определение этих величин с помощью дифракции электронов и нейтронов.
Дата добавления: 2014-01-05; Просмотров: 2602; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |