КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ -757
Некоторые современные модели эллипсометров Многоугловой быстродействующий лазерный эллипсометр предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров. Эллипсометр создан на основе быстродействующей двухканальной статической схемы, в которой оптические параметры вычисляются по четырем электрическим сигналам одновременно считываемым с четырех фотоприемников. Время измерения ограничено только быстродействием приемно-усилительного тракта и оцифровкой сигналов. Высокая точность благодаря стабильному лазерному источнику света, термостабильному компенсатору и низкошумящим фотоприемникам. Предельно высокая скорость измерений, даваемая статической схемой измерений. Удобное изменение выбранного для условий измерений угла падения. Поддержкой многоугловых измерений для сложных, многослойных структур и толстых пленок. Спектральный эллипсометр "Эллипс-1891" Спектральный эллипсометр предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др.), в том числе анизотропных и жидких. В основу комплекса положена быстродействующая статическая схема эллипсометрических измерений. Алгоритмы считывания сигналов и расчета рабочих параметров обеспечивают очень высокую чувствительность, необходимую для проведения измерений с высоким спектральным разрешением. Использование новой измерительной схемы обеспечивает быстрое сканирование всего спектра или отдельных участков спектра с повышенным спектральным разрешением.
Технические характеристики Спектрального эллипсометра "Эллипс-1891"
Дата добавления: 2014-01-07; Просмотров: 1488; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |