Диаграмма регулирования размера

Рассмотрим схему регулирования размера на станке с подналадчиком (рис. 5.23).

При выходе размера контролируемой детали в зо­ну С подналадки датчик выдает сигнал, который через усилитель поступает в исполнительный механизм, сме­щающий бабку ведущего круга на заданную величину подналадочного импульса Z. Средний размер детали уменьшается на величину подналадочного импульса Z. Начинается новый цикл подналадки. В случае выхода размера детали за пределы поля допуска срабатывает второй контакт датчика: бракованная деталь направ­ляется в приемник брака, и станок останавливается.

Рис. 5.23. Схема регулирования размера на станке с подналадчиком;

1-1 - верхний предел поля допуска; 1'-1' - верхняя контрольная подналадочная граница; 2-2 - кривая усредненных погрешностей точечной диаграммы;

Z - заданная величина подналадочного импуль­са, представляющая собой

изменение функциональной усредненной погрешности процесса за период между двумя подналадками

Суммарная погрешность подналадочной системы определяется полем рассеивания размеров деталей, об­работанных на станке с подналадчиком. Функциональ­ная усредненная погрешность размеров приближенно выражается прямыми 2 - 2, случайные погрешности размеров - величиной в 6σ_мгн. Суммарная кривая яв­ляется композицией кривых Гаусса и равной вероят­ности. Величину подналадочного импульса Z можно считать некомпенсируемой функциональной погреш­ностью, то есть систематической составляющей погреш­ности под наладки.

Кроме того, погрешность подналадки включает так­же величину, зависящую от рассеивания точек (момен­тов) подачи команды на подналадку и определяемую интервалом между точкой е, где возникает вероятность появления подналадочного импульса, и точкой F, где эта вероятность равна 1. Величина у зависит от отноше­ния σ /а, где а - величина изменения усредненной функциональной погрешности на одну деталь. При небольших значениях а у =

Суммарная погрешность подналадочной системы, то есть рассеивание размеров при большом числе подналадок и небольших значениях а, V = Z + 6 σ_мгн + у + Δ_lim,

где Δ_lim - погрешность измерительного устройства.

При подналадке по одной детали оптимальной вели­чиной подналадочного импульса считают Z _onm = 0,25 + l,3a_max.

При небольшом числе подналадок и больших значе­ниях а суммарная погрешность системы

.

Суммарная расчетная погрешность подналадочной системы сравнивается с величиной допуска. Условием стабильной работы системы является выполнение нера­венства δ > V.

5.6.2. Классификация подналадочных систем

С точки зрения точности и принципа действия подналадочные системы можно классифицировать следую­щим образом.

1. Подналадка по одной детали.

В этом случае измерение детали с заданным до­пуском и осуществление подналадки станка при превы­шении контрольных границ может производиться:

а) независимо от величины превышения путем подачи одного подналадочного импульса;

б) пропорционально превышению путем подачи нескольких подналадочных импульсов.

2. Подналадка по медиане.

Здесь осуществляется непрерывное измерение или измерение выборочных проб и дифференцированный счет деталей, превышающих или не достигающих одной или обеих контрольных границ. Подналадка произво­дится в случае, если количество таких деталей превы­шает допустимое значение и осуществляется с постоянной или пропорциональной величиной подналадочного импульса.

3. Подналадка по среднему значению выборки.

Производится определение среднего значения выбо­рок, состоящих из последовательно сходящих со станка деталей или выборок, взятых через определенные про­межутки времени; подналадка станка осуществляется с постоянной или пропорциональной величиной поднала­дочного импульса.

4. Подналадка по среднему динамическому значе­нию.

Здесь производится непрерывное измерение и опре­деление среднего значения с помощью инерционного звена. Подналадка станка производится с постоянной или пропорциональной величиной подналадочного им­пульса в заданные промежутки времени.

5. Программированная подналадка станка.

Здесь в зависимости от предварительно установлен­ного количества деталей (обычно от 1 до 10) срабатывает счетчик и осуществляется подналадка станка, благодаря чему в значительной мере компенсируются погрешности изготовления деталей на нагретом станке. Регулирую­щему контуру остается в этом случае только отследить разность между фактическим и программируемым из­менением размеров

 

Рис. 5.24. Регулирование выборочных проб по медиане

Подналадка по медиане реализуется чаще всего, так как позволяет компен­сировать случайные погрешности с небольшими затра­тами. Подналадку можно осуществить в нескольких ва­риантах с постоянными и со скользящими выборочными пробелами.

Рассмотрим простейший вариант с одной контроль­ной границей и подналадкой в одном направлении (рис. 5.24). Детали И c размером d, превышающие контрольную границу R, в пределах каждой вы­борочной пробы с количеством деталей n автоматически подсчитываются, и подналадка осуществляется, если коли­чество деталей И превышает предварительно установленное предельное значение q: И > q > n/ 2 + 1.

Дата добавления: 2014-01-07