Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Теоретическое введение. Изучение явления дифракции света




Изучение явления дифракции света

Теоретический минимум

Интерференция света. Когерентность и монохроматичность световых волн. Время и длина когерентности. Способы получения когерентных волн. Оптическая разность хода волн. Условия максимума и минимума интерференции в тонких пленках в отраженном и проходящем свете. Полосы равной толщины и равного наклона. Просветление оптики.

 

Контрольные вопросы

  1. Какие существуют способы получения когерентных световых волн?
  2. Покажите ход лучей, интерференция которых наблюдается в эксперименте «Кольца Ньютона».
  3. Почему наблюдаемые в эксперименте линии имеют вид окружностей?
  4. Почему при наблюдении колец Ньютона в отраженном свете в центре наблюдается темное пятно?
  5. Как будет изменяться наблюдаемая интерференционная картина, если приподнять линзу над плоскопараллельной пластиной?
  6. Как изменится интерференционная картина, если пространство между линзой и плоскопараллельной пластиной заполнить водой?

 

 


Лабораторная работа 2.21

Цель работы: Ознакомление с явлением дифракции света на решетке, определение длины световой волны лазерного излучения и основных характеристик дифракционной решетки.

Дифракцией света называется совокупность явлений, связанных с огибанием световыми волнами препятствий, их проникновением в область геометрической тени и образованием максимумов и минимумов интенсивности.

Дифракция световых волн может быть объяснена с помощью принципа Гюйгенса – Френеля, согласно которому:

- каждая точка волнового фронта является источником вторичных сферических волн, огибающая которых определяет форму волновой поверхности в следующий момент времени;

- все вторичные источники когерентны, поэтому в любой точке пространства параметры волны могут быть рассчитаны как результат интерференции всех вторичных волн;

- амплитуда вторичной сферической волны пропорциональна величине элемента волновой поверхности, убывает пропорционально расстоянию от источника и зависит от угла между нормалью к волновой поверхности и направлением распространения света (рис.1).

 

 

Рис. 1 Рис. 2

Расчет интерференции вторичных волн упрощается, если воспользоваться методом зон Френеля. Волновой фронт разбивается на зоны таким образом, чтобы расстояния от границ двух соседних зон до точки наблюдения отличались на λ/2 (рис.2). В этом случае разность хода лучей, идущих от любых двух соответствующих точек соседних зон в точке наблюдения, равна λ/2, и они придут в эту точку в противофазе, т.е. ослабят друг друга.

Различают два вида дифракции:

1) дифракция сферических волн (Френеля);

2) дифракция плоских волн или параллельных лучей (Фраунгофера).

Рассмотрим дифракцию монохроматических параллельных лучей с длиной волны λ на узкой щели шириной b. (рис.3). Согласно принципу Гюйгенса, каждая точка щели становится источником вторичных волн, которые распространяются за щелью во всех направлениях. Линза Л собирает дифрагированные параллельные лучи в соответствующих точках экрана Э, расположенного в ее фокальной плоскости, но при этом не вносит дополнительной разности хода волн.

 

Рис. 3 Рис. 4

Найдем условие максимума и минимума дифракции с помощью метода зон Френеля. Разобьем щель АВ на зоны, имеющие вид полос, параллельных ребру щели, так, чтобы расстояние от двух соседских полос до точки наблюдения М различалось на λ/2. Результат интерференции определяется тем, сколько зон укладывается на ширине щели. При четном числе зон в точке наблюдения будет минимум дифракции, при нечетном – максимум.

Поэтому условия дифракционного минимума и максимума, соответственно будут иметь вид:

(1)

(2)

График распределения интенсивности света на экране представлен на рис. 4

Дифракционная картина усиливается, если перейти от одной щели ко многим. Это осуществляется в дифракционных решетках, состоящих из очень большого числа параллельных одинаковых и очень узких щелей, разделенных непрозрачными промежутками одинаковой ширины. Сумма ширины щели b и прозрачного промежутка a называется периодом дифракционной решетки:

(3)

При прохождении плоской волны света через решетку и дифракции от каждой щели прибавляется еще многолучевая интерференция когерентных дифрагированных пучков света, идущих от всех щелей.

