Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Контактная разность потенциалов




Равновесное состояние р-n-перехода

Образование заряженных областей – двойного электрического слоя – приводит к возникновению электрического поля и разности потенциалов в р-n-переходе. Направление возникающего поля такового, что оно препятствует движению основных носителей заряда и приводит к снижению диффузионных потоков nnp и ppn. Но это же поле не препятствует движению неосновных носителей заряда: Электроны из р-области и дыр-ки из n-области в силу теплового движения, попадая в слой объемного заряда, подхватываются полем и переносятся через р-n-переход, создавая потоки неосновных носителей: электронов из р-области в n-область npn и дырок из n-области в р-область pnp.

В первоначальный момент потоки основных носителей значительно превосходят потоки неосновных носителей: nnp >> npn, ppn >> pnp. Но по мере роста объемного заряда увеличивается разность потенциалов, что уменьшает потоки основных носителей. В то же время потоки неосновных носителей не зависят от разности потенциалов и остаются неизменными. Поэтому разность потенциалов достаточно быстро достигает такой величины, при которой наступает равенство потоков основных и неосновных носителей заряда: nnp = npn, ppn = pnp. Это соответствует установлению в р-n-переходе состояния динамического равновесия. Электрический ток через переход в равновесии равен нулю.

Разность потенциалов между двумя различными по свойствам областями полупроводника, устанавливающаяся в результате обмена носителями заряда в условиях равновесия, называется контактной разностью потенциалов и обозначается Vk.

 

На рис.3.2.а показана зонная диаграмма р- и n-областей полупроводника в первоначальный момент, т.е. до установления между ними равновесия. Энергетические уровни изображаются горизонтальными прямыми. Это выражает тот факт, что энергия электрона, например, одинакова на дне зоны проводимости и в n- и р-областях. Положение уровня Ферми различно: в n-области он смещен ко дну зоны проводимости, в р-области – к потолку валентной зоны. После установления равновесия образуется р-n-переход с потенциальным барьером φк =qVk. Электроны при переходе из n-области в р-область для преодоления контактной разности потенциалов должны увеличить свою энергию на φк = qVk. Поэтому энергетические уровни в р- и n-областях смещаются относительно друг друга на величину φк, искривляясь в области р-n-перехода, как показано на рис.3.2.б. При этом уровни Ферми ЕnF и EpF устанавливаются на одной высоте, что соответствует состоянию равновесия р-n-перехода.

Величину контактной разности потенциалов можно определить, исходя из следующих соображений. Концентрация дырок в р-области согласно уравнению (В.5) зависит от положения уровня Ферми

 

ррo ~ ехр[-(EF – E)/kT].

 

Так как уровни Ферми в р- и n-областях совпадают, то дно валентной зо-ны смещено на величину qVk, тогда концентрация дырок в n-области

pno ~ exp[-(EF – E – qVk)/kT],

отношение

ppo/pno = exp(qVk/kT). (3.2)

Логарифмируя (3.2) и разрешая относительно Vk, получим с учетом (3.1)

Vk = (kT/q)ln(pponno/ni2). (3.3)

Из (3.3) следует, что Vk возрастает с концентрацией основных носителей заряда и уменьшением ni, которые происходят с увеличением ширины запрещенной зоны полупроводника. Например, для германия с ΔEg = 0,66 эВ при Т = 300 К ni = 2,5·1013 см-3, если Na = Nd = 1016 см-3, то Vk = 0,31 В.

На основании (3.2) можно получить следующее соотношение для концентрации основных и неосновных дырок для р-n-перехода в равновесном состоянии

pno = ppoexp[-(qVk/kT)]. (3.4)

Аналогичные вычисления для электронов приводят к формуле

npo = nnoexp[-(qVk/kT)]. (3.5)

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-06-26; Просмотров: 933; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.011 сек.