Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Выполнение работы




РАСЧЁТНО-ГРАФИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ

ПРОТОКОЛ ИСПЫТАНИЙ

БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК

 

1. Основы промышленной электроники /Под ред. В.Г. Герасимова – М.: Высшая школа, 1986. – с. 243-250

2. Лабораторные работы по основам промышленной электроники /Под ред. В.Г. Герасимова. – М.: Высшая школа, 1977. – С. 87-89.

 


 

Приложение

к лабораторной работе №11а «Исследование

стабилизаторов постоянного напряжения»

 

1.

 
 

Исследование параметрического стабилизатора

 

1.1 Снятие зависимости UВЫХ = f (UВХ) при IH = 0

 

Таблица 1

UВХ, В                
UВЫХ, В                

 

 

1.2 Снятие внешней характеристики UВЫХ = f (IH) при UВХ =

 

Таблица 2

IН, А                
UВЫХ, В                

 

 

2.

 
 

Исследование компенсационного стабилизатора

 

2.1 Снятие зависимости UВЫХ = f (UВХ) при IH = 0

Таблица 3

UВХ, В                
UВЫХ, В                

 

2.2 Снятие внешней характеристики UВЫХ = f (IH) при UВХ =

Таблица 4

IН, А                
UВЫХ, В                

 

 

Зависимости UВЫХ = f (UВХ) Внешние характеристики UВЫХ = f (IH)

UВЫХ, В UВЫХ, В

     
                           
                       
                       
                       
                       
                               

Рис. 8 UВХ, B Рис. 9 IH, A

Показатели качества КСТ RВЫХ, Ом
Параметрический стабилизатор    
Компенсационный стабилизатор    

 

Расчётные формулы:

 

Краткие выводы по работе:

 

 

Группа ____________ Студент ____________________ Дата __________

Преподаватель __________________

 

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА ПРОЦЕССОВ ХИМИКО-ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ СТАЛИ

 

Химико-термической обработкой называют поверхностное насыщение ста­ли соответствующим элементом (например, углеродом, азотом, алюми­нием, хромом и др.) путем его диффузии в атомарном состоянии из внеш­ней среды при высокой температуре.

Процесс химико-термической обработки включает три элементарные стадии: 1) выделение диффундирующего элемента в атомарном состоянии благодаря реакциям, протекающим во внешней среде; 2) контактирование атомов диффундирующего элемента с поверхностью стального изделия и проникновение (растворение) их в решетку железа (абсорбция); 3) диффу­зия атомов насыщающего элемента в глубь металла.

Скорость диффузии атомов насыщающего элемента в решетку железа неодинакова. При насыщении углеродом или азотом, образующим с желе­зом твердые растворы внедрения, диффузия протекает быстрее, чем при насыщении металлами, образующими твердые растворы замещения.

Толщина проникновения (диффузия) зависит от температуры и продол­жительности насыщения (рис. 1).

 

Рис. 1. Зависимость толщины диффузионного слоя от продолжительности насыщения (а), температуры (б) и изменение концентрации по толщине диффузионного слоя (в)

 

Толщина диффузионного слоя х в зависимости от продолжительности процесса τ при данной температуре обычно выражается параболической зависимостью. Следовательно, с течением времени скорость увеличения толщины слоя непрерывно уменьшается (рис. 1, а). Толщина диффузион­ного слоя, при прочих равных условиях, тем больше, чем выше концентра­ция диффундирующего элемента на поверхности металла (рис. 1, в).

Концентрация диффундирующего элемента на поверхности зависит от активности окружающей среды, обеспечивающей приток атомов этого эле­мента к поверхности, скорости диффузионных процессов, приводящих к переходу этих атомов в глубь металла, состава обрабатываемого метал­ла, состава и структуры образующихся фаз. Повышение температуры уве­личивает скорость процесса диффузии, поэтому толщина диффузионного слоя, образующегося за данный отрезок времени, сильно возрастает с по­вышением температуры процесса (рис. 1, в).




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-05-06; Просмотров: 324; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.01 сек.