Диагностирование микроконтроллерных систем

Под диагностированием понимается процесс поиска и обнаружения в разра­ботанной и отлаженной системе ошибок, вызванных неисправностями в ап­паратном обеспечении.

Как уже отмечалось ранее, ненадежность программного обеспечения микро­контроллерных систем объясняется наличием в нем ошибок, внесенных на i гадии проектирования. При проведении отладки надежность программного обеспечения повышается.

Аппаратура микроконроллерных систем имеет иную зависимость частоты отказов от воемени (рис.).

Частота

Рис. Зависимость надежности аппаратуры микроконтроллерных систем от времени

Участок 1 графика характеризуется достаточно высокой частотой отказов, вызванных дефектами производства (некачес гвенное выполнение герметиза­ции корпусов интегральных схем, ненадежность внешних соединений и г п.). Период приработки длительностью около 100 часов, как правило, вызывает отказы в критичных элементах, которые успешно прошли стадию выбраков­ки на производстве. Участок 2 характеризуется относительно малой частотой отказов, вызванных естественным износом элементов. Протяженность участка определяется средним сроком службы изделия. Участок 3 графика характеризуется ростом частоты отказов. Электрические нагрузки на электронные элементы в течение срока службы увеличивают степень износа, а вместе с этим и вероятность отказа изделия. Электрические перегрузки ускоряют темпы износа элемента. Подверженность элемента виб­рациям в течение срока службы увеличивает вероятность появления отказов в соединениях.

На этапе эксплуатации микроконтроллерных систем для обеспечения воз­можности реализации ими целевой функции необходимо выявлять факты ошибок в их работе, определять место возникновения ошибки и ее причину и производить ликвидацию ошибки и, возможно, ее последствий. Часто повто­ряющиеся ошибки, вызванные недостаточно качественным проектированием системы, целесообразно устранять путем перепроектирования системы или ее отдельных узлов.

Дата добавления: 2014-12-10