Управление испытаниями

1. Иерархическая структурная схема разработки, производства и испытаний

СИВТ.

Иерархическая структурная схема системы разработки, производства и испытаний изделий ЭА (в том числе СИВТ) представлена на Рис. 4.1.

Рис. 4-1. Структурная схема верхнего уровня иерархии системы испытаний

Верхний уровень иерархии системы (уровень S⁵ ) представляет собой совокупность систем (подсистем): разработки, производства и поставки на испытания изделий ЭА и СИВТ.

Входным «сигналом» в этой системе является ТЗ на создание изделий ЭА (СИВТ) определенного конкретного назначения.

Выходным «сигналом» следует считать общее количество произведенной продукции и выбранное для испытаний количество образцов изделий.

2. Структурная схема системы управления испытаниями верхнего уровня иерархии.

Данный уровень включает систему (подсистему) S⁴, реализующую цель: планирование длительности отдельных видов испытаний, при которых минимизируется критерий (показатель) использования необходимых ресурсов: временных, материальных, числа исполнителей. В частности, здесь и далее в качестве примера рассматривается задача минимизации суммарного времени испытаний.

Данная задача рассмотрена на основе схемы испытаний бортовой аппаратуры ЛА, иллюстрирующей составную часть ЖЦИ испытываемой аппаратуры и представленной на Рис. 4.2.

Рис. 4-2. Обобщенный граф технологического процесса испытаний бортовых устройств ЭА и СИВТ

Структурная схема систем уровня иерархии S ⁴ представлена на Рис. 4.3.

Рис. 4-3 Структурная схема верхнего уровня иерархии системы испытаний.

Математические методы для решения этих задач – методы оптимального управления, рассматриваемые в теории систем.

1.

2.

3.

4.

1.

2.

3. Структурные схемы систем средних уровней иерархии испытаний.

Первый средний уровень иерархии(S³_i). Данный уровень представляет группу систем, каждая из которых реализует процесс распределения изделий определенного назначения на испытания определенного вида, то есть выполняет цель: распределение испытательного оборудования по объектам испытаний.

Математические методы для решения этих задач – методы теории расписаний и массового обслуживания.

Соответствующая структурная схема представлена на Рис. 4.4.

Второй средний уровень иерархии (S²_j). Данный уровень включает группу систем, реализующих цель: выбор режимов испытаний конкретных изделий на конкретных экземплярах испытательного оборудования в соответствии с выбранным критерием (например, указанным выше минимумом суммарного времени испытаний).

Математические методы для решения этих задач – методы оптимального планирования испытаний (экспериментов). Соответствующая структурная схема представлена на Рис. 4.5.

4. Структурные схемы систем нижнего уровня иерархии испытаний.

Данный уровень представляет группу систем управления (S¹_k) конкретным испытательным оборудованием в соответствии с целью: обеспечение значений параметров физических процессов в конкретных режимах работы испытательного оборудования (конкретные виды вибрационных воздействий, температурные режимы в климатических камерах и т.д.).

Математические методы для решения этих задач – методы теории автоматического регулирования (ТАР).

Именно системами этого уровня иерархии воспроизводятся физические воздействия на ОИ. Внесение изменений в их алгоритмы необходимо при корректировке параметров физических воздействий в процессе аттестации ИО.

5. Оптимальное планирование экспериментов при управлении испытаниями

(средние уровни иерархии).

При реализации комплексных испытаний возникают задачи как логичного планирования изменения величин внешних воздействий во времени, так и обработки результатов испытаний. Наличие нескольких физических (в данном случае – температуры, вибрации) и информационных (изменение усилия захвата, угла поворота оси привода, изображения на мониторе перед видеокамерами) воздействий на ОИ создаёт необходимость в применении математических методов планирования и обработки результатов экспериментов, а также алгоритмов многомерной оптимизации.

Основные теоретические сведения о методах оптимального планирования эксперимента приведены в Приложении.

Дата добавления: 2014-10-31