КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Методические погрешности из-за плоскопараллельного смещения реальной оси вращения контролируемой поверхности
Причинами возникновения таких погрешностей при базировании детали в одной или двух призмах могут быть отклонения формы базовых поверхностей. Рассмотрим в качестве примера случай, когда у деталей типа 2 (с двумя наружными поверхностями, образующими составную базу) базовые поверхности имеют овальность, трехгранную огранку или огранку с большим числом граней с синфазно расположенными друг относительно друга поперечными сечениями (рис. 6.4). Вне зависимости от вида типовой модели объекта (с одной или с двумя базовыми поверхностями) при плоскопараллельном смещении реальной оси вращения контролируемой поверхности, возникающая по этой причине методическая составляющая погрешности измерения радиального биения будет равна значению максимального колебания оси в процессе вращения.
Как видно из схемы, для деталей типа 2 методическая составляющая погрешности измерений радиальных биений из-за погрешностей формы базовых поверхностей практически равна значению колебания центра (центров) сечений базовых поверхностей Δ = Е ц. (6.9) Поскольку для данного случая в соответствии с ранее принятыми допущениями Е ц ≤ 2Т баз,(6.10) то можно считать, что Δ ≤ 2Т баз,(6.11) где Т баз – допуск формы базовой поверхности. Следовательно, искомая составляющая погрешности измерения не превысит удвоенного допуска круглости или цилиндричности базовой поверхности (базовых поверхностей). Методическая составляющая погрешности измерения торцового биения практически будет равна нулю, поскольку смещение контролируемой номинально плоской поверхности параллельно линии измерения приведет только к переходу на другой радиус контролируемой поверхности. «Плавание» радиуса контрольного сечения не приведет к значимой методической составляющей погрешности измерения торцового биения, поскольку неплоскостность в пределах узкой кольцевой зоны торца будет меняться незначительно, а возможное дополнительное перемещение измерительного наконечника из-за неперпендикулярности торца базовой оси при малом изменении радиуса контрольного сечения будет пренебрежимо малым. Подобный анализ можно провести для иных причин возникновения методической составляющей погрешности, а также для контроля деталей других типов. При выполнении курсового проекта (работы) анализ причин должен быть исчерпывающим.
Дата добавления: 2015-07-02; Просмотров: 343; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |