Обнаруживают ассиметрии относительно

Вместе с тем световые волны не

Направлению распространения волны.

Полей происходят перпендикулярно

И магнитного H

Которых колебания векторов напряженности электрического E

Поляризованного света

Естественный свет и различные типы

Поляризация света

Анализ).

Для изучения структуры кристаллов (рентгеноструктурный

Рентгеновского излучения (рентгеновская спектроскопия) и

Используется для исследования спектрального состава

Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов

Интенсивности дифрагированных лучей наблюдается под

Усиливали друг друга, разность хода должна быть кратна

Для того чтобы лучи, отраженные от соседних плоскостей

Отражается под таким же углом.

Ные плоскости. Пучок параллельных рентгеновских лучей

Рентгеновские лучи.

Видимый свет этому условию не удовлетворяет. Для

Для получения дифракционной картины необходимо,

Приводит к возникновению дифракционной картины.

Источниками вторичных волн, интерференция которых и

Электромагнитных волн через кристалл, атомы,

Использованы кристаллы, в которых атомы располагаются в

Таким образом, разрешающая сила дифракционной

Определяется выражением

Разрешающая сила характеризует свойства дифракцион-

Пропорциональна порядку спектра.

Из представленного выражения следует, что дисперсия

D dl F k,

Фокальной плоскости между этими линиями

d d

  (2.51)

где F – фокусное расстояние линзы, d – период дифракцион-

ной решётки, к – порядок максимума.

обратно пропорциональна периоду решётки и прямо

ной решётки разделять излучения близкие по длине волны и

R N





 , (2.52)

где d - минимальное различие в длине волны, которое может

быть обнаружено, N – число щелей дифракционной решётки.

решётки пропорциональна порядку спектра и числу щелей.

2.3.7. Дифракция на пространственной (объёмной) решётке

В качестве пространственных решёток могут быть

правильном порядке на определённом расстоянии (~ 1010 м)

друг от друга по трём координатным осям. При прохождении

расположенные в узлах кристаллической решётки, становятся

чтобы период структуры d был больше длины волны .

дифракции на пространственной решётке нужны

Проведем через узлы кристаллической решётки атом-

падает на кристалл под углом скольжения  (рис. 2.23) и

целому числу длин волн, т.е. . Следовательно максимум

углами , которые удовлетворяют условию:

2d sin  . (2.53)

Рис.2.23

Формула (2.53) была получена русским учёным Г.В.

Вульфом и английским учёным У.Л. Брэггом и называется

формулой Вульфа–Брэгга.

Свет – это поперечные электромагнитные волны, в





Дата добавления: 2014-01-05