Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Определение размера коллоидных частиц методом турбодиметрии

Оптические методы исследования дисперсных систем. Нефелометрия. Схема нефелометра. Определение размера коллоидных частиц методом нефелометрии.

Определение размера коллоидных частиц методом нефелометрии:

1) нефелометрический 2)турбодиметрический.

Нефелометрия основана на способности коллоидных систем

рассеивать свет. Нефелометрический метод основан на измерении

непосредственной интенсивности света рассеянного под некоторым

углом к падающему свету.

1-источник света 2,3-подвижные экраны 4,5- цилиндрические

кюветы 6,7-стеклянные цилиндрики 8,9-призмы 10-окуляр

Ip=KυV2I0=KCобVI0; 1) с=const I0KV’Ch’=I0KV”Ch;

V’h’=V”h”=>V’=V”(h’/h”) 2)при известном размере частиц C’=C’(h’/h”)

 

-ослабление интенсивности света проходящей через дисперсную систему. Если принять рассеянный свет за фиктивно поглощенный, то можно получить соотношение:-dI=τIdx интегрируем от I0 до In и от х=0 до х=l => ln(I0/In)=τl; In=I0el-связь мутности с оптической плотностью ln(I0/In)=2.3lg (I0/IA)=2.3Д τ=2,3Д/l; ; V=τ/СобК

<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Уравнение Рэлея, условия его применения анализ | Микроскопия. Предел разрешения светового и электронного микроскопов. Формирование изображения в световом и электронном микроскопе
Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-06; Просмотров: 843; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.009 сек.