Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Применения МСВИ




Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации

Приборные факторы, влияющие на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации

Количественный анализ

Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц

Требования к первичному ионному пучку

Ионное изображение

Анализ следов элементов

Порог чувствительности

Принцип действия установок.

Оборудование ВИМС.

Вторично-ионная эмиссия

Взаимодействие ионов с веществом

Исследование поверхности методом ЭСХА.

Собственные ширины уровней и расстояния между ними.

Модификация диаграммы уровней, связанная с наличием двойных слоев и электрических полей.

Вычисление энергии связи на основе данных, полученных методом ЭСХА.

Оже электроны и рентгеновские кванты.

Фотоэффект в методе ЭСХА и в рентгеновской абсорбционной спектроскопии.

Основные принципы метода ЭСХА.

Волновые свойства микрочастиц. Дифракция электронов

Чего не объясняет волновая теория

Эксперимент Дэвиссона и Джермера

Дифракция медленных электронов

При изготовлении одежды по индивидуальным заказам

Величины припусков по срезам деталей поясных изделий

Наименование детали и ее среза Величина припуска, см
Мужская верхняя одежда Женская верхняя одежда
Брюки Брюки Юбка
До I примерки После I примерки До I примерки После I примерки До I примерки После I примерки
Передняя половинка брюк
Верхний срез 1.0 1.0 1.5 1.0
Срез банта 1.5 1.5 1.5 1.5
Боковой срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Шаговый срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Срез кокетки 2.0 1.5 2.0 1.5
Конструктивный срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Срез низа 6.0 4.0 6.0 4.0÷1.0
Задняя половинка брюк
Верхний срез 1.0 1.0 1.5 1.0
Средний срез 3.0 (на линии талии) 1.5 (у шагового среза) 3.0 (на линии талии) 1.5 (у шагового среза) 2.0 1.5
Боковой срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Шаговый срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Срез кокетки 2.0 1.5 2.0 1.5
Конструктивный срез 2.0 1.5 2.0 1.5
Срез низа 6.0 4.0 6.0 4.0÷1.0
Переднее полотнище юбки
Верхний срез 1.5 1.0
Срез кокетки 2.5 1.5
Боковой срез         3.0 2.0
Конструктивный срез 2.5 1.5
Срезы клиньев 2.0 1.5
Срез низа 5.0÷3.0 4.0÷1.0
Заднее полотнище юбки
Верхний срез 1.5 1.0
Средний срез 3.0 2.0
Срез кокетки 2.5 1.5
Боковой срез         3.0 2.0
Конструктивный срез 2.5 1.5
Срезы клиньев 2.0 1.5
Срез низа 5.0÷3.0 4.0÷1.0

Правила оформления лекал

1.3. Рассеяние медленных электронов: вторичная электронная эмиссия

 

2. Метод ЭСХА

 

3. Метод Оже спектроскопии.

3.1. Физические основы метода Оже-электронной спектроскопии

3.2. Аппаратура и методика измерений Оже-спектра

3.3. Методика подготовки образцов

3.4. Качественный и количественный анализ

3.4.1 Методика эксперимента

3.4.2 Описание экспериментальной установки

3.4.3 Растровая оже-электронная спектроскопия

3.4.4 Применение оже-спектроскопии

 

4. Вторично-ионная масс-спектрометрия

 

4.6. Глубинные профили концентрации элементов




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-05-29; Просмотров: 426; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.009 сек.