КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Визуальный метод измерения
ИЗМЕРЕНИЕ РАБОЧИХ ОТРЕЗКОВ Рабочий отрезок – это расстояние от плоскости наилучшего изображения до опорного кольца оправы оптической системы. Знание величины отрезка необходимо для совмещения системы с регистрирующим устройством. Для измерения применяются методы: 1. Визуальный. 2. Фотографический. 3. Интерференционный. 4. Фотоэлектрический.
Метод основан на определении плоскости наилучшего изображения с помощью наблюдательного микроскопа. Рис. 5.11. К − коллиматор, М1 − визирный микроскоп, М2 − отсчетный микроскоп, Шк − шкала. На рис. 5.11 приведена схема установки, применяемая в цеховых условиях. Методика измерения: 1) находят положение, соответствующее фокусу объектива с помощью микроскопа М1 по наилучшему изображению марки коллиматора и снимают отсчет а1 по шкале Шк с помощью микроскопа М2. 2) Снимают исследуемый объектив и на его место ставят стеклянную пластину с перекрестием так, чтобы оно было обращено к микроскопу. 3) Находят четкое изображение с помощью микроскопа М1 и снимают отсчет а2 с помощью микроскопа М2. По разнице отсчетов находя величину рабочего отрезка . Данному методу измерения присущи следующие погрешности: фокусировки, установки, шкалы, отсчета. Самостоятельно проработать вычисление указанных погрешностей.
Дата добавления: 2014-12-16; Просмотров: 709; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |