Студопедия

КАТЕГОРИИ:



Мы поможем в написании ваших работ!

Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

Мы поможем в написании ваших работ!

Наиболее распространена оценка схемы по двум параметрам— задержке Т и аппаратурным затратам W





Значения ряда других важных параметров цифрового блока—потребляемой мощности, частоты отказов, стоимости — при заданной элементной базе и априорно невысокой точности оценок в первом приближении допустимо считать пропорциональными аппаратурным затратам.

В дальнейшем методика оценки качества схем иллюстрируется на примере именно этой пары параметров — Т и W.

 


При работе на микросхемах задержка Т схемы достаточно объективно оценивается значением среднего времени задержки распространения tзд.р.ср входящих в нее элементов. В рамках одной серии обычно целесообразно полагать, что задержки всех логических элементов россыпи — И-НЕ, И, И-ИЛИ-НЕ, М2 — одинаковы и равны некоторой усредненной для данной серии величине t.

Для серий К155 и К555, например, значение t можно принять равным 20 нc.Задержку более сложных микросхем средней интеграции, целесообразно округлять до значения, кратного целому t или его половине.

Аппаратурные затраты W функционального узла оценивают различными способами. Хорошие результаты дает оценка величины W площадью, занимаемой узлом на плате или кристалле. При использовании микросхем площадь платы при прочих равных условиях приблизительно пропорциональна числу корпусов. Размеры корпусов различны, поэтому их приходится приводить к какому-то единому, принятому за единицу. В качестве масштаба можно использовать отношение площадей корпусов или чисел их выводов. Можно оценивать величину W схемы и непосредственно суммарным числом выводов всех корпусов.

 

При оценке задержки схем, предназначенных для воплощения на кристалле матричной БИС, следует иметь в виду, что для целого ряда технологий задержка средней межэлементной связи на кристалле соизмерима с задержкой самого логического элемента. Поэтому действительное значение задержки схемы на кристалле становится известным лишь после размещения на нем элементов и трассировки связей. Это приводит к тому, что методика оценки задержки схемы суммированием задержек логических элементов дает при работе на кристалле заметно большую погрешность, чем та же методика при работе на отдельных микросхехмах.





Дата добавления: 2014-01-03; Просмотров: 200; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



ПОИСК ПО САЙТУ:


Рекомендуемые страницы:

Читайте также:
studopedia.su - Студопедия (2013 - 2021) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление
Генерация страницы за: 0.002 сек.