Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Расслаивание общей изменчивости с помощью дисперсионного анализа




Общая (суммарная) изменчивость статистических данных, которая характеризует качество изделия на различных этапах его жизненного цикла состоит из случайной изменчивости и систематической изменчивости. Источниками случайной изменчивости являются некачественные материалы, низкая квалификация исполнителей и т.д.

Источником систематической изменчивости является применяемое в технологическом процессе оборудование.

В то же время дисперсия внутри выборки характеризуется в основном случайной изменчивостью, а дисперсия между выборками - систематической изменчивостью. Сравнивая дисперсию, обусловленную только одним каким-либо фактором, с общей дисперсией с помощью дисперсионного анализа, можно решить вопрос о значимости влияния этого фактора на общую дисперсию. В качестве критерия значимости используется критерий Фишера F. Если F-критерий подтвердит превалирующее влияние той или иной изменчивости, то это значительно сократит поиск нарушений технологического процесса.

Пример. Было взято 4 выборки транзистора. В каждой выборке по 5 транзисторов. Были измерены значения коэффициентов усиления по току. Выборки были взяты из генеральной совокупности, подчиняющейся гауссовскому закону распределения.

М(х)=β=50

σ=10

Значение коэффициентов усиления приведено в таблице 3.6.


Общее число транзисторов N=k·n=20.

Основные статистические характеристики определим методом непосредственного вычисления. β обозначим через xi.

Общее среднее значение коэффициента усиления:

Найдем среднее значение от средних значений для всех выборок.

Общее среднее равно среднему значению от средних значений всех выборок.

Определим дисперсию.

Теперь можно определить причину изменчивости средних значений. Для этого воспользуемся критерием Фишера:

Определим табличное значение числа степеней свободы ν.

ν1=k-1=4-1=3

ν2=N-1=20-4=16

Fтабл=3,24

F< Fтабл

Следовательно, расхождение оценок дисперсии генеральной совокупности случайно, несмотря на то, что >.

 

Диаграмма разброса (поле корреляции)

 

Диаграмма разброса применяется для исследования зависимости (корреляции) между двумя видами данных. С помощью нее очень удобно наблюдать за влиянием различных факторов на параметры качества изделия. В этом случае по оси абсцисс откладывается начальное значение изучаемого параметра качества, а по оси ординат – те же значения параметра качества, но после воздействия.

Значение параметра качества каждого изделия до и после эксперимента будет обозначаться точкой в системе указанных координат. Следовательно, все n изделий, подвергшихся эксперименту, будут изображаться разбросанными по координатному полю точками. Эта совокупность точек образует диаграмму разброса.

Рис. 10. Диаграмма разброса

Проведем биссектрису. Если все точки лягут на биссектрису, значит, параметр качества не изменился. Следовательно, данный фактор не влияет на данный параметр качества.

Пример. Рассмотрим влияние термообработки интегральных микросхем при Т=120 °С (t=24 ч.) на изменение обратного тока p-n-перехода. n=25.

Значение тока находится в таблице 3.7.


По таблице находят максимальное и минимальное значения для X и Y.

xmax=92

xmin=60

ymax=88

ymin=57

Строим график y(х). При этом длину осей делают почти равной разности между их максимальными и минимальными значениями. Получается почти квадрат. На график наносятся данные в порядке измерений и точки диаграммы разброса.

Для определения вида связи используют метод наименьших квадратов.

Рис. 11. Виды корреляции

 

На диаграмме (11.1) просматривается прямая корреляции между X и Y. В этом случае, контролируя причинный фактор X, можно управлять значением параметра качества Y.

На рисунке 11.2 приведен пример легкой прямой. При увеличении Х растет Y, но разброс Y велик по отношению к определенному значению Х. Контролируя причинный фактор X, можно до некоторой степени держать под контролем характеристику Y. В данном случае надо иметь ввиду и другие факторы, оказывающие влияние на фактора Y.

На рисунке 11.5 приведен пример отсутствия корреляции. Здесь нужно продолжить поиск факторов, коррелирующих с фактором Y. При этом фактор Х исключается. Между параметрами X и Y возможны случаи криволинейной корреляции (рис. 11.6). Диаграмма разброса делится на участки, имеющие прямолинейный характер. После этого исследуют каждый участок.

Степень корреляционной связи между X и Y может быть оценена либо с помощью коэффициента корреляции (для прямолинейной корреляции) или корреляционного отношения (для криволинейной корреляции).

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-11; Просмотров: 319; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.01 сек.