Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Диаграмма Парето. Данная диаграмма названа в честь итальянского экономиста Парето




Данная диаграмма названа в честь итальянского экономиста Парето. Диаграмма Парето позволяет распределить усилие при решении возникающих проблем качества. Ее построение начинают с классификации возникающих проблем по отдельным факторам. После этого начинают сбор и анализ статистического материала по каждому фактору.

В прямоугольной системе координат по оси абсцисс откладывают равные отрезки, рассматриваемые фактором. По оси ординат – величину их вклада в изучаемую проблему. При этом порядок расположения фактора таков, что влияние каждого последующего фактора, расположенного по оси абсцисс, уменьшается по сравнению с предыдущим фактором. В результате получится диаграмма в виде столбчатого графа, столбики которого соответствуют отдельным факторам. Высота столбиков уменьшается слева направо.

Построим гистограмму вкладов дефекта различных технологических операций.

Рис. 12. Гистограмма вкладов дефекта различных технологических операций

 

По оси абсцисс отложим суммарное количество дефектов готовых ИМС, по оси ординат – относительную долю числа дефектов от рассматриваемого.

1 – припайка кристалла (26%);

2 – герметизация (22%);

3 – разладка выводов (19%);

4 – фотолитография (18%);

5 – осаждение диэлектрика (7%);

6 – диффузия (5%);

7 – металлизация (3%).

Суммируя последовательно высоту всех столбиков гистограммы, получим ломаную кумулятивную прямую, которую называют кривой Парето.

 

Рис. 13. Кривая Парето

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2014-01-11; Просмотров: 316; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.007 сек.