В одном и том же направлении все щели излучают свет одинаково. Колебания от сходственных точек соседних щелей в точке М будут усиливать друг друга, если на их разности хода будет укладываться четное число полуволн или целое число волн. Таким образом условие

… (4)

определяет положение главныхмаксимумов дифракционной решетки. Число m дает порядок главного максимума.

Для направлений, удовлетворяющих условию минимума от одной щели, будут наблюдаться минимумы и при многих щелях, поскольку ни одна из них не посылает света в этих направлениях. Таким образом, условие

… (5)

является также условием главныхминимумов решетки. Если дифракционная решетка состоит из N щелей, то кроме главных минимумов, определяемых условием (5), в промежутках между соседними главными максимумами имеется по (N-1) дополнительному максимуму. Эти минимумы возникают в тех направлениях, для которых колебания от отдельных щелей взаимно погашают друг друга. Образование добавочных минимумов определяется условием

(6)

где P принимает все целочисленные значения, кроме 0,N,2N …, т.е. тех, при которых условие (6) переходит в (4).

Между дополнительными минимумами располагаются слабые вторичные максимумы. Число таких максимумов, находящихся в промежутке между соседними, главными максимумами равно (N-2).

При пропускании через решетку белого света все максимумы, кроме центрального разложатся в спектр, фиолетовый конец которого расположен к центру дифракционной картины, красный – наружу.

Дифракционные решетки являются главной частью дифракционных спектрометров – приборов, предназначенных для измерения длин волн электромагнитного излучения. Основными характеристиками спектрального прибора являются его дисперсия и разрешающая сила.

Дисперсия определяет угловое или линейное расстояние между двумя спектральными линиями, отличающимися по длине волны на единицу.

Угловая дисперсия

(7)

где dφ – угловое расстояние между спектральными линиями, отличающимися по длине волны на dλ.

Продифференцировав условие (4), получим

откуда

(8)

В пределах малых углов

(9)

Линейная дисперсия

(10)

где dl – линейное расстояние между спектральными линиями на экране, отличающимися по длине на dλ.

Линейная дисперсия может быть выражена через угловую дисперсию

где F – допустимое расстояние линзы, собирающей дифрагирующие лучи на экране (рис. 5). При малых углах

(11)

Разрешающая способность дифракционной решетки определяется величиной

(12)

Рис. 5

где δλ – минимальная разность длин волн двух спектральных линий, при которой они воспринимаются раздельно. Два близких максимума воспринимаются глазом раздельно в том случае, если интенсивность в промежутке между ними составляет не более 80% от интенсивности максимума. Согласно критерию Релея такое соотношение имеет место в том случае, если середина одного максимума совпадает с ближайшим минимумом другого. Положения середины m – го главного максимума для длины волны λ+δλ определяются условием

(13)

Края m -го максимума для длины волны λ, удовлетворяют соотношению

(14)

Решая систему этих уравнений относительно λ/δλ, получаем

(15)

Таким образом, разрешающая способность дифракционной решетки пропорциональна порядку спектра и числу щелей.

Рис. 6 Рис. 7

Методические указания к выполнению работы:

Задание 1. Наблюдение дифракционного спектра в белом свете.

Для выполнения данного упражнения используется оптическая скамья на которой установлены источники белого света, подвижный экран со щелью и дифракционная решетка. Дифракционный спектр рассматривается непосредственно на экране (рис. 8).

Рис. 8

Порядок выполнения

1. Включить источник света.

2. Установить экран от дифракционной решетки на расстоянии

15-20 см, чтобы на нем получалось четкое изображение центральной полосы и спектров первого и второго порядков.

3. Измерить ширину спектров первого и второго порядков.

4. Зарисовать полученные дифракционные спектры, обращая внимание на порядок следования цветов.

5. Сделать выводы.

 

Задание 2. Измерение длины монохроматического света лазера.

Установка состоит из лазерного источника света, дифракционной решетки с периодом dl=0,01 мм и экрана (рис. 9). На экране симметрично относительно нуля шкалы образуется ряд красных полос, представляющих дифракционные максимумы первого и второго порядков.

Рис. 9

 

Расчет длины волны ведется по формуле:

(16)

где m -порядок максимума.

Угол дифракции φ определяется из условия

(17)

где x- расстояния между левым и правым максимумами одного порядка, L -расстояние между дифракционной решеткой и экраном.

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2015-06-04; Просмотров: 417; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.037 сек.