Існуючі системи експертизи

Лекція 5. Експертиза заявки на винахід і порядок видачі патентів

Запитання для самостійного контролю

1. Які джерела інформації застосовуються у винахід­ницькій і пошуковій роботі?
2. Що таке науково-технічна інформація?
3. Які інформативні документи містять науково-технічну інформацію?
4. Що таке патентна інформація?
5. Які розрізняють джерела патентної інформації?
6. Що таке первинні джерела патентної інформації?
7. Що є вторинними джерелами патентної інформації?
8. Які офіційні бюлетені видаються в Україні та Росії?
9. Які відомості публікують у бюлетені «Промислова влас­ність»?
10. Які відомості включаються до річного покажчика офіцій­ного бюлетеня «Промислова власність»?
11. За якими вимогами вибирають джерела інформації?
12. Які системи належать до міжнародної класифікації?
13. З чого складається міжнародна патентна класифікація?
14. З яких елементів складається система класифікації вина­ходів?
15. У чому сутність розділів, класів, підкласів, груп, підгруп?
16. Як визначаються бібліографічні коди?
17. Яку інформацію містять бібліографічні коди?
18. Які методи належать до методів винахідницької та пошу­кової роботи під час створення винаходу?
19. Що таке конструктивна спадкоємність?
20. Які елементи розглядаються в методі «Конструктивна спадкоємність»?
21. Із яких елементів складається метод «Трансформації та інверсії»?
22. Із яких елементів складається евристичний метод?
23. У чому сутність методу «мозкового штурму»?
24. Що входить до складу патентних досліджень?
25. Що таке життєвий цикл об'єкта господарської діяль­ності?
26. У складі яких робіт виконуються патентні дослідження?
27. Які види патентного пошуку застосовуються під час патентних досліджень?
28. Що входить до тематичного пошуку?
29. Які елементи входять до іменного пошуку?
30. Із чого складається нумераційний пошук?
31. Які елементи входять до пошуку патентів-аналогів?
32. Із яких етапів складається регламент проведення пошуку?
33. Що входить до першого, другого, третього, четвертого, п'ятого, шостого етапів пошуку?
34. Як складається звіт регламенту?
35. Для якого виду діяльності застосовуються результати по­шуку?

Експертиза — це один із найважливіших аспектів патент­ного законодавства, який визначає обсяг перевірки заявки на винахід із моменту її подання до видачі патенту.

Існують такі системи експертизи:

Ø явочна (реєстраційна);

Ø перевірочна (дослідницька);

Ø відстрочена (відкладена).

Відмінність однієї системи від іншої полягає у різних етапах розгляду заявки, однак спільним для будь-якої систе­ми є наявність етапу формальної (попередньої) експертизи

заявки.

Формальна експертиза полягає в перевірці дотримання вимог патентного законодавства, що висуваються до заявки на видачу патенту. Такими вимогами є:

Ø наявність документів у заявці;

Ø вимоги до документів;

Ø відповідність заявленого винаходу об'єктам правової
охорони за патентним законом;

Ø єдність винаходу.

Рис. 5.1. Явочна система експертизи

Під час формальної експертизи перевіряють наявність у заявці всіх розділів (заяви, опису, формули, рисунків, реферату); чіткість їх викладення; наявність необхідних супутніх матеріалів (ім'я, адреса заявника, винахідника, па­тентного повіреного тощо) квитанції про сплату мита та ін., а також попередньо встановлюється пріоритет винаходу.

Якщо заявка на винахід має всі необхідні документи, дотримані вимоги до їх оформлення, а заявлений винахід не відноситься до передання рішень, що не визнаються патентноздатними винаходами, то приймається позитивне рішення щодо результатів формальної експертизи заявки і патентне відомство видає патент на винахід.

Явочна система експертизи передбачає послідовне виконання відповідних етапів розгляду заявки (рис. 5.1).

Явочна система експертизи має певні переваги: швидка видача патенту, що дозволяє у короткі терміни розглянути заявку, причому, як правило, за такої системи заявка розглядається лише за ознаками формальної експертизи.

Рис. 5.2. Перевірочна система експертизи

Перевірочна система експертизи (рис. 5.2), окрім явочної (рис. 5.1), здійснює й експертизу по суті.

Рис. 5.3. Відстрочена система експертизи

Під час проведення експертизи по суті перевіряється відповідність заявленого винаходу умовам патентоспро­можності, повнота та правильність розкриття винаходу в описі. За результатами експертизи по суті приймається рішення щодо видачі патенту або щодо відмови у видачі. Основою цієї експертизи, як було вже зазначено, є пере­вірка відповідності умовам патентоспроможності, внаслі­док чого у разі позитивного рішення видається патент, який називають «сильним» і заперечити його дуже важко. Однак, недоліком такої експертизи є її довготривалість (3-5 років).

Відстрочена система експертизи (рис. 5.3) є найбільш поширеною серед існуючих систем подібної експертизи.

Як видно з рисунка, відстрочена система складається з чотирьох етапів.

Особливістю цієї системи є введення правила публіка­ції опису заявки на етапі формальної експертизи (блок 1), що дозволяє ознайомитися з заявкою в установлений термін широкому колу осіб, а також передбачаються умови для проведення інформаційного пошуку та публікації звіту про цей пошук (блок 2). Традиційна перевірочна експер­тиза (блок 3), вже після відповідних робіт, дає повне право (за позитивного результату) готувати матеріали для видачі патенту та його публікації (блок 4).

Отже, відстрочена система експертизи дозволяє лікві­дувати недоліки, притаманні розглянутим вище системам (див. рис. 5.1 і рис. 5.2).

Дата добавления: 2014-11-18