КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Применения МСВИ
Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации Приборные факторы, влияющие на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации Количественный анализ Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц Требования к первичному ионному пучку Ионное изображение Анализ следов элементов Порог чувствительности Принцип действия установок. Оборудование ВИМС. Вторично-ионная эмиссия Взаимодействие ионов с веществом Исследование поверхности методом ЭСХА. Собственные ширины уровней и расстояния между ними. Модификация диаграммы уровней, связанная с наличием двойных слоев и электрических полей. Вычисление энергии связи на основе данных, полученных методом ЭСХА. Оже электроны и рентгеновские кванты. Фотоэффект в методе ЭСХА и в рентгеновской абсорбционной спектроскопии. Основные принципы метода ЭСХА. Волновые свойства микрочастиц. Дифракция электронов Чего не объясняет волновая теория Эксперимент Дэвиссона и Джермера Дифракция медленных электронов При изготовлении одежды по индивидуальным заказам Величины припусков по срезам деталей поясных изделий
Правила оформления лекал 1.3. Рассеяние медленных электронов: вторичная электронная эмиссия
2. Метод ЭСХА
3. Метод Оже спектроскопии. 3.1. Физические основы метода Оже-электронной спектроскопии 3.2. Аппаратура и методика измерений Оже-спектра 3.3. Методика подготовки образцов 3.4. Качественный и количественный анализ 3.4.1 Методика эксперимента 3.4.2 Описание экспериментальной установки 3.4.3 Растровая оже-электронная спектроскопия 3.4.4 Применение оже-спектроскопии
4. Вторично-ионная масс-спектрометрия
4.6. Глубинные профили концентрации элементов
Дата добавления: 2015-05-29; Просмотров: 456; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |