КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Ограничения. Экзоэлектронный метод
Области применения Цели использования Экзоэлектронный метод Ограничения По технологичности – возможен контроль преимущественно плоских объектов толщиной до 8 – 10мм. По стали: необходимо высокое качество поверхности объекта; в ряде случаев значительно влияние химического состава и структуры материала; глубина зоны контроля ограничена поверхностным слоем толщиной 50 – 200 мкм. По расшифровке – при многокомпонентном анализе спектров требуется обработка данных на ЭВМ, необходима предварительная градировка для каждого типа контролируемого материала. По чувствительности – высокая чувствительность к некоторым примесям и их структурному состоянию; требуется использование аппаратуры с разрешением 200 – 300 ПС.
Регистрируют эмиссию электронов с поверхности объекта, подвергнутой износу, растрескиванию, деформации, окислению и другим воздействиям. В дефектных местах поверхности вероятность эмиссии повышается. Регистрация распределения интенсивности эмиссии по поверхности объекта обеспечивает выявление зон деформации и трещинообразованя.
Физические основы метода. Зондирующая среда – источниками экзоэлементов являются выделения энергии при локальном разогреве окисляемых участков металла, перестройка энергетических уровней при локализации дефектов в окисной пленке, разрывах окисной пленки, адсорбции газов на поверхности металла, воздействие ультрафиолетовым облучением. Характер сигнала или информативные характеристики – фиксируется запись аналогового сигнала, пропорционального эмиссии, при сканировании поверхности образца. Способ детектирования – детектирование экзоэлектронов осуществляется открытыми электронными умножителями, микроканальными пластинами, ионизационными камерами, фотопленкой. Способ индикации – электронно - лучевой, графический. Метод расшифровки – анализ электрограмм, наблюдение изображений на ЭЛТ. Выявление дефектов типа нарушения сплошности – обнаружение поверхностных трещин размером 0,1 – 1,0 мкм. Определение физико–механических свойств – усталость материалов, степень окисления поверхности, износ. Определение динамических характеристик – контроль зарождения и роста трещин.
Контролируемые материалы – металлы. Объекты контроля и технологические операции – износ подшипников, механическая обработка металлов. Диагностика – выявление зарождающихся дефектов в напряженных конструкциях. Примеры – подшипники, авиационная техника.
По технологичности – требуется плотный контакт системы детектирования электронов с поверхностью объекта или размещение объекта и этой системы в вакууме. По расшифровке – необходимо идентифицировать сигналы от окисных пленок и дефектов. Другие ограничения – существенно влияние загрязнений на поверхности объекта. По чувствительности – метод не чувствителен к внутренним дефектам объекта.
Дата добавления: 2014-12-10; Просмотров: 391; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |