Системы визуального контроля

Стереоскопический бинокулярный микроскоп SSZ

Компактные и легкие биноукулярные стереомикроскопы серии SSZ обеспечивают чистое, высококонтрастное изображение исследуемых объектов, обладают высоким разрешением и легкостью в эксплутации. Большое разнообразие штативов для отраженного и проходящего света, держателей и рычагов позволяет сформировать базовую часть микроскопа в соответствии с задачами пользователя.
28 моделей стереомикроскопов серии SSZ позволяют выбрать модель, оптимально отвечающую поставленным целям.

Модель SSZ 25x0,5 имеет следующие характеристики:

· Размер поля зрения - 44 - 6 мм

· Рабочее расстояние - 177 мм

· Кратность увеличения - 6,5: 1

· Минимальное/ Максимальное увеличение - 8,4 / 56,3

В базовый комплект установки входит:

· Базовая часть с наклоном тубуса 45 град;

· Рабочий стол со стойкой и двойной горизонтальной штангой на шариковых опорах;

· Держатель микроскопа с ручкой фокусировки;

· Вариообъектив с ручным управлением;

· Кольцевая безтеневая оптоволоконная подсветка с гибким световодом;

· Блок питания оптоволоконной подсветки 150 Вт.

=======================================================

Для визуального контроля печатных плат используются линзы или линзы с подсветкой. Как правило, эти линзы имеют кратность увеличения 1,75х (3 диоптрии), но используются и линзы с 10х увеличением.
Для осмотра металлизированных отверстий или контроля качества очистки стенок отверстий многослойных печатных плат от следов смолы используются более мощные оптические системы с кратностью увеличения от 50х до 500х.

Дата добавления: 2015-04-24