Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

А.1. Качественная интерпретация зондирований




Качественная интерпретация данных ЭМЗ начинается с оценки числа выделяемых горизонтов и соотношений сопротивлений по кривым кажущихся сопротивлений (ρk, ρT., ρω, ρτ) от параметров, увеличивающих глубинность (AB/2 = r, √T √2πt). Кривым принято давать соответствующие буквенные обозначения: H, K, A, Q, KH, и т.д.

Сопоставляя электрические горизонты и геологические слои параметрических скважин можно оценить общее строение геоэлектрического разреза. По картам типов кривых судят о его изменении в плане. С этой же целью строят вертикальные разрезы и корреляционные планы вертикальных разрезов для следующих кажущихся параметров: сопротивлений ρk, продольных проводимостей Sk = r/ρk и поперечных сопротивлений Tk = rρk. Параллельность изолиний на разрезах и корреляционных планах разрезов свидетельствует о горизонтальнослоистом залегании пород, а изгибы указывают на зоны изменений геологического строения по простиранию. Пониженными значениями ρk, Tk и повышенными Sk выделяются слои и толщи, лучше проводящие ток (например, глины). Обратное соотношение этих параметров обусловлено плохо проводящими ток породами (например, скальными). Сгущениями изолиний Tk и Sk более чётко, чем ρk, выделяются соответственно плохо и хорошо проводящие слои.

При малоглубинных ЭМЗ получаемые кривые часто осложнены неровностями рельефа и неоднородностью покровных отложений по простиранию. Распознавание вносимых ими искажений является важным элементом качественной интерпретации. Обычно положительные формы рельефа, или проводящие включение на некоторой глубине “отжимают” токовые линии к поверхности и уменьшают ρk. Наоборот, отрицательные формы рельефа и плохо проводящие включения на глубине “прижимают” токовые линии к поверхности и увеличивают ρk. Локальные поверхностные неоднородности создают “экранные” эффекты на одной-двух точках кривых зондирований и их можно исключить. Наибольшей чувствительностью к неровностям рельефа и к горизонтальным неоднородностям характеризуются дипольные (ДЗ), перпендикулярные (ВЭЗ-МДС) и дифференциальные установки, а также установки на переменном токе.

При качественной интерпретации широко используются графоаналитические методы. К графоаналитическим методам относится большая группа методов полуколичественной интерпретации данных ЭМЗ., основанных на использовании аналитических (функциональных) и эмпирических (статистических или логических) связей между характерными точками, асимптотами и другими параметрами, получаемыми по кривым зондирований, и геологическими, инженерно-геологическими и гидрогеологическими свойствами разрезов.

Наиболее перспективными для инженерно-геологических исследований считаются: дифференциальные трансформации ВЭЗ, метод расчёта горизонтальной и вертикальной электрической неоднородности, метод определения суммарной продольной проводимости в геоэлектрических разрезах с основанием высокого сопротивления (метод S), метод определения обобщенных геоэлектрических параметров по кривым ВЭЗ и ДЗ с помощью кажущихся, трансформированных и послойных S и T. При интерпретации данных ВЭЗ-ВП широко используются графоаналитические приёмы. Интерпретация кривых ВП обычно проводится совместно с обработкой материалов ВЭЗ. При этом анализируются кривые ηk(r), ρk(r), A = ηkk, Bk = ηk ρk, Ck = r ηkk. По ним определяют абсциссы и ординаты характерных точек (например, максимумов). Абсциссы (разносы) характерных точек корреляционно связаны с глубинами залегания поляризационных слоёв (например, уровня грунтовых вод). Параметрические связи, характеризующиеся небольшими коэффициентами корреляции, можно использовать для обработки рядовых точек ВЭЗ-ВП.

Не менее часто применяются и палеточные методы интерпретации данных зондирований

В практике электроразведки свыше 60 лет известны палеточные методы количественной интерпретации кривых ЭМЗ. Несмотря на внедрение ЭВМ, палеточные прёмы интерпретации не утратили своего значения, так как их можно использовать в полевых условиях и при камеральной обработке небольших объёмов данных, а также в любых случаях для получения нулевых приближений, необходимых при дальнейшей интерпретации с помощью ЭВМ. Палеточный способ позволяет ограничиться одной - двумя палетками для каждого из методов. С помощью номограмм-палеток по кривым ВЭЗ и ДЗ, например, определяют следующие параметры горизонтально-слоистого разреза: мощность h1 и сопротивление ρ1 верхнего слоя; относительные мощности νi = hi/hэ,i-2 и сопротивления μi = ρiэ,i-2 любого слоя, где hэ,i-2, ρэ,i-2 – эквивалентные мощности и сопротивления толщи над слоем с hi, ρi; мощности и сопротивления, а также их возможные изменения в связи с пределами действия принципа эквивалентности для полученных νi и μi; параметры эквивалентности трёхслойных кривых. С помощью перечиисленных параметров можно расчитать обобщённые кажущиеся продольные проводимости SΣk и поперечные сопротивления TΣk, а также послойные параметры эквивалентности Si и Ti с помощью формул

S = hэ,i-2э,i-2, TΣk = hэ,i-2 ρэ,i-2, (4.1)

Si = hii = σiSΣk, Ti = hi ρi = τiTΣk. (4.2)

Параметры эквивалентности σi, τi и Si, Ti потому так и названы, что получаются практически однозначно (с погрешностью не больше ±10 – 20%), в то время как значения νi, μi и hi, ρi определяются при νi ≤ 1 с погрешностями в десятки и даже сотни процентов.

Номограммы-палетки можно увеличивать от 6,25 см до 19 см, что соответствует погрешности расчёта ρk до ± 3% и сужению пределов действия принципа эквивалентности на 60% и на столько же уменьшить Δhi и Δρi.

Интерпретация данных зондирований с помощью ЭВМ (компьютеров)

При интерпретации данных ВЭЗ с помощью ЭВМ различают два подхода: в первом из них кривые интерпретируются сами по себе без использования априорных сведений о разрезе; во втором – стартовая модель разреза составляется с учётом априорных данных. Основной проблемой в решении обратной задачи ВЭЗ на ЭВМ является проявление некорректности и неустойчивости её решения или влияние принципа эквивалентности, особенно в условиях многослойных разрезов, искаженных помехами и горизонтальными неоднородностями кривым ВЭЗ. Эту проблему преодолевают введением априорной информации: определением числа слоёв; закреплением отдельных параметров; заданием пределов, в которых имеется решение; контролем точности полученных параметров разреза. Для подавления помех иногда используют частичное сглаживание кривой ВЭЗ, но чаще применяют алгоритм подбора, в котором различие экспериментальной и совместившейся кривой ВЭЗ минимизируют на основе критерия наименьших квадратов.

Среди алгоритмов решения обратной задачи ВЭЗ можно выделить следующие: метод снятия слоёв; метод диалогового подбора путём многократного решения прямой задачи с изображением экспериментальной и подбираемых теоретических кривых на экране терминала; многочисленные разновидности автоматического подбора и др.




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-07; Просмотров: 1106; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.01 сек.