КАТЕГОРИИ:
Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)
Принцип рентгеновской дифракции
|
|
|
|
Принцип действия
Система для обработки данных
Ниже приведен пример. Система может иметь различную конфигурацию.
 |
Компьютер Монитор
Принтер Компьютерный стол
Рисунок 1.3.4 Система для обработки данных
В рентгеновском дифрактометре рентгеновские лучи, испускаемые рентгеновской трубкой, ограничиваются отклоняющей щелью и попадают на образец, помещенный в центр гониометра. Рентгеновские лучи, дифрагированные на образце, сходятся на приемной щели, расположенной симметрично рентгеновской трубке со стороны образца. Эти лучи регистрируются сцинтиляционным детектором и преобразуются в электрические сигналы. Сигналы со сцинтиляционного детектора, после фильтрации шумов, подсчитываются анализатором высоты импульсов (PHA). Интенсивность рентгеновского излучения выражается величиной подсчитанных импульсов. Расстояние между плоскостями атомов, где происходит дифракция рентгеновских лучей, может быть получено, используя Условие Брэгга, приведенное ниже:
2d*sin=n
где - угол отражения дифрагированного рентгенговского излучения, ‑ длина волны рентгенговского излучения
Расстояние между атомами регулярно варьируется в зависимости от вида атома или иона. Поэтому, если известно расстояние между плоскостями атомов, вы можете установить состав образца. Поскольку интенсивность дифрагированного рентгеновского излучения пропорциональна количеству компонента, становится возможно проведение количественного анализа.
 |
Рисунок 1.4.1 Дифракция рентгеновских лучей в кристалле
|
|
|
|
|
Дата добавления: 2014-12-23; Просмотров: 558; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